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火星电离层电子浓度昼夜变化特性研究

地球物理学报 2018年第8期61卷 3113-3123页

作者：张学习雷久侯万卫星钟嘉豪中国科学技术大学地球和空间科学学院合肥230026 中国科学院地质与地球物理研究所北京100029

本文利用MAVEN卫星Langmuir Probe and Waves(LPW)仪器的在轨电子浓度探测数据,研究了火星电离层电子浓度随太阳天顶角(Solar Zenith Angle,SZA)的变化以及昼夜电子浓度变化的异同.基于2014年至2017年期间MAVEN的电子浓度数据,我们发现:... 详细信息

本文利用MAVEN卫星Langmuir Probe and Waves(LPW)仪器的在轨电子浓度探测数据,研究了火星电离层电子浓度随太阳天顶角(Solar Zenith Angle,SZA)的变化以及昼夜电子浓度变化的异同.基于2014年至2017年期间MAVEN的电子浓度数据,我们发现:在200km以下,白天电离层电子浓度主要受光化学平衡控制,由于白天光电离过程使得昼夜电子浓度差异较大,此时电离层昼夜传输能影响到的最大范围约在SZA=110°;而在200km以上,白天电离层受输运过程控制,此时昼夜电子浓度差别较小,电离层昼夜间电子浓度变化较为缓慢.通过研究MAVEN在deep-dip(低高度深入探测)期间的电子浓度数据,我们发现火星磁场会显著影响夜间200km以下的电子浓度分布结构,强磁场中闭合磁力线对电子沉降过程的阻碍作用使得在夜间该区域的电子浓度小于相邻区域.同时,通过比较deep-dip期间昼夜电子浓度随高度的变化,发现夜间电子沉降作用的影响可能主要集中在160km以下.

关键词：火星 MAVEN 电离层电子浓度太阳天顶角昼夜

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Al基三元准晶相图的电子浓度特征

材料研究学报 2002年第5期16卷 500-506页

作者：羌建兵王英敏陈伟荣董闯大连理工大学

准晶是一种电子型金属间化合物,其形成及结构稳定性主要由电子浓度因素控制. 三元准晶相图的电子浓度特征表明,三元准晶与其晶体学类似相一起位于一等电子浓度线附近,称为准晶等电子浓度线现象. 同时,三元准晶与二元准晶的存在密切联系... 详细信息

准晶是一种电子型金属间化合物,其形成及结构稳定性主要由电子浓度因素控制. 三元准晶相图的电子浓度特征表明,三元准晶与其晶体学类似相一起位于一等电子浓度线附近,称为准晶等电子浓度线现象. 同时,三元准晶与二元准晶的存在密切联系,它们同第三组元一起落在同一变电子浓度线上,称为准晶变电子浓度线现象.三元准晶的理想成分位于准晶等电子浓度线和准晶变电子浓度线的交点上据此特征,区分了两种类型的 Al-Ni-Fe三元十次准晶,它们的典型成分分别为:D-Al72.5Fe14.5Ni13（Al-Fe型）和D＇-Al70.5Fe12Ni17.5（Al-Ni型）.

关键词：三元准晶相图电子浓度铝基合金

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高频地波雷达垂直向电离层电子浓度估计方法

电波科学学报 2016年第2期31卷 291-296,381页

作者：杨旭光于长军刘爱军权太范哈尔滨工业大学电子与信息工程学院哈尔滨150001 哈尔滨工程大学理学院哈尔滨150001 哈尔滨工业大学(威海)信息与电气工程学院威海264209

高频地波雷达工作时,往往同时接收到大量的电离层反射回波,这些电离层杂波会对目标检测造成严重影响,因此,电离层杂波抑制是当前高频地波雷达领域的研究热点.文章将电离层回波视为可用信源,从中反演出垂直方向电离层对应的电子浓度与等... 详细信息

高频地波雷达工作时,往往同时接收到大量的电离层反射回波,这些电离层杂波会对目标检测造成严重影响,因此,电离层杂波抑制是当前高频地波雷达领域的研究热点.文章将电离层回波视为可用信源,从中反演出垂直方向电离层对应的电子浓度与等离子体频率.对R-D(Range-Doppler)谱图进行预处理,获取垂直方向的电离层回波谱,建立其回波功率与电离层雷达散射截面积之间的数学模型,进而得到对应的电子浓度.在高频地波雷达站进行了实验,并将反演结果与IRI-2012进行对比,验证了该方法的可行性和有效性.

关键词：高频地波雷达电离层垂直探测电子浓度相关特性

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电子浓度具有水平梯度时电波路径的方程

电波科学学报 1996年第A期11卷 123-126页

作者：许昌如

电离层电子浓度具有水平梯度时，可以通过坐标变换，求得曲线的微分方程，而特殊条件下的Ｓｎｅｌｌ定律可以从本微分方程导出，引进小参数λ后可以求解此微分方程。并讨论了λ取各种特殊值的情况，根据各种实际问题定出λ的数值后即可... 详细信息

电离层电子浓度具有水平梯度时，可以通过坐标变换，求得曲线的微分方程，而特殊条件下的Ｓｎｅｌｌ定律可以从本微分方程导出，引进小参数λ后可以求解此微分方程。并讨论了λ取各种特殊值的情况，根据各种实际问题定出λ的数值后即可确定电波路径。

关键词：电离层电子浓度电波传播

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等离子体层顶附近的电子浓度分布

地球物理学报 1985年第4期28卷 337-347页

作者：宋笑亭朱岗崑 B.Higel R.Gendrin 中国科学院地球物理研究所法国国家电讯科学研究中心(国家科学研究中心)地球及行星环境物理研究中心

本文处理了GEOS-2号卫星RS探测器所测得的磁层冷等离子体电子浓度资料,给出了电子浓度小时平均值的日变化,并分析了其月均值及年均值特征。发现在平均值的日变曲线中,电子浓度的极大值出现在1600LT,表明等离子体层突起的位置处于下午扇... 详细信息

本文处理了GEOS-2号卫星RS探测器所测得的磁层冷等离子体电子浓度资料,给出了电子浓度小时平均值的日变化,并分析了其月均值及年均值特征。发现在平均值的日变曲线中,电子浓度的极大值出现在1600LT,表明等离子体层突起的位置处于下午扇区。这一事实有利于磁层大尺度对流电场并不总是晨—昏指向这一观点。文中对电子浓度小时平均值的年均值日变曲线进行了拟合,给出了近似表达式,并计算了同步轨道上的积分电子浓度,其量级为10;cm;。通过月均值和积分浓度的分析,发现同步轨道上的电子浓度存在季节变化。

关键词：等离子体层顶滞点同步轨道磁层卫星轨道电子密度电子浓度对流电场分布(力学) 浓度分布

高能粒子辐照对InGaN材料电子浓度和光致发光的影响

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材料导报 2010年第S2期24卷 376-380页

作者：董少光佛山科学技术学院光电子与物理学系

研究了高能粒子辐照对InGaN材料的电子浓度变化和PL光谱强度在不同温度下变化的影响。高能粒子辐照使InGaN材料的电子浓度明显增加,表明辐照损伤在InGaN材料中产生的本征点缺陷主要是类施主点缺陷,高能粒子辐照产生的高浓度本征点缺陷... 详细信息

研究了高能粒子辐照对InGaN材料的电子浓度变化和PL光谱强度在不同温度下变化的影响。高能粒子辐照使InGaN材料的电子浓度明显增加,表明辐照损伤在InGaN材料中产生的本征点缺陷主要是类施主点缺陷,高能粒子辐照产生的高浓度本征点缺陷最终将缺陷的Fermi能稳定在E处。在低温和室温条件下,InGaN材料的PL光谱随高能粒子辐照剂量的增加而变宽,且PL峰能向高能方向偏移。InGaN材料的PL光谱随辐照剂量的增加而变宽,原因是该材料中电子浓度的增加以及k选择的紊乱。研究结果表明,与一般的太阳能电池材料GaAs和GaInP相比,InGaN材料具有非常优越的抗辐照性能。

关键词： InGaN材料辐照电子浓度 PL光谱

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纳米金属Tm的电子浓度研究

物理学报 2012年第7期61卷 427-433页

作者：侯碧辉刘凤艳焦彬岳明北京工业大学应用数理学院北京100124 北京工业大学材料科学与工程学院北京100124

电子浓度是与金属的宏观特性相关的重要参数.反射光谱和霍尔效应分别是得出电子浓度和载流子浓度的基本实验.两个纳米稀土金属铥Tm样品(样品1,平均粒径100 nm,样品2,平均粒径10 nm)的红外—紫外反射光谱实验表明,金属铥Tm表面的反射光... 详细信息

电子浓度是与金属的宏观特性相关的重要参数.反射光谱和霍尔效应分别是得出电子浓度和载流子浓度的基本实验.两个纳米稀土金属铥Tm样品(样品1,平均粒径100 nm,样品2,平均粒径10 nm)的红外—紫外反射光谱实验表明,金属铥Tm表面的反射光学性质具有金属的特征,6 s能带具有与碱金属相近的电子浓度n_p,数值分别为2.434×10^(28)/m^3和1.701×10^(28)/m^3.而样品的霍尔效应实验测得金属Tm的载流子是电子-空穴型的,载流子浓度n_H仅分别为8.032×10^(24)/m^3和7.679×10^(24)/m^3,仅仅是费米面附近的电子-空穴状态.另外,铥Tm的电导率比半导体的大3个量级.晶粒纳米化使电子浓度n_p减小,电导率σ减小,载流子浓度减小,而霍尔系数R_H增大.

关键词：纳米晶金属铥Tm 电子浓度红外—紫外反射光谱霍尔效应

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铁基非晶合金电子浓度对晶化温度的影响

兵器材料科学与工程 1993年第6期16卷 25-27页

作者：纪松丁五洲杨国斌王润五二所宁波分所北京科技大学

研究了铁基非晶合金平均电子浓度对晶化温度的影响。结果表明:铁基非晶合金的晶化温度随合金的平均电子浓度的增加而线性下降,并给出了二者间的线性回归方程。

关键词：铁基金属玻璃电子浓度晶化温度

从数字测高仪探测资料求电子浓度平均剖面方法的介绍(英文)

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天文研究与技术 1990年第S1期 19-29页

作者：黄雪钦中国电波传播研究所

当用数字式测高仪256进行常规程序观测时,能自动输出垂直探测频高图的重要参数,如各层的临界频率,起始频率和最小虚高等,还自动输出经换算的电子浓度剖面。各层的电子浓度随高度的分布由切比雪夫多项式与归一化频率的平方根的乘积给出,... 详细信息

当用数字式测高仪256进行常规程序观测时,能自动输出垂直探测频高图的重要参数,如各层的临界频率,起始频率和最小虚高等,还自动输出经换算的电子浓度剖面。各层的电子浓度随高度的分布由切比雪夫多项式与归一化频率的平方根的乘积给出,这一模式实际上是卡普曼模式的近似表示,由切比雪夫多项式的系数可以确定标高随高度变化的函数。本文介绍了由一组探测资料求得电子浓度平均剖面的方法。在这种方法中,平均剖面是严格定义的,一旦入选的剖面确定以后,它们的平均剖面是唯一的,描在图上,平均剖面取各人选剖面的平均位置。当对模拟式测高仪资料进行处理时,URSI手册制定了一系列规则,才能求得平均剖面,由于这些规则大多是定性的,所求得的平均剖面难免困人而异。看来数字式测高仪在剖面处理上也具有一定的优越性,由数字式测高仪资料求得的电子浓度月中值剖面提供了一个很好的数据库,便于对任何剖面预测方法进行比较。

关键词：电子浓度测高仪探测资料临界频率常规程序切比雪夫多项式归一化频率近似表示测频预测方法