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自动测试设备
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自动化信息 2005年 第7期 17-18页
作者: 吴腾奇 华南华南师范大学物理系
0 前言 以前技术人员和工程师在工作台上测试产品,而周围则布满着乱作一团的电缆和导线,现在他们可以把产品连接自动测试设备ATE(AUTOMATIC TEST EQUIPMENT).只须按一下按钮,就可以坐下来喝咖啡等待结果。厂商生产的ATE有各种大小... 详细信息
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嵌入式通用自动测试设备总线驱动的设计与实现
嵌入式通用自动测试设备总线驱动的设计与实现
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作者: 徐宁泽 浙江理工大学
学位级别:硕士
“没有测量就没有科学”。自动测试系统(ATS)对于复杂机电系统的开发和质量保证具有重要的意义,作为自动测试系统的重要组成部分,模块化的通用测试平台成为测试仪器的重要发展方向。本文基于课题组自研的组合式新型自动测试硬件系统,... 详细信息
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自动测试设备无主从式多节点网络的设计
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科技通报 2022年 第6期38卷 55-59页
作者: 徐宁泽 李晓明 浙江理工大学机械与自动控制学院 杭州310018
为适应自动测试设备模块化、通用化、可扩展的发展趋势,提出了一种无主从式多节点网络设计方案。基于M-LVDS总线和CAN总线,充分利用其特性,实现的通讯方案具有无主从、实时性好、灵活扩展的特点。通过地址注册和各节点滤波器的配置,实... 详细信息
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自动测试设备的效率方程
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航空学报 1992年 第7期13卷 A444-A447页
作者: 高锡俊 周玉芬 空军工程学院4系 西安710038
效率是各项指标的综合度量。首先提出度量自动测试设备(ATE)效率的8项技术指标:故障检测率FDR、故障隔离率FIR、检测准确度FDA、测试时间t_d、故障检测概率P_d、故障漏报概率P_m、虚警概率P_f和故障分辨率δ。重点是建立ATE的效率方程,... 详细信息
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最小二乘向量机在自动测试设备计量参数稳定性评估中的应用
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吉林大学学报(工学版) 2011年 第2期41卷 393-397页
作者: 毛宏宇 杨红生 杨光 胡卓林 吉林大学仪器科学与电气工程学院 长春130026 航空仪器设备计量总站 北京100070
针对自动测试设备(ATE)计量参数的非线性时变,提出一种基于最小二乘支持向量机(LS-SVM)的计量参数稳定性评估方法。该方法将ATE的参数变化量建模为非线性时间序列。用径向基函数作为LS-SVM的核函数,建立计量参数非线性时变的预测模型。... 详细信息
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基于FPGA的自动测试设备信号延时误差测量
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电子与封装 2022年 第8期22卷 20-25页
作者: 季振凯 吴镇 无锡中微亿芯有限公司 江苏无锡214072
为满足集成电路自动测试设备(ATE)通道间信号同步的需求,基于FPGA提出了一种ATE激励信号传输延时误差的测量方法。该方法硬件结构简单,充分发挥了FPGA与ATE的特性。实验结果表明,该方法的测量结果与示波器测量结果误差在4%以内,能满足... 详细信息
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自动测试设备的成本及方案分析
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半导体技术 2001年 第9期26卷 69-72页
作者: Mark Underwood Jay Scolio Maxim集成产品公司
电子设备测试方法多种多样,从最简单的手工测试到最为复杂的大规模自动测试设备(ATE)。本文重点讨论一种具有较高性价比的中等规模测试方案。
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自动测试设备的战场抢修研究
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计算机测量与控制 2010年 第5期18卷 1092-1094,1135页
作者: 文莹 肖明清 程进军 高成金 空军工程大学自动测试系统实验室 陕西西安710038
作战武器装备的战场抢修是目前军事领域研究的重点,然而保障设备作为作战装备战场抢修的基础,其抢修性研究并没有受到重视,为此,开展了某型装备自动测试设备的战场抢修研究;首先,阐述了面向战场抢修的自动测试设备的设计思路、方法和步... 详细信息
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综合自动测试设备动态计量方法
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吉林大学学报(工学版) 2010年 第1期40卷 119-122页
作者: 毛宏宇 杨光 王文良 胡卓林 吉林大学仪器科学与电气工程学院 长春130026 航空仪器设备计量总站 北京100070
针对大型综合自动测试设备(IATE)的计量保障问题,提出一种动态计量方法。通过改进传统的系统辨识方法,设计计量系统的内部溯源链,建立了动态计量模型;开发了基于LabWindows/CVI和VC++混合编程的自动计量软件平台,实现了某型军用IATE的... 详细信息
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集成电路自动测试设备的维护与保养
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电子质量 2023年 第4期 95-98页
作者: 张巍巍 倪宋斌 杜晓冬 王鹏 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡214062
芯片测试作为集成电路的最后一道环节,在集成电路发展的链条中处于非常重要的位置。在整个芯片测试过程中,保证芯片测试的精确性、准确性和可靠性,准确定位筛选出具有缺陷的芯片显得格外重要。为了避免因自动测试设备造成芯片测试数据... 详细信息
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