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文献类型

  • 2 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 2 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 2 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程(可...
    • 1 篇 电子科学与技术(可...
    • 1 篇 核科学与技术

主题

  • 2 篇 电阻率不均匀性
  • 1 篇 低温外延
  • 1 篇 无hcl抛光
  • 1 篇 超高阻
  • 1 篇 数字化方法
  • 1 篇 硅探测器
  • 1 篇 能量阈值
  • 1 篇 沟道效应
  • 1 篇 脉冲形状甄别
  • 1 篇 多次本征工艺
  • 1 篇 硅外延片
  • 1 篇 上升时间

机构

  • 1 篇 北京大学
  • 1 篇 河北省硅基外延材...
  • 1 篇 河北普兴电子科技...

作者

  • 1 篇 蒋伟
  • 1 篇 华辉
  • 1 篇 陶龙春
  • 1 篇 牛晨阳
  • 1 篇 刘强
  • 1 篇 米姣
  • 1 篇 薛宏伟
  • 1 篇 江栋兴
  • 1 篇 张志勤
  • 1 篇 王刚
  • 1 篇 吴鸿毅
  • 1 篇 田正阳
  • 1 篇 孙晓慧
  • 1 篇 陈志强
  • 1 篇 李晶
  • 1 篇 楼建玲
  • 1 篇 臧宏亮
  • 1 篇 冯骏
  • 1 篇 李湘庆
  • 1 篇 叶沿林

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=电阻率不均匀性"
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硅探测器的数字化脉冲形状甄别
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原子核物理评论 2017年 第2期34卷 177-183页
作者: 李朋杰 李智焕 陈志强 吴鸿毅 田正阳 蒋伟 李晶 冯骏 臧宏亮 刘强 牛晨阳 杨彪 陶龙春 张允 孙晓慧 王翔 刘洋 李奇特 楼建玲 李湘庆 华辉 江栋兴 叶沿林 北京大学物理学院核物理与核技术国家重点实验室 北京100871
介绍了利用硅探测器的脉冲形状甄别进行粒子鉴别的原理。详细叙述了基于数字化方法的脉冲形状甄别的实现。采样频和位数是数字化方法的两个重要参数。对于硅探测器信号,采用100 MS/s,12 bit的Digitizer可以满足脉冲形状甄别法对时间... 详细信息
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重掺As衬底上超高阻薄层硅外延片的制备
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半导体技术 2020年 第3期45卷 200-205页
作者: 薛宏伟 米姣 袁肇耿 王刚 张志勤 河北普兴电子科技股份有限公司 石家庄050200 河北省硅基外延材料工程技术研究中心 石家庄050200
超高阻薄层硅外延片可用于制备光电探测器的二极管、瞬态电压抑制二极管等分立器件。利用E200型单片外延炉在直径为150 mm的重掺As硅单晶衬底上制备了参数可控且均匀性高的外延层。采用多次本征生长技术,在重掺As硅衬底边缘形成掺杂原... 详细信息
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