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文献类型

  • 5 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 5 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 5 篇 工学
    • 3 篇 计算机科学与技术...
    • 2 篇 电子科学与技术（可...
    • 2 篇 控制科学与工程
    • 1 篇 软件工程

主题

  • 5 篇 自动测试矢量生成
  • 1 篇 测试生成算法
  • 1 篇 bison
  • 1 篇 多攻击线
  • 1 篇 edif
  • 1 篇 fan算法
  • 1 篇 可测性设计
  • 1 篇 内建自测试
  • 1 篇 静态功耗电流
  • 1 篇 功耗评估
  • 1 篇 flex
  • 1 篇 fpga
  • 1 篇 功耗权重
  • 1 篇 老化试验
  • 1 篇 边界扫描
  • 1 篇 可重构算子阵列
  • 1 篇 存储器测试
  • 1 篇 时延故障
  • 1 篇 网表编译
  • 1 篇 转换故障

机构

  • 2 篇 北京大学
  • 2 篇 桂林电子科技大学
  • 1 篇 华侨大学
  • 1 篇 西安电子科技大学

作者

  • 2 篇 颜学龙
  • 1 篇 林其伟
  • 1 篇 谢峥
  • 1 篇 王新安
  • 1 篇 雍珊珊
  • 1 篇 程作霖
  • 1 篇 崔小乐
  • 1 篇 周晓亮
  • 1 篇 曹颖
  • 1 篇 黄新
  • 1 篇 朱莉
  • 1 篇 梁晓琳
  • 1 篇 李崇仁
  • 1 篇 尚玉玲
  • 1 篇 杨轩

语言

  • 5 篇 中文
检索条件"主题词=自动测试矢量生成"
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逻辑电路动态老化试验的输入矢量选择方法
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计算机辅助设计与图形学学报 2015年 第1期27卷 184-191页
作者： 崔小乐 杨轩 程作霖 李崇仁 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 深圳518055
针对逻辑电路动态老化试验的输入矢量优化问题,提出一种用于实现被测芯片的自加热能力的输入矢量优化选择方法.该方法采用转换故障模型,利用ATPG手段生成备选的输入矢量集合;为提高功耗权重计算的精确性,对不同类型的门电路在不同输入... 详细信息
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多攻击线引起的串扰时延故障的TPG
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微电子学与计算机 2008年 第11期25卷 153-156页
作者： 颜学龙 梁晓琳 尚玉玲 桂林电子科技大学电子工程学院 广西桂林541004 西安电子科技大学电路CAD研究所 陕西西安710071
探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量.对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试.利用了FAN算法的多路回... 详细信息
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一种可重构算子阵列结构的功耗评估方法
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微电子学 2015年 第2期45卷 153-156,163页
作者： 雍珊珊 王新安 谢峥 曹颖 北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室 深圳518055
介绍了一种面向新型FPGA结构—可重构算子阵列的功耗评估方法。分析了可重构算子阵列结构的功耗构成,同现有的功耗评估方法进行对比,提出基于最大功耗的评估策略。可重构算子和互连单元采用自动测试矢量生成(ATPG)方法计算最大功耗,互... 详细信息
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基于电子设计交换格式的网表文件编译器的研究与实现
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计算机测量与控制 2013年 第10期21卷 2862-2864页
作者： 周晓亮 黄新 颜学龙 桂林电子科技大学电子工程与自动化学院 广西桂林541004
基于电子设计交换格式(Electronic Design Interchange Format)的网表文件编译器是边界扫描测试系统中自动测试矢量生成的基础,但目前该类编译器的开发报道很少,而且通用性和完备性方面存在不足;针对这些问题,设计了一款基于EDIF标准的... 详细信息
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超大规模集成电路测试技术
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中国测试技术 2006年 第6期32卷 117-120页
作者： 朱莉 林其伟 华侨大学信息学院物理电子学系 福建泉州362021
随着系统集成度与加工技术的飞速发展,超大规模集成电路测试已经成为一个越来越困难的问题。测试的理论与技术已经成为VLSI领域中的一个重要研究方向。本文较全面的介绍了各种VLSI测试方法,并分析了各自的特点。最后预计了VLSI测试技术... 详细信息
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