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MEMS悬臂梁式芯片测试探卡

传感技术学报 2008年第3期21卷 420-423页

作者：汪飞李昕欣郭南翔封松林中国科学院上海微系统与信息技术研究所传感技术国家重点实验室上海200050

针对集成电路圆片级测试需要,利用MEMS技术设计制作了一种悬臂梁式芯片测试探卡。每个悬臂梁在设计时可以承受25mN的探测力,同时使探针针尖产生20μm以上的位移。通过独特的双面金属覆盖设计,电学测试信号可以成功地从位于硅悬臂梁下方... 详细信息

针对集成电路圆片级测试需要,利用MEMS技术设计制作了一种悬臂梁式芯片测试探卡。每个悬臂梁在设计时可以承受25mN的探测力,同时使探针针尖产生20μm以上的位移。通过独特的双面金属覆盖设计,电学测试信号可以成功地从位于硅悬臂梁下方的探针针尖,引到位于玻璃上层的封装焊盘,并进而与自动测试仪器连接。由于采用了二次台阶的结构设计,相邻探针之间可以实现金属自隔断。初步测试表明,探针针尖到引线的电阻值在0.8Ω以下,而相邻探针之间的绝缘电阻则高达500GΩ。硅悬臂梁的弹性系数为1126.8Nm-1,与设计值相吻合。

关键词：微机械探卡芯片测试悬臂梁接触电阻

芯片测试平台中的FPGA时序分析及芯片接口测试方法研究

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芯片测试平台中的FPGA时序分析及芯片接口测试方法研究

作者：鲍瑞华南理工大学

学位级别：硕士

芯片接口测试方法的研究和测试平台的建立是集成电路封装测试的重要组成部分，对芯片接口高效、全面、人性化的验证有重要意义。本文主要研究Altera现场可编程门阵列（FPGA）时序约束和时序分析方法及芯片接口测试方法。在芯片测试平... 详细信息

芯片接口测试方法的研究和测试平台的建立是集成电路封装测试的重要组成部分，对芯片接口高效、全面、人性化的验证有重要意义。本文主要研究Altera现场可编程门阵列（FPGA）时序约束和时序分析方法及芯片接口测试方法。在芯片测试平台中，接口时钟引脚均与FPGA的普通I/O引脚相连，但FPGA不能自动识别连接其普通I/O引脚的信号是否为时钟信号，导致经过FPGA的数据不能在FPGA内部正确采样，进而使得外部芯片不能正确采样。本文针对这一关键性问题，提出了千兆媒质无关接口（GMII）、源同步串行介质无关接口（S3MII）、简化千兆媒质无关接口（RGMII）的时序约束方法。时序分析结果和测试结果表明，特定时序约束方法能够保证FPGA正确采样数据，从而保证外部芯片工作正常，最终达到为芯片接口测试提供有效稳定平台的目标。在芯片测试平台稳定有效的基础上，搭建了测试组网，并针对接口结构和协议，提出了不同的接口测试方法，如接口时钟裕度测试方法、接口时钟应力测试方法、接口时序异常测试方法及接口控制信号测试方法。以太网发包器收发报文研究结果、测试软件显示的待测芯片收发报文分析结果及示波器显示的测试结果表明，这些接口验证方法的提出和研究提高了芯片验证的覆盖率和接口验证的效率，对芯片接口的验证有重要意义。

关键词：芯片测试接口 FPGA 时序约束时序分析

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推理小游戏——芯片测试

科技导报 2013年第25期31卷 95-95,89页

有2000块芯片，已知好芯片比坏芯片数量多，如何从其中找出1片好芯片？其中．好芯片和其它芯片比较时．能正确给出另1块芯片是好还是坏：坏芯片和其它芯片比较时．会随机给出好或坏。

关键词：芯片测试小游戏推理已知好芯片

基于稳态扫频的MEMS谐振压力传感器芯片测试

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微纳电子技术 2013年第4期50卷 224-228,254页

作者：李晓莹张艳飞任森邓进军苑伟政西北工业大学机电学院空天微纳系统教育部重点实验室西安710072

针对硅微谐振式压力传感器开环测试的需求,提出了一种基于稳态扫频的硅微谐振式压力传感器芯片测试方法,实现了高精度扫频激励信号电路与高分辨率检测电路的设计。此设计将单片机技术与直接数字频率合成技术的优点相结合,实现了范围为1 ... 详细信息

针对硅微谐振式压力传感器开环测试的需求,提出了一种基于稳态扫频的硅微谐振式压力传感器芯片测试方法,实现了高精度扫频激励信号电路与高分辨率检测电路的设计。此设计将单片机技术与直接数字频率合成技术的优点相结合,实现了范围为1 kHz～1 MHz精确扫频,其最小扫频步距为1 Hz。通过算法补偿有效减小了扫频激励信号的频率误差,使其平均绝对误差低于0.08 Hz。在幅值检测电路设计中,采用峰值检测电路与差分PulSAR ADC电路相结合,实现了传感器输出信号电压幅值的高分辨率检测,实测得到传感器幅频曲线,并对谐振器的谐振频率稳定性进行了测试,计算出了谐振器的机械品质因数和谐振频率等参数,为谐振器结构优化设计提供了依据。

关键词：微机电系统(MEMS) 谐振式压力传感器芯片测试直接数字合成扫频

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IC测试原理-芯片测试原理

半导体技术 2006年第7期31卷 512-514,519页

作者：许伟达科利登系统有限公司

1引言芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理；第二章讨论了怎么把这些基本原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；本文主要介绍混... 详细信息

1引言芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理；第二章讨论了怎么把这些基本原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上；本文主要介绍混合信号芯片的测试；接下来的第四章将会介绍射频／无线芯片的测试。

关键词：测试原理芯片测试 IC 生产过程芯片开发逻辑芯片原理应用混合信号无线芯片存储器

一种用于ASIC芯片测试的多接口CPU模型的VHDL设计

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电讯技术 2001年第5期41卷 13-17页

作者：程晓军葛宁冯重熙清华大学电子工程系北京100084

为了对具有不同CPU接口的VHDL语言实现的ASIC芯片进行仿真测试 ,降低芯片测试的复杂性及成本 ,本文设计了一个专门用于芯片测试的CPU模型。模型用VHDL语言实现 ,设计采用了分层次、模块化的设计思想。与现有的VHDL实现的CPU模型相比较 ... 详细信息

为了对具有不同CPU接口的VHDL语言实现的ASIC芯片进行仿真测试 ,降低芯片测试的复杂性及成本 ,本文设计了一个专门用于芯片测试的CPU模型。模型用VHDL语言实现 ,设计采用了分层次、模块化的设计思想。与现有的VHDL实现的CPU模型相比较 ,该模型具有结构简单、多接口、高效率、调试使用方便等特点。本文对此CPU模型的设计思想。

关键词：专用集成电路硬件描述语言芯片测试多接口CPU模型

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一种新型数字芯片测试仪的设计与实现

自动化仪表 2014年第11期35卷 60-63,67页

作者：李天义耿跃华富坤张梅芳河北工业大学计算机科学与软件学院中国人民解放军93642部队河北工业大学电气与自动化学院

针对传统数字芯片测试设备检测芯片固定、PC机软件不可扩展、测试电路复杂等问题,设计了一种新型数字芯片测试仪。仪器设计为上位机和下位机两部分,并着重突出了上位机的作用。对组成上位机的编译模块、数据管理模块、SQLite数据库、测... 详细信息

针对传统数字芯片测试设备检测芯片固定、PC机软件不可扩展、测试电路复杂等问题,设计了一种新型数字芯片测试仪。仪器设计为上位机和下位机两部分,并着重突出了上位机的作用。对组成上位机的编译模块、数据管理模块、SQLite数据库、测试模块和串口设置模块进行了研究,同时对以PL2303芯片为主的串口通信模块和以STC89C52为控制芯片的下位机电路进行了设计。系统能够准确地检测组合逻辑芯片、定位故障点,并能动态生成测试集、扩展可测组合逻辑芯片。

关键词：编译功能 SQLite数据库芯片测试测试集结果集故障检测