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学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程（可...
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 耐擦写能力测试
  • 1 篇 样本数
  • 1 篇 可靠性风险评估
  • 1 篇 非挥发性记忆体

机构

  • 1 篇 中芯国际集成电路...

作者

  • 1 篇 简维廷
  • 1 篇 张启华

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=耐擦写能力测试"
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耐擦写能力测试评估中的样本数选取方法
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半导体技术 2009年 第11期34卷 1114-1117页
作者： 简维廷 张启华 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 上海201203
介绍了非挥发性记忆体产品在进行耐擦写能力测试评估时如何合理地选取样本数的方法。在集成电路的可靠性测试中,样本数通常被理解为样品数,即芯片的颗数。对样本数进行了新的定义,将样本数定义为"芯片颗数×扇区数"。这种定义吻合产品... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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