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主题

  • 1 篇 辐射成像无损检测...
  • 1 篇 图像恢复
  • 1 篇 辐射源
  • 1 篇 几何尺寸
  • 1 篇 维纳滤波功率谱
  • 1 篇 模糊图像
  • 1 篇 冲击响应函数

机构

  • 1 篇 清华大学

作者

  • 1 篇 安继刚
  • 1 篇 周立业
  • 1 篇 顾伯华

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=维纳滤波功率谱"
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排序:
辐射成像无损检测技术中辐射源几何尺寸引起图像模糊的恢复
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核电子学与探测技术 2002年 第1期22卷 17-19页
作者: 顾伯华 周立业 安继刚 清华大学核能技术设计研究院 北京100084
对辐射成像无损检测系统中辐射源几何尺寸引起的图像模糊进行了分析 ,并测量了辐射源模糊的冲击响应函数。利用维纳滤波对模糊图像进行恢复。对其中的图像信号功率谱和噪声功率谱提出新的计算方法。
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论