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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

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  • 1 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 理学
    • 1 篇 数学

主题

  • 1 篇 评估与预测
  • 1 篇 寿命分布
  • 1 篇 电子元器件贮存
  • 1 篇 贝叶斯方法
  • 1 篇 环境因子

机构

  • 1 篇 海军工程大学

作者

  • 1 篇 霍晋堂
  • 1 篇 朱威

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=电子元器件贮存"
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电子元器件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法
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引用
电子质量 2007年 第10期 45-46页
作者： 朱威 霍晋堂 海军工程大学电子工程学院 湖北武汉430033
基于电子元件寿命试验的二项型数据信息,提出了电子元件贮存可靠性评估与预测的贝叶斯方法。利用环境因子将电子元件产品在不同贮存条件下的试验数据进行折合,依据贝叶斯理论对小样本下可能出现的数据"数据倒挂"进行预处理,并评估出其... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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