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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 光学工程

主题

  • 1 篇 真空度偏高故障率
  • 1 篇 密封环
  • 1 篇 压片压力

机构

  • 1 篇 金隆铜业有限公司

作者

  • 1 篇 陈晗雪

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=真空度偏高故障率"
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X荧光光谱仪真空度偏高故障率的原因与对策
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中国科技纵横 2024年 第4期 68-73页
作者： 陈晗雪 金隆铜业有限公司 安徽 铜陵 244000
利用统计方法对X荧光光谱仪故障的产生原因进行分析,探究造成X荧光光谱仪故障率的主要因素.通过逐层次分析得知,真空度偏高是真空系统故障的主要因素.对真空度偏高故障率的原因进行分析,从密封样品罐的麦拉膜更换、制样压片压力、过滤... 详细信息
来源： 博看期刊 评论
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