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检索条件"主题词=界面粗糙度"
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界面粗糙度对真空紫外光学薄膜光谱性能影响研究
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半导体光电 2023年 第2期44卷 228-233页
作者: 黄凯 郭春 孔明东 中国科学院光电技术研究所 成都610209 中国科学院大学光电工程学院 北京100049
设计了193 nm窄角和宽角入射增透膜以及正入射高反膜,其中增透膜s和p偏振光透射率的最大偏差分别为0.17%和0.44%。结合标量散射理论和等效吸收层近似理论,多层膜间的粗糙界面等效为薄的吸收层,基于薄膜本征传输矩阵计算分析了不同... 详细信息
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界面粗糙度对Co/Cu/Co/NiO自旋阀磁电阻的影响
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核技术 2004年 第7期27卷 485-488页
作者: 张爱梅 吴小山 孙亮 蔡宏灵 杜军 胡安 蒋树声 谭伟石 黄军平 罗广圣 陈中军 陈兴 孙民华 吴忠华 南京大学固体微结构物理国家重点实验室 微结构物理高等科学技术中心南京大学物理系南京210093 南京理工大学理学院应用物理系 南京210094 南昌大学材料科学与工程学院 南昌330047 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室 北京100039
用磁控溅射方法制备了一系列含NiO反铁磁层的Co/Cu/Co自旋阀结构。电磁输运测量表明,对相同Co/Cu/Co结构的自旋阀,NiO在自旋阀的顶部(TSV)和在自旋阀的底部(BSV)表现了不同的磁电阻值和热稳定特性。X射线镜面反射和横向漫散射测量证明... 详细信息
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界面粗糙度对地质聚合物砂浆修复结构粘结性能的影响
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市政技术 2023年 第4期41卷 178-182,215页
作者: 陈岳军 李政阳 罗正东 岳阳市交通运输综合行政执法支队 湖南岳阳414022 湘潭大学土木工程学院 湖南湘潭411105
地质聚合物是一种低碳环保型的绿色胶凝材料,具有良好的力学性能以及耐腐蚀性能,其潜在的应用前景之一是替代水泥制作既有混凝土结构的修复加固砂浆。基于此,首先对地质聚合物砂浆抗压强进行了测试,然后研究了界面粗糙度对地质聚合物... 详细信息
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不同界面粗糙度混凝土—花岗岩组合体的压缩力学性能及峰前裂纹演化模型研究
不同界面粗糙度混凝土—花岗岩组合体的压缩力学性能及峰前裂纹演...
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作者: 汪铁楠 长安大学
学位级别:硕士
岩土工程中大量存在混凝土-岩石组合体,如隧道围岩衬砌,矿井顶板支护,地下人工仓储设施等等。界面效应是岩石类组合体的特有性质。研究表明,增大界面粗糙度可以提高组合体的抗剪能力。但目前少有学者分析界面粗糙度对组合体压缩力学性... 详细信息
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界面粗糙度对土体龟裂影响的试验研究
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工程地质学报 2017年 第5期25卷 1314-1321页
作者: 刘昌黎 唐朝生 李昊达 孙凯强 施斌 南京大学地球科学与工程学院 南京210023
土体在蒸发干燥的过程中会产生龟裂现象,从而极大地改变其工程性质,引发各种工程地质灾害。为了研究界面粗糙度对土体龟裂的影响,设计了两组龟裂试验,分别在试样容器底部涂抹凡士林(S1)和粘贴砂纸(S2)来改变试样与容器界面粗糙度。试... 详细信息
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Mo/Si软X射线多层膜的界面粗糙度研究
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强激光与粒子束 2007年 第5期19卷 763-766页
作者: 秦俊岭 邵建达 易葵 周洪军 霍同林 范正修 中国科学院上海光学精密机械研究所 中国科学技术大学国家同步辐射实验室 合肥230029
用磁控溅射法分别制备了以Mo膜层和Si膜层为顶层的Mo/Si多层膜系列,利用小角X射线衍射确定了各多层膜的周期厚。以不同周期数的Mo/Si多层膜的新鲜表面近似等同于同一多层膜的内界面,通过原子力显微镜研究了多层膜界面粗糙度随膜层数... 详细信息
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织构和界面粗糙度对NiFe/FeMn双层膜交换偏置场的影响
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功能材料 2002年 第2期33卷 160-161,168页
作者: 李明华 于广华 朱逢吾 姜宏伟 赖武彦 北京科技大学材料物理系 北京100083 中国科学院物理研究所 北京100080
采用磁控溅射方法制备NiFe/FeMn双层膜 (分别以Ta、Cu作为缓冲层 ,Ta作为保护层 )。实验发现 ,以Ta为缓冲层的NiFe/FeMn双层膜的交换偏置场比以Cu为缓冲层的NiFe/FeMn双层膜的交换偏置场大 ,而矫顽力却很小。我们从织构、界面粗糙度两... 详细信息
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界面粗糙度对双层热障涂层残余应力影响的数值模拟
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热加工工艺 2007年 第7期36卷 82-85页
作者: 侯平均 王汉功 查柏林 袁晓静 第二炮兵工程学院 陕西西安710025
运用ANSYS有限元分析软件模拟了双层热障涂层(ZrO2/NiCrAlY)在制备过程中的温场,在此基础上,进行热-应力耦合计算分析试样的残余应力,重点计算了不同基体表面粗糙度条件下的残余应力分布。结果表明:试样的温分布呈不均匀变化,与实... 详细信息
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多层介质薄膜膜层间界面粗糙度及光散射
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红外与激光工程 2009年 第3期38卷 433-436页
作者: 潘永强 吴振森 杭凌侠 穆亚勇 西安工业大学光电工程学院 陕西西安710032 西安电子科技大学理学院 陕西西安710071
利用泰勒霍普森相关相干表面轮廓粗糙度仪(Talysurf CCI)分别对基底和采用电子束热蒸发技术沉积的15层二氧化钛(TiO2)和二氧化硅(SiO2)为膜料的介质高反膜的膜层间的界面粗糙度进行了研究,并对不同工艺下沉积的薄膜界面粗糙度以及不同... 详细信息
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界面粗糙度对硅通孔结构界面分层的影响
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半导体技术 2019年 第8期44卷 641-646页
作者: 李阳 张立文 李智 河南科技大学电气工程学院
硅通孔(TSV)结构是三维互连封装的核心,针对其热可靠性问题,基于ANSYS有限元分析软件分别构建光滑和粗糙两种界面形貌的TSV结构分析模型,模拟计算了两种界面下TSV结构的热应力和界面分层裂纹尖端能量释放率,通过对比分析研究了界面粗糙... 详细信息
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