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作者

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  • 7 篇 孙伟
  • 6 篇 刘庆纲
  • 6 篇 匡登峰
  • 6 篇 胡小唐
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  • 3 篇 张大明
  • 3 篇 李源
  • 2 篇 唐坤
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  • 2 篇 王艳辉
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  • 2 篇 孙建国
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  • 2 篇 刘宗顺

语言

  • 43 篇 中文
检索条件"主题词=电光采样"
43 条 记 录,以下是1-10 订阅
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基于半导体激光器的皮秒非接触电光采样系统
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中国激光 1996年 第12期23卷 1097-1099页
作者: 王云才 王贤华 胡巍 丰善 陈国夫 中国科学院西安光机所瞬态光学技术国家重点实验室
建立了基于增益开关半导体激光器的非接触电光采样系统。利用电光晶体的Pockels效应.以LiTaO3晶体制做成微小的电场传感器,对梳状波信号进行了测试。实验结果与取样示波器测得结果相符。系统的时间分辨率为25ps.最... 详细信息
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电光采样法测量相对论电子束团长度
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强激光与粒子束 2008年 第2期20卷 349-352页
作者: 孙大睿 徐金强 唐坤 中国科学院高能物理研究所 北京100049
介绍了电光采样法测量电子束束团长度的实验原理和装置,理论分析并模拟计算了被测电子束团库仑场分布、ZnTe晶体的电光效应与束团电场的关系,并利用琼斯矩阵法分析了探测光通过电光晶体时在束团电场作用下的偏振变化、测量信号与束团长... 详细信息
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基于电光采样的超快脉冲波形参数实验研究
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光学学报 2018年 第5期38卷 359-365页
作者: 冯志刚 赵科佳 杨智君 吴钒 陈赫 缪京元 李抵非 吴昭春 何昭 中国计量科学研究院信息与电子计量科学和测量技术研究所 北京100029
针对NTN技术的脉冲波形参数国家基准已无法完全满足目前超高速电脉冲波形测量和校准的现状,构建了基于电光采样技术的脉冲波形参数测量系统,自主设计并制备了钽酸锂基共面波导结构的高频电光调制器,通过网络分析系统测量得到了其3dB频... 详细信息
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基于电光采样的自由电子激光太赫兹源相干检测研究
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原子能科学技术 2015年 第B10期49卷 634-639页
作者: 吴邦 曹磊 熊永前 付强 谭萍 华中科技大学强电磁工程与新技术国家重点实验室 湖北武汉430074
为对华中科技大学一台在建的高平均功率、可调谐(1~10THz)的自由电子激光太赫兹辐射源进行高精度、全频段相干检测,设计了基于电光采样原理的测量方案,该方案具有响应速度快、灵敏度高、噪声小、测量带宽大等特点。通过理论计算分... 详细信息
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用半导体激光器超高速电光采样技术测量微波信号
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红外与毫米波学报 1992年 第1期11卷 81-84页
作者: 孙伟 衣茂斌 王艳辉 刘宗顺 贾刚 高鼎三 吉林大学电子科学系 吉林长春130023
利用半导体激光器作为采样光源的超高速电光采样测试系统(时间分辨率最高可达16.7ps,电压灵敏度为0.26mVHz^(-1/2)).测量了1~5GHz的微波信号和同轴电缆传输线的色散展宽.
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倍频移相扫描法电光采样测量
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红外与毫米波学报 1997年 第3期16卷 189-192页
作者: 田小建 衣茂斌 孙伟 贾刚 孙建国 马振昌 集成光电子学国家重点联合实验室吉林大学实验区 电子工业部第13研究所
分析了倍频移相扫描法的工作原理,介绍了用倍频移相扫描法构成的电光采样测量系统.测量了高速GaAs动态分频器集成电路芯片,并给出分频关系波形的测量结果.
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超高速电光采样技术
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仪器仪表学报 2003年 第Z1期24卷 88-90,94页
作者: 匡登峰 刘庆纲 胡小唐 精密测试计量技术及仪器国家重点实验室天津大学精密仪器与光电子工程学院 天津300072
详细论述了超高速电光采样技术的原理和实现方法 ,提出了不断改善电光采样的方法 。
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超高速电光采样技术中的电光晶体设计
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光子学报 2014年 第S1期43卷 207-210页
作者: 梁华伟 史学舜 阮双琛 陈红艺 陈坤峰 深圳大学电子科学与技术学院 广东深圳518060 电子测试技术重点实验室 山东青岛266555 中国电子科技集团公司第四十一研究所 山东青岛266555
提出了在高速电光采样技术中利用AlGaAs光波导作为电光晶体来传输飞秒激光,从而可以大大降低半波电压,提高探测的灵敏度.首先研究了在加电和不加电情况下激光在AlGaAs光波导中的传输特性,进而讨论了TE模、TM模的相位差与外加电压之间的... 详细信息
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GaAs高速集成电路内部动态特性直接电光采样检测
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红外与毫米波学报 1994年 第5期13卷 396-400页
作者: 孙伟 田小建 贾刚 孙建国 衣茂斌 马振昌 王国全 吉林大学电子工程系 电子工业部第13研究所 河北石家庄050051
研制成功GaAs高速集成电路直接电光采样测试系统.采用共轴反射式光路,对样品进行背面直接采样.用研制的微波探针在片驱动GaAs高速数字集成电路管芯,使之处于正常工作状态.测试系统的时间分辨率高于20ps,空间分辨率为3μm.利用该系统在... 详细信息
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微波扫描移相器在电光采样系统中的应用
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微电子学 1997年 第2期27卷 130-132页
作者: 田小建 衣茂斌 孙伟 李正庭 周波 吉林大学电子工程系 集成光电子国家重点联合实验室吉林大学实验区
介绍了一种可用于电光采样系统的微波扫描移相器,其线性度≤1.4%,插入损耗≤4.05dB。用此移相器组成的电光采样测试系统测量了高速门电路波形。
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