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红绿彩瓷化妆土的线扫描分析

核技术 2008年第9期31卷 653-657页

作者：杨益民汪丽华朱剑王昌燧阎焰陈栋梁何伟黄宇营华巍徐伟中国科学院研究生院科技史与科技考古系北京100049 中国文物保护基金会那迦文物研究中心北京100007 中国科学院高能物理研究所北京100049

采用同步辐射X射线荧光分析方法(SRXRF),对宋金时期红绿彩瓷的断面进行线扫描分析,发现在釉和化妆土以及化妆土和胎的交界处,均存在明显的过渡层。不同元素在两个过渡层的变化规律不完全一致,与釉、化妆土及胎的原料密切相关,据此可判... 详细信息

采用同步辐射X射线荧光分析方法(SRXRF),对宋金时期红绿彩瓷的断面进行线扫描分析,发现在釉和化妆土以及化妆土和胎的交界处,均存在明显的过渡层。不同元素在两个过渡层的变化规律不完全一致,与釉、化妆土及胎的原料密切相关,据此可判断瓷器是否施加过化妆土。化妆土中Fe、Ti含量明显低于胎,有利于提高瓷釉的白度和质量。结合岩相分析发现化妆土中富含云母类矿物,这将加强白色反射效果。该类化妆土在已往的白瓷化妆土中均未见报道,值得进一步研究。

关键词： SRXRF 红绿彩瓷化妆土线扫描分析

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线扫描分析在溶蚀机理研究中的应用

中国岩溶 1994年第1期13卷 41-43,T002页

作者：韩宝平聂继红中国矿业大学

本文首次运用ｘ射线波谱仪与扫描电镜耦合技术，对碳酸盐岩天然风化样品和溶蚀试验后岩样进行了线扫描分析，定位地研究了化学成分和微观溶蚀形态的关系。尽管溶孔溶隙的发育和演化受岩石成分、矿物和岩石结构、渗流条件、岩石赋存环境... 详细信息

本文首次运用ｘ射线波谱仪与扫描电镜耦合技术，对碳酸盐岩天然风化样品和溶蚀试验后岩样进行了线扫描分析，定位地研究了化学成分和微观溶蚀形态的关系。尽管溶孔溶隙的发育和演化受岩石成分、矿物和岩石结构、渗流条件、岩石赋存环境等因素综合控制，但可溶质与非可溶质的配置关系仍然起着重要作用。

关键词：线扫描分析碳酸盐岩溶蚀机理

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汝瓷成分的线扫描分析

核技术 2002年第10期25卷 853-858页

作者：朱剑毛振伟杨益民冯敏王昌燧孙新民郭木森黄宇营何伟中国科学技术大学科技史与科技考古系合肥230026 河南省文物考古研究所郑州450000 中国科学院高能物理研究所北京100039

用SRXRF技术对汝瓷断面从釉到胎进行了十一种元素含量的线扫描分析 ,结果表明 :在汝瓷胎、釉之间的确存在一个元素含量与两者相差很大的中间层。我们认为这是汝瓷在烧制过程中 ,瓷釉在形成玻璃态的同时渗入了瓷胎表面而形成的 ,这个中... 详细信息

用SRXRF技术对汝瓷断面从釉到胎进行了十一种元素含量的线扫描分析 ,结果表明 :在汝瓷胎、釉之间的确存在一个元素含量与两者相差很大的中间层。我们认为这是汝瓷在烧制过程中 ,瓷釉在形成玻璃态的同时渗入了瓷胎表面而形成的 ,这个中间层在实体光学显微镜上能明显看出而在偏光显微镜和扫描电镜下看不到。此工作不仅有助于研究汝瓷的结构和烧造工艺。

关键词： SRXRF 汝瓷线扫描分析中间层考古陶瓷成分分析汝窑同步辐射X射线荧光分析

能量色散X射线探针技术对汝瓷成分的线扫描分析

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中国科学（B辑） 2003年第4期33卷 340-346页

作者：梁宝鎏毛振伟李德卉朱剑冯敏杨益民孙新民郭木森王昌燧港城市大学物理及材料科学系香港城市大学物理及材料科学系中国科学技术大学科技史与科技考古系合肥230026 河南省文物考古研究所郑州450000

用能量色散x射线探针技术对汝瓷残片的剖面从釉到胎进行了主要成分含量的线扫描分析，结果表明：在釉胎之间的确存在一个中间层，在这中间层各元素从釉的含量变化到胎的含量，而且这种变化是连续的，每个元素含量变化的起点与终点略有... 详细信息

用能量色散x射线探针技术对汝瓷残片的剖面从釉到胎进行了主要成分含量的线扫描分析，结果表明：在釉胎之间的确存在一个中间层，在这中间层各元素从釉的含量变化到胎的含量，而且这种变化是连续的，每个元素含量变化的起点与终点略有不同，变化曲线也不一样．这是在汝瓷烧制过程中，瓷釉在形成玻璃态的同时渗入了瓷胎表面而形成的，这与在实体光学显微镜上能明显看出而在偏光显微镜和扫描电子显微镜下看不到此中间层的情况相符合．

关键词：汝瓷化学成分线扫描分析能量色散X射线探针中间层烧成温度呈色机理古陶瓷

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金属显微组织的探针x射线线扫描分析

电子显微学报 1986年第3期 197-197页

作者：马永庆王亮大连海运学院金属材料工艺研究所

本文在总结了大量实验基础上,讨论了如何根据金属显微组织的特点及分析目的去正确地选择探针线扫描分析的操作条件,分析了在CRT上线扫描分布曲线与金属显微组织的浓度分布的对应关系,并讨论了实际应用。操作条件主要指加速电压、探针电... 详细信息

本文在总结了大量实验基础上,讨论了如何根据金属显微组织的特点及分析目的去正确地选择探针线扫描分析的操作条件,分析了在CRT上线扫描分布曲线与金属显微组织的浓度分布的对应关系,并讨论了实际应用。操作条件主要指加速电压、探针电流、放大器增益、脉冲高度分析器的阀电平和窗口值、以及计数率器量程。其中加速电压的选择已有现成的数据可供参考,本文没予讨论。

关键词：显微组织金相组织线扫描分析金属金属材料

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基于线扫描局部峰值分析的手机隔板砂粒检测

仪器仪表学报 2014年第3期35卷 642-649页

作者：张东波刘霞宋迪张莹湘潭大学信息工程学院湘潭411105 湘潭大学智能计算与信息处理教育部重点实验室湘潭411105

手机隔板在生产过程中经常出现划痕、砂粒残留、污渍等外观质量问题,从而影响手机装配及整体质量。利用砂粒呈现为圆点状局部峰值区域,具有全向对称结构特性以及灰度高斯分布特性,提出一种新颖的旋转线性扫描算子实现残留砂粒的特征分... 详细信息

手机隔板在生产过程中经常出现划痕、砂粒残留、污渍等外观质量问题,从而影响手机装配及整体质量。利用砂粒呈现为圆点状局部峰值区域,具有全向对称结构特性以及灰度高斯分布特性,提出一种新颖的旋转线性扫描算子实现残留砂粒的特征分析和检测,实验表明该方法优于传统的顶帽变换、高斯模板匹配和双环滤波方法,具有对比度变化鲁棒性,误检和漏检率低,具有良好的适应性和实用性。

关键词：线扫描分析手机隔板残留砂粒

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南宋低岭头越瓷的同步辐射X荧光线扫描分析

核技术 2004年第12期27卷 953-957页

作者：朱守梅毛振伟冯敏朱剑凌雪沈岳明黄宇营何伟中国科学技术大学科技考古联合重点实验室合肥230026 浙江省文物考古研究所杭州310014 中国科学院高能物理研究所北京100039

采用同步辐射X荧光(SRXRF)探针技术,对南宋低岭头越窑青瓷残片作线扫描分析,发现其胎釉之间存在明显的中间层,这与汝瓷相似。并与北宋汝瓷线扫描图进行了对比分析,发现两者之间存在着一些差异:中间层要比汝瓷的稍薄一些,元素在釉中的含... 详细信息

采用同步辐射X荧光(SRXRF)探针技术,对南宋低岭头越窑青瓷残片作线扫描分析,发现其胎釉之间存在明显的中间层,这与汝瓷相似。并与北宋汝瓷线扫描图进行了对比分析,发现两者之间存在着一些差异:中间层要比汝瓷的稍薄一些,元素在釉中的含量分布与汝瓷不一样,从釉表面到内含量的变化都有反复过程。这种差异可能是两者所用的胎料和烧瓷的窑不同而造成的。

关键词：同步辐射X荧光南宋低岭头越瓷线扫描分析中间层

Iolite软件处理LA-ICP-MS线扫描数据适用性研究

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岩矿测试 2017年第1期36卷 14-21页

作者：朱碧朱志勇吕苗杨涛河海大学地球科学与工程学院同位素水文所江苏南京210098 南京大学内生金属矿床成矿机制研究国家重点实验室江苏南京210046 中国科学院南京地质古生物研究所现代古生物学和地层学国家重点实验室江苏南京210008

LA-ICP-MS分析技术是获取矿物/岩石内部的元素和同位素成分变化的重要手段。在利用该技术对地质样品进行线/面扫描时,仪器输出的初始数据量远远大于点分析,数据的处理和计算是一个关键问题。本文以磷质结核样品为例,阐述了利用Iolite软... 详细信息

LA-ICP-MS分析技术是获取矿物/岩石内部的元素和同位素成分变化的重要手段。在利用该技术对地质样品进行线/面扫描时,仪器输出的初始数据量远远大于点分析,数据的处理和计算是一个关键问题。本文以磷质结核样品为例,阐述了利用Iolite软件进行元素线扫描数据计算的主要过程,包括背景信号的扣除、标准物质信号的拟合、线分析数据的导出等。借助软件自带的分段导出功能,对不同时间和空间分辨率下采集数据得到的结果进行了比较。研究表明Iolite能有效处理线分析数据,分析结果与前人用传统化学全岩法测定得到的元素含量范围相当。对比不同空间分辨率下(10μm、50μm、100μm)获取的数据发现:相对于选用的束斑直径(40μm),在分辨率过小(10μm)或过大(100μm)的条件下获得的数据存在数据波动大以及细节不足等缺陷;而当分辨率(50μm)与选用的束斑直径接近时,数据质量得到最大优化。本研究展示了Iolite软件在处理线扫描数据方面具有很好的应用前景,通过分辨率的选取可实现数据的优化。

关键词： LA-ICP-MS Iolite软件线扫描分析磷质结核空间分辨率

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邛崃窑彩绘瓷彩绘工艺的SRXRF研究

光谱学与光谱分析 2006年第8期26卷 1560-1563页

作者：栾天毛振伟王昌燧中国科学技术大学科技史与科技考古系安徽合肥230026

邛崃窑彩绘瓷的彩绘技法,是考古学家和陶瓷专家十分关心而又长期争论、至今未有定论的问题。文章采用SRXRF方法,对邛崃窑古瓷残片剖面进行了线扫描分析,着重探讨了彩料与瓷釉的相对关系,结果发现古代邛崃窑彩绘瓷器中既有釉上彩又有釉下... 详细信息

邛崃窑彩绘瓷的彩绘技法,是考古学家和陶瓷专家十分关心而又长期争论、至今未有定论的问题。文章采用SRXRF方法,对邛崃窑古瓷残片剖面进行了线扫描分析,着重探讨了彩料与瓷釉的相对关系,结果发现古代邛崃窑彩绘瓷器中既有釉上彩又有釉下彩,这对我国古代瓷器彩绘工艺的发展具有一定的参考价值。

关键词： SRXRF 邛崃窑线扫描分析彩的致色元素