检索结果-南通市图书馆

微电子学 2006年第1期36卷 52-55页

作者：崔庆林蒋和全模拟集成电路国家重点实验室中国电子科技集团公司第二十四研究所重庆400060

高速A/D转换器是电子器件中比较特殊而又关键的器件。关于高速A/D转换器的动态参数测试方法比较多,文章主要讨论相干采样与加窗采样在高速A/D转换器参数测试中的应用,两种方法各自的优缺点,以及应用中应该注意的问题。

关键词： A/D转换器相干采样加窗采样频谱泄露

一种通用的时间数字转换器码密度校准信号产生方法及其实现

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电子与信息学报 2021年第8期43卷 2121-2127页

作者：李海涛李斌康田耕阮林波赵前吕宗璟强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室西安710024

该文提出一种通用的时间数字转换器(TDC)码密度校准信号产生方法,该方法基于相干采样理论,通过合理设置TDC主时钟和校准信号之间的频率差,结合输出信号保持电路,产生校准用的随机信号,在码密度校准过程中,随机信号均匀分布在TDC的延时... 详细信息

该文提出一种通用的时间数字转换器(TDC)码密度校准信号产生方法,该方法基于相干采样理论,通过合理设置TDC主时钟和校准信号之间的频率差,结合输出信号保持电路,产生校准用的随机信号,在码密度校准过程中,随机信号均匀分布在TDC的延时路径上,实现对TDC的bin-by-bin校准。基于Xilinx公司的28 nm工艺的Kintex-7现场可编程门阵列(FPGA)内部的进位链实现一种plain TDC,利用该方法校准plain TDC的码宽(抽头延迟时间),研究校准了2抽头方式下的TDC的性能参数,时间分辨率(对应TDC的最低有效位,Least Significant Bit,LSB)为24.9 ps,微分非线性为(–0.84~3.1)LSB,积分非线性为(–5.0~2.2)LSB。文中所述的校准方法采用时钟逻辑资源实现,多次测试考核结果表明,单个延时单元的标准差优于0.5 ps。该校准方法采用时钟逻辑资源代替组合逻辑资源,重复性、稳定性较好,实现了对plain TDC的高精度自动校准。该方法同样适用于其他类型的TDC的码密度校准。

关键词：时间数字转换器码密度校准相干采样 TDC主时钟校准信号

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几种利用ADC采样测量时钟抖动方法的比较

电子测量与仪器学报 2007年第2期21卷 70-76页

作者：吴义华杨俊峰邓美彩中国科学技术大学近代物理系快电子实验室合肥230026

研究了使用ADC采样测量时钟抖动的基本原理,在阐述了已经公开发表的利用ADC采样测量时钟抖动的"相干测量法"和"信噪比测量法"的基本思想之后,本文还给出了一种基于正弦信号四参数估计测量时钟抖动的"参数估计法",同时通过MATLAB仿真比... 详细信息

研究了使用ADC采样测量时钟抖动的基本原理,在阐述了已经公开发表的利用ADC采样测量时钟抖动的"相干测量法"和"信噪比测量法"的基本思想之后,本文还给出了一种基于正弦信号四参数估计测量时钟抖动的"参数估计法",同时通过MATLAB仿真比较了这几种方法的优劣。仿真结果表明,"参数估计法"在这几种方法中具有独特的优势。总的来说,利用ADC测量时钟抖动的大小和分布具有测量设备简单,测量方法简便、快捷,测量结果精度高等特点。

关键词：时钟抖动相干采样频率扫描幅度扫描四参数估计

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应用于高精度ADC频谱测试的改进加窗技术

电子测量与仪器学报 2020年第5期32卷 9-15页

作者：付江铎伍民顺班诚郭怡许江涛西安交通大学微电子学院西安710049

在进行模数据转换器(ADC)频谱测试时,通常需要满足相干采样条件。但这一要求的实现较为困难,测试时如果不满足就会发生频谱泄漏现象。为了抑制泄漏,目前最常用的方法是使用加窗技术。但该方法的使用要求较为严格,无法胜任目前高精度ADC... 详细信息

在进行模数据转换器(ADC)频谱测试时,通常需要满足相干采样条件。但这一要求的实现较为困难,测试时如果不满足就会发生频谱泄漏现象。为了抑制泄漏,目前最常用的方法是使用加窗技术。但该方法的使用要求较为严格,无法胜任目前高精度ADC的测试,且需要使用者十分熟悉窗函数原理。通过对频谱泄漏和加窗技术进行详尽的理论推导,提出了一种选定合适窗函数类型以及扩展系数(span)的方法,使测试者不需要过多的先验知识。通过所提方法,在窗函数的第一旁瓣高于噪声基底时,仍然能完成高精度ADC的测试工作,扩大了常见窗函数的应用范围。使得常见窗函数如汉宁窗等,也能应用于18位的高精度ADC测试工作。仿真结果显示所提算法在任意非相干程度下仍可得到准确的测试结果,各项参数的最大误差均小于1 dB。同时,使用了一款商用18位ADC实验结果验证了所提算法的可行性。

关键词：相干采样动态测试频谱泄露窗函数高精度ADC

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一种高速ADC频域特性评估新方法的研究

信息与控制 2009年第1期38卷 43-48,54页

作者：黄深喜樊晓平刘少强彭春华冯喜军中南大学信息科学与工程学院湖南长沙410075 威胜仪表集团长沙威胜信息技术有限公司湖南长沙410013

提出了一种高速模数转换器频域特性评估新方法,即采用非相干采样方式,在标准快速离散傅里叶变换的基础上增加加窗和插值措施,从而显著减少了频谱泄漏,提高了评估精度,最大限度地降低了评估系统构建难度和成本.采用实际高速模数转换器的... 详细信息

提出了一种高速模数转换器频域特性评估新方法,即采用非相干采样方式,在标准快速离散傅里叶变换的基础上增加加窗和插值措施,从而显著减少了频谱泄漏,提高了评估精度,最大限度地降低了评估系统构建难度和成本.采用实际高速模数转换器的行为级动态模型和计算机仿真验证了所提方法的有效性.

关键词：高速模数转换器加窗和插值FFT 相干采样非相干采样

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高速ADC频域特性测试系统的设计

计算机工程 2009年第9期35卷 277-279页

作者：黄深喜樊晓平刘少强彭春华杨胜跃中南大学信息科学与工程学院长沙410075 威胜仪表集团长沙威胜信息技术有限公司长沙410013

针对传统专用高速模数转换器频域特性测试系统构建难度大、成本高的问题,利用基于加窗和插值FFT算法的测试方法,提出一种低成本高速ADC频域特性测试系统,给出ADC采样时钟驱动电路、ADC输入信号驱动电路、FIFO缓存电路及USB接口电路的关... 详细信息

针对传统专用高速模数转换器频域特性测试系统构建难度大、成本高的问题,利用基于加窗和插值FFT算法的测试方法,提出一种低成本高速ADC频域特性测试系统,给出ADC采样时钟驱动电路、ADC输入信号驱动电路、FIFO缓存电路及USB接口电路的关键设计技术。

关键词：高速模数转换器加窗和插值FFT 相干采样非相干采样

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FFT方法在ADC有效位测试中的应用探讨

电测与仪表 2013年第10期50卷 14-17,83页

作者：李海涛阮林波田耕田晓霞渠红光西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室西安710024

介绍了ADC的性能参数和有效位(ENOB)的计算公式,在分析了ADC的性能参数测试方法后,给出ADC的ENOB测试解决方案。对FFT方法在ADC的ENOB测试中的应用做了深入探讨,对频谱泄露现象给出了包括相干采样和加窗函数等在内的解决方案。采用一种... 详细信息

介绍了ADC的性能参数和有效位(ENOB)的计算公式,在分析了ADC的性能参数测试方法后,给出ADC的ENOB测试解决方案。对FFT方法在ADC的ENOB测试中的应用做了深入探讨,对频谱泄露现象给出了包括相干采样和加窗函数等在内的解决方案。采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行ENOB测试,得到ADS5400在400 MSps采样率情况下的有效位ENOB=9.12 Bits(f in=1.123MHz)。

关键词： ADC性能参数 FFT 频谱泄露相干采样窗函数有效位

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高速A/D转换器动态参数的计算机辅助测试

微电子学 2004年第5期34卷 505-509页

作者：崔庆林蒋和全模拟集成电路国家重点实验室中国电子科技集团公司第二十四研究所重庆400060

　模拟/数字转换器是电子器件中比较特殊和关键的器件。随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试A/D转换器的动态参数是当今高速A/D转换器测试研究的重点。文章以逻辑分析仪和Matlab软件为基础,运用相干采样技术,针对10位40MSP... 详细信息

　模拟/数字转换器是电子器件中比较特殊和关键的器件。随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试A/D转换器的动态参数是当今高速A/D转换器测试研究的重点。文章以逻辑分析仪和Matlab软件为基础,运用相干采样技术,针对10位40MSPSA/D转换器动态参数的测试和基波图形恢复算法进行了深入研究。给出了研究结果,指出了测试中有待完善的地方。

关键词： A/D转换器动态参数测试相干采样锁相同步

基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法

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微电子学与计算机 2015年第11期32卷 137-141页

作者：彭智聪陈岚冯燕柳臻朝中国科学院微电子研究所北京100029

针对模拟混合信号ADC的内建自测试,研究了基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法,着重对该方法软件部分的实现进行了阐述.通过设计Sigma-Delta调制器,并对输出的比特流特性进行分析,提出了满足信噪比要求的最短比特流长度选择... 详细信息

针对模拟混合信号ADC的内建自测试,研究了基于Sigma-Delta调制技术的片内正弦激励生成方法,着重对该方法软件部分的实现进行了阐述.通过设计Sigma-Delta调制器,并对输出的比特流特性进行分析,提出了满足信噪比要求的最短比特流长度选择方法,以及在该长度下的比特流序列优化方法.以12位待测ADC为例,采用该方法生成了最优比特流序列,满足了信噪比的设计要求,验证了方法的可行性.

关键词：内建自测试正弦激励生成比特流 Sigma-Detla调制相干采样

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模数转换器的测试研究

模数转换器的测试研究

作者：吴俊生辽宁大学

学位级别：硕士

高速A/D被广泛应用于无线通讯、制动控制、自动检测等领域。如何准确评估高速A/D的性能受到高度关注。要准确测试高速A\D对测试环境和硬件要求很严格。传统的测试理论和测试方法难以胜任,测试开销急剧增加。在模拟及混合信号电路领域,... 详细信息

高速A/D被广泛应用于无线通讯、制动控制、自动检测等领域。如何准确评估高速A/D的性能受到高度关注。要准确测试高速A\D对测试环境和硬件要求很严格。传统的测试理论和测试方法难以胜任,测试开销急剧增加。在模拟及混合信号电路领域,由于电路形式及处理信号的独特性,测试理论相对落后,测试难度更大。尤其是当前,SOC系统设计和深亚微米工艺都带来了新的问题,测试正逐渐成为设计的瓶颈,测试工程师要花更多的精力到如何降低测试成本上。论文运用码密度直方图分析方法和FFT频谱分析方法来测试高速A\D性能,并基于泰瑞达公司的大型自动测试系统(J750)实现了高速AD7891的参数测试。由于评估高速A/D的参数很多,论文分析了失调误差、增益误差、失码、差分非线性(DNL)、积分非线性、信噪比(SNR)、总波失真(THD)、无杂散动态范围(SFDR)等参数的测试。论文对下面几个方面做了有益的探索:第一,基于ATE的A\D测试的硬件、软件的构架,ATE各个模块的作用;第二,相干采样的基础理论及相干采样在ATE上的实现方式;第三,利用斜坡、码密度直方图对A\D进行静态测试及测试过程中的测试方法;第四,利用FFT方法对信号的频谱分析。动态测试的关键是所采集信号的完整性,相干采样由于实现了对输入信号的整周期采样,从而保证了采集信号的完整性,A/D测试必须满足相干采样的条件。随着A/D采样速度、分辨率的提高,相干采样的条件很难满足,这对测试系统硬件和软件要求很苛刻。所以测试技术的提高往往需要测试系统性能的提高。论文详细介绍了测试A/D的测试理论、测试方法和基于测试机(ATE)A/D的测试实现。文章最后给出了测试结果

关键词：高速AD ATE 离散傅里叶变换 FFT 混合信号测试相干采样