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  • 2 篇 激光光束诱导阻抗...
  • 2 篇 失效分析
  • 1 篇 失效定位
  • 1 篇 可靠性
  • 1 篇 绝缘体上硅

机构

  • 1 篇 轻工过程先进控制...
  • 1 篇 江南大学
  • 1 篇 中国电子科技集团...

作者

  • 2 篇 刘迪
  • 1 篇 陆坚
  • 1 篇 顾晓峰
  • 1 篇 梁海莲

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=激光光束诱导阻抗变化测试"
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基于SIFT技术的集成电路失效缺陷分析
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固体电子学研究与进展 2012年 第4期32卷 336-340页
作者： 刘迪 顾晓峰 陆坚 梁海莲 轻工过程先进控制教育部重点实验室 江南大学电子工程系江苏无锡214122 中国电子科技集团公司第58研究所 江苏无锡214035
激励源诱导故障测试(SIFT)是一种新型的失效定位技术,可用于集成电路和分立器件中漏电、击穿、短路等失效点的定位及失效机理的分析。在介绍SIFT技术工作原理的基础上,利用该技术进行了六反相器电路的深埋层缺陷、收发器电路中电源与地... 详细信息
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半导体器件失效机理与先进失效定位技术的研究与应用
半导体器件失效机理与先进失效定位技术的研究与应用
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作者： 刘迪 江南大学
学位级别：硕士
失效分析技术是研究电子元器件产品失效机理、提高产品良率和可靠性的重要手段。随着现代半导体制造技术从深亚微米时代进入纳米时代,开展失效分析的难度越来越大,必须借助更加先进、精确的设备与技术,辅以合理的失效分析步骤,才能提高... 详细信息
来源： 同方学位论文库 同方学位论文库 评论
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