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作者

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  • 71 篇 中文
检索条件"主题词=热氧化法"
71 条 记 录,以下是1-10 订阅
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热氧化法在泡沫铜上制备CuO纳米线及其光催化性能研究
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稀有金属 2016年 第10期40卷 1021-1028页
作者: 于晶晶 廖斌 张旭 周福增 伏开虎 吴先映 北京师范大学核科学与技术学院 射线束技术与材料改性教育部重点实验室北京100875
采用热氧化,在泡沫铜上制备了高度有序的三维Cu O纳米线(Cu O NWs)阵列;利用扫描电镜(SEM),X射线衍射仪(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)对Cu O NWs阵列的形貌、成分以及结构等进行了表征。重点研究了不同氧化温度对Cu O NWs形... 详细信息
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热氧化法与PLD方制备ZnO薄膜的特性比较
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固体电子学研究与进展 2005年 第4期25卷 503-506页
作者: 王兆阳 赵杰 胡礼中 王志俊 张贺秋 大连理工大学三束材料改性国家重点实验室 大连116024
热氧化与脉冲激光沉积(PLD)两种方在Si(111)上制备了ZnO薄膜。对两种方制备的薄膜的形貌、结构和室温下的荧光光谱作了比较,并对ZnO薄膜紫外光(UV)的发射机理作了初步的分析,发现与PLD方相比,热氧化法制备的ZnO薄膜所产生的紫... 详细信息
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热氧化法钝化硅片的少数载流子寿命
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Journal of Semiconductors 2003年 第1期24卷 54-57页
作者: 崔灿 杨德仁 余学功 马向阳 李立本 阙端麟 浙江大学硅材料国家重点实验室 杭州310027
用高频光电导衰减 (PCD)研究了热氧化钝化对直拉硅少子寿命的影响 .在 70 0~ 110 0℃范围热氧化不同时间 (0 .5~ 4 h)对直拉硅片表面进行钝化 ,实验结果表明 ,在 10 0 0℃下热氧化对硅片表面钝化的效果最好 ;而且发现热氧化 1.5 h... 详细信息
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热氧化法强化剩余污泥微生物燃料电池产电及污泥减量化研究
热氧化法强化剩余污泥微生物燃料电池产电及污泥减量化研究
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作者: 阳柳 长沙理工大学
学位级别:硕士
微生物燃料电池(MFC)是一种利用细菌通过生物质产生电能的新方,其产电性能受反应器构型、电极材料、基质的直接影响,底物因能为MFC中的产电菌提供能源,被认为是影响MFC产电最重要的因素。为提升底物中能被产电菌利用的物质含量,本实... 详细信息
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热氧化法在微米丝上制备CuO纳米线
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化工进展 2012年 第8期31卷 1781-1785页
作者: 宋薛 杨光成 聂福德 西南科技大学材料科学与工程学院 四川绵阳621010 中国工程物理研究院化工材料研究所新材料研发中心 四川绵阳621900 中国工程物理研究院化工材料研究所 四川绵阳621900
采用电镀和热氧化相结合的方,在直径为30 m的丝上成功制备了直径为50~80 nm、长度在几个至十几个微米的CuO纳米线,并研究了温度和热氧化时间对其生长情况的影响。实验结果表明,随着热氧化时间延长,纳米线长度增加,保温4 h后均匀性也... 详细信息
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热氧化法在GaN衬底上合成Cu_2O薄膜
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大众科技 2010年 第7期12卷 104-105页
作者: 沈锴 武汉大学物理科学与技术学院 湖北武汉430072
通过真空热氧化法氧化用电子束蒸发技术沉积于GaN衬底表面的Cu薄膜,制备出了单一相外延的Cu2O薄膜。接着对样品在不同的温度下(400℃到800℃)进行真空热退火处理,详细分析讨论了对薄膜所造成的影响。在低于700 oC的温度下退火,薄膜表面... 详细信息
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高速切削温度的热氧化法估计
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五邑大学学报(自然科学版) 2004年 第3期18卷 21-25页
作者: 徐进 李文方 叶邦彦 五邑大学信息学院 广东江门529020 华南理工大学人事处 广东广州510640 华南理工大学机械工程学院 广东广州510640
根据实验观察,采用热氧化法对高速切削的淬硬钢切屑成色进行分析,以此判断在切削过程中切屑经历过的切削温度.结论是随切削用量的增大,切削温度有可能进一步上升.
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热氧化法提高农机零件的使用寿命
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粮油加工与食品机械 1983年 第1期 62-64页
作者: 赵廷仁
农机零件的使用寿命在很大程度上取决于其耐腐蚀保护层的防护能力。由于对机器零件工作的可靠性以及作为商品形式提出的高标准要求,所以必须扩大保护层的应用范围。因此,进一步完善防腐方并降低其成本是很重要的。目前,在拖拉机与农... 详细信息
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低温热氧化法合成ZnO纳米针及其生长机理研究
低温热氧化法合成ZnO纳米针及其生长机理研究
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中南地区第十六届电子显微镜学术交流会
作者: 余雯 潘春旭 武汉大学物理科学与技术学院
本文提出了一种新的热氧化法制备一维 ZnO 纳米针技术,即,首先在金属表面电沉积一层纯 Zn 纳米晶层,然后在空气中加热,在金属基板表面获得垂直生长高密度的一维 ZnO 纳米针。利用 XRD、SEM、TEM 和 HRTEM 等技术对 Zn 纳米晶和 ZnO 纳... 详细信息
来源: cnki会议 评论
热氧化法中二氧化硅厚度监控研究
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中国计量大学学报 2001年 第2期 111-111页
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