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  • 4 篇 期刊文献
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  • 6 篇 电子文献
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  • 1 篇 理学

主题

  • 6 篇 穷举测试
  • 2 篇 组合征兆测试
  • 2 篇 奇偶测试
  • 2 篇 故障覆盖率
  • 2 篇 征兆测试
  • 1 篇 电脑控制
  • 1 篇 输入矢量
  • 1 篇 测试
  • 1 篇 测试集
  • 1 篇 移位寄存器
  • 1 篇 组合电路
  • 1 篇 接口电路
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  • 1 篇 计算机控制
  • 1 篇 自动测试设备
  • 1 篇 领域
  • 1 篇 可测性
  • 1 篇 生成
  • 1 篇 功能测试
  • 1 篇 特征分析器

机构

  • 2 篇 上海大学
  • 1 篇 哈尔滨船舶工程学...
  • 1 篇 西华大学

作者

  • 2 篇 顾苏赟
  • 2 篇 徐拾义
  • 1 篇 瞿于福
  • 1 篇 garyl.west h.tro...
  • 1 篇 郑光华
  • 1 篇 陈环

语言

  • 6 篇 中文
检索条件"主题词=穷举测试"
6 条 记 录,以下是1-10 订阅
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组合电路伪穷举测试的一种生成算法
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哈尔滨船舶工程学院学报 1989年 第2期10卷 205-216页
作者: 郑光华 哈尔滨船舶工程学院计算机与信息科学系
提出一种基于电路结构的伪穷举测试生成算法,通过对待测电路的逐步二块划分和对各个子电路的穷举测试,形成待测电路的伪穷举测试集.本算法从实际应用出发,基于电路结构进行选优划分,算法简单,运行速度快.通过这一算法,伪穷举测试能够实... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
结合奇偶测试的大规模集成电路征兆测试
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清华大学学报(自然科学版) 2011年 第S1期51卷 1499-1504页
作者: 顾苏赟 徐拾义 上海大学计算机工程与科学学院 上海200072
征兆测试是一种高效简捷的电路测试方法。该文提出一种适用于大规模集成电路的测试方法——组合征兆测试法。利用这种方法,测试者可以通过穷举输入组合,使奇偶测试和征兆测试相结合,共同解决对大规模集成电路故障测试的难题。主要思想是... 详细信息
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FPGA功能测试研究
FPGA功能测试研究
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作者: 陈环 西华大学
学位级别:硕士
现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)因其柔韧性、并行性等特点,在通信、消费电子等领域得到越来越广泛的应用。FPGA功能的稳定与可靠对于其应用至关重要。因此,本文对FPGA的功能测试进行了研究。本文根据FPGA内部... 详细信息
来源: 同方学位论文库 同方学位论文库 评论
数字集成电路测试系统的计算机控制
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机器人 1982年 第2期 50-52页
作者: GaryL.West ,H.TroyNagle ,JR. ,VictorP.Nelson ,徐吉万
本文描述了一台低成本数字IC测试设备,它是用Intel—8080微计算机系列来实现的。加到每只待测IC片上的测试码模式从存储在存储器中的表内查取,如果需要,还可有相应的时钟信号。然后检测集成电路的结果输出,看是否有因“粘贴”而引起的... 详细信息
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大规模集成电路征兆测试新方法
大规模集成电路征兆测试新方法
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第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)
作者: 顾苏贇 徐拾义 上海大学计算机工程与科学学院
征兆测试(Syndrome Testing)是一种高效简洁的电路测试方法。本文基于将奇偶测试和征兆测试相结合的思想,提出一种适用于大规模集成电路的新测试方法——组合征兆测试法。本方法的特点在于提高测试效率的同时也提高了征兆测试的可测性... 详细信息
来源: cnki会议 评论
逻辑设计的一个新领域—可测性设计
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军事通信技术 1987年 第3期 36-45页
作者: 瞿于福
本文介绍了可测性设计的基本概念。通过几种典型的设计技术,介绍了可测性设计的发展概况。
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