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  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 负偏置温度不稳定...
  • 1 篇 双权值
  • 1 篇 电路时序违规
  • 1 篇 关键门
  • 1 篇 非门替换

机构

  • 1 篇 合肥工业大学

作者

  • 1 篇 易茂祥
  • 1 篇 梁华国
  • 1 篇 刘小红
  • 1 篇 张姚
  • 1 篇 朱炯
  • 1 篇 胡林聪

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=电路时序违规"
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应用基于双权值的门替换方法缓解电路老化
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应用科学学报 2017年 第2期35卷 171-180页
作者： 朱炯 易茂祥 张姚 胡林聪 刘小红 梁华国 合肥工业大学电子科学与应用物理学院 合肥230009
在纳米工艺水平下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)成为影响集成电路可靠性的关键性因素.NBTI效应导致晶体管阈值电压增加,老化加剧,最终使电路时序违规.为了缓解电路的NBTI效应,定义了时延关键性权值... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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