检索结果-南通市图书馆

“多塔”3D-SIC的量子粒子群测试调度方法

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

计算机辅助设计与图形学学报 2017年第1期29卷 196-210页

作者：崔小乐王文明缪旻金玉丰北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室深圳518055 北京信息科技大学信息与通信工程学院北京100192

针对"多塔"结构的3D堆叠集成电路(3D-SIC)测试耗时很长的问题,提出一种基于量子粒子群优化的测试调度方法,以缩短测试时间.首先,构造初始粒子群用以表示初始可行解,产生具有量子行为的新粒子,并更新粒子群;然后进行粒子群的迭代进化以... 详细信息

针对"多塔"结构的3D堆叠集成电路(3D-SIC)测试耗时很长的问题,提出一种基于量子粒子群优化的测试调度方法,以缩短测试时间.首先,构造初始粒子群用以表示初始可行解,产生具有量子行为的新粒子,并更新粒子群;然后进行粒子群的迭代进化以获取全局最优解.最小化"终堆"测试时间和集成过程总测试的调度结果均表明,该方法可显著地缩短测试时间;当复杂晶片集成在3D-SIC底层时,"终堆"测试时间较短,而集成过程的总测试时间较长.

关键词： “多塔” 3D-SIC 量子粒子群优化测试调度 “部分堆” “终堆”

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

基于双核扫描链平衡的SoC测试调度

计算机辅助设计与图形学学报 2005年第10期17卷 2203-2208页

作者：胡瑜韩银和李华伟吕涛李晓维中国科学院计算技术研究所信息网络室北京100080

由于芯核的测试时间与芯核内最长扫描链的长度成正比,通过将SoC中的芯核进行成对匹配,使双芯核内最长的扫描链比两个单芯核内最长的扫描链短,从而缩短测试时间.利用粒子群优化算法和分合策略,高效地匹配芯核、设置芯核的测试顺序并分配... 详细信息

由于芯核的测试时间与芯核内最长扫描链的长度成正比,通过将SoC中的芯核进行成对匹配,使双芯核内最长的扫描链比两个单芯核内最长的扫描链短,从而缩短测试时间.利用粒子群优化算法和分合策略,高效地匹配芯核、设置芯核的测试顺序并分配测试总线,以获得优化的测试计划.在ITC’02基准SoC集上的实验结果表明,相对于其他基于单核扫描链平衡的测试调度技术而言,文中的测试调度技术能获得具有最短测试时间的测试计划.

关键词：测试调度扫描链平衡系统芯片粒子群优化算法

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

系统级芯片测试调度最优总线指定方法

计算机集成制造系统 2006年第10期12卷 1693-1697页

作者：詹瑾瑜熊光泽电子科技大学计算机学院四川成都610054

为了缩短采用系统级芯片设计的电子产品的测试时间,提出了一种基于遗传算法的系统级芯片测试调度总线指定方法。在该方法中,建立了最优测试调度的遗传算法模型。为了使算法过程更稳健,更快地趋近于全局最优解,在传统遗传算法的基础上引... 详细信息

为了缩短采用系统级芯片设计的电子产品的测试时间,提出了一种基于遗传算法的系统级芯片测试调度总线指定方法。在该方法中,建立了最优测试调度的遗传算法模型。为了使算法过程更稳健,更快地趋近于全局最优解,在传统遗传算法的基础上引入了差分进化、精英策略、自适应变异等几种机制,并通过实验与基于整数线性规划的测试调度方法进行比较,结果表明,所需的测试时钟周期数较少,适应于测试大规模系统级芯片。

关键词：系统级芯片测试调度知识产权核测试访问机制遗传算法差分进化

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

序列对递增生成的SOC测试调度算法

北京邮电大学学报 2007年第5期30卷 19-23页

作者：牛道恒王红杨士元清华大学自动化系北京100084

提出了一种确定性的片上系统(SOC)测试调度算法.在对测试环采取最优分配和平衡优化的基础上,构造了包含4种序列对递增生成方法的循环迭代过程.该过程同时考虑测试访问机制的宽度、空隙面积、IP核测试面积等因素,可在较短的迭代步数得到... 详细信息

提出了一种确定性的片上系统(SOC)测试调度算法.在对测试环采取最优分配和平衡优化的基础上,构造了包含4种序列对递增生成方法的循环迭代过程.该过程同时考虑测试访问机制的宽度、空隙面积、IP核测试面积等因素,可在较短的迭代步数得到有效的测试调度方案.对ITC’02基准电路进行了实验.结果表明,在得到近似解的前提下,该算法较传统的禁忌搜索和蚁群算法具有更快的运行速度.

关键词：片上系统测试调度测试环测试访问机制序列对

一种灵活TAM总线分配的SoC测试调度方法

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

仪器仪表学报 2011年第6期32卷 1238-1244页

作者：邓立宝俞洋彭喜元哈尔滨工业大学自动化测试与控制系哈尔滨150080

测试调度问题已成为SoC发展的瓶颈,这一NP完全问题经常被抽象成二维装箱问题。传统方法的出发点是将一个IP核分配一组固定的连续的测试总线,并求得此时的测试时间,将其分别映射成一个待装箱的小矩形的宽和长。对这一问题进行扩展,提出... 详细信息

测试调度问题已成为SoC发展的瓶颈,这一NP完全问题经常被抽象成二维装箱问题。传统方法的出发点是将一个IP核分配一组固定的连续的测试总线,并求得此时的测试时间,将其分别映射成一个待装箱的小矩形的宽和长。对这一问题进行扩展,提出一种灵活TAM总线分配的方法,解决SoC测试调度问题。该方法的主要思想是将一个IP核灵活的分配多组测试总线,把代表该IP核信息的一个矩形从宽度上分割为多个矩形。同时,利用B*-Tree结构描述"箱体布局",采用一种新的组合优化算法——交叉熵方法,对其进行求解。最后将其应用在ITC’02标准测试集上,实验表明,基于灵活TAM总线分配方法的SoC测试调度比现有的测试调度方法能更有效地降低SoC的测试时间。

关键词： TAM总线分配 B*-Tree结构交叉熵方法测试调度

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

并行测试的测试调度及其控制

电子学报 1993年第11期21卷 44-50页

作者：向东魏道政中科院计算所CAD开放实验室北京100080

本文首先从理论上比较严格的证明了测试调度问题是多项式可解的。提出了一种O(n^2)的最优测试调度策略。最后,阐述了一种测试调度的控制策略,使得多路转换器控制输入最少。

关键词：并行测试并行处理测试调度控制

基于量子粒子群算法的SOC测试调度优化研究

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

仪器仪表学报 2011年第1期32卷 113-119页

作者：许川佩胡红波桂林电子科技大学电子工程学院桂林541004

在基于IP核复用技术的SOC(system-on-ch ip,SOC)芯片中,测试资源的稀缺性限制了IP核并行测试的能力,导致了SOC测试耗时过长的局面。同时SOC测试时必须满足一定的功耗约束,否则会造成测试芯片的损坏。针对SOC测试时间与测试功耗协同优化... 详细信息

在基于IP核复用技术的SOC(system-on-ch ip,SOC)芯片中,测试资源的稀缺性限制了IP核并行测试的能力,导致了SOC测试耗时过长的局面。同时SOC测试时必须满足一定的功耗约束,否则会造成测试芯片的损坏。针对SOC测试时间与测试功耗协同优化这一难题,本文采用群智能优化算法-量子粒子群(quantum-behaved partic le swarm optim ization,QPSO)算法来实现这一目标。结合QPSO算法和测试调度问题,设计算法的适应度计算法则并建立测试时间与测试功耗的协同优化数学模型。通过实验确定算法中参数的最佳取值。最后利用算法搜索最优解确定IP核在TAM(test access m echan ism)上的分配,实现SOC功耗与时间的协同优化。经过国际标准SOC电路验证表明在解决功耗约束下的SOC测试调度优化问题上量子粒子群算法与已有算法相比,不仅能够更好的达到缩短SOC测试时间的目的,而且算法收敛速度快,需要调整的参数少,实现简单。

关键词： SOC IP核测试调度量子粒子群算法

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

数模混合片上系统联合测试调度方案

清华大学学报（自然科学版） 2011年第3期51卷 318-322页

作者：靳洋王红杨士元吕政良郑焱清华大学自动化系北京100084

为了降低数模混合片上系统(system on chip,SoC)的测试成本,基于片上虚数字化,提出了并行模拟测试外壳组设计,用数字自动测试设备和测试访问机制完成对各个模拟芯核的并行测试。在此基础上,建立了数模混合SoC测试调度优化问题模型,提出... 详细信息

为了降低数模混合片上系统(system on chip,SoC)的测试成本,基于片上虚数字化,提出了并行模拟测试外壳组设计,用数字自动测试设备和测试访问机制完成对各个模拟芯核的并行测试。在此基础上,建立了数模混合SoC测试调度优化问题模型,提出了一种基于递增生成的数模联合调度算法PADCOS,该算法具有复杂度低和优化效率高的优点。该文扩展并提出了用于验证数模混合SoC调度算法有效性的ITC 02m标准电路。实验在ITC 02m标准电路上采用PADCOS算法得到了数模混合SoC的优化调度方案,实验结果证明提出的并行测试外壳组相比于串行测试模式对测试时间的优化效果在30%以上。

关键词：数模混合片上系统并行模拟测试外壳组测试访问机制测试调度

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

一种时间优化的NoC低功耗测试调度方法

中国科学技术大学学报 2010年第5期40卷 540-545页

作者：欧阳一鸣张岚梁华国合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009

基于NoC重用的测试方法由于受到channel等资源的限制,测试调度问题变的非常复杂.为此提出了一种测试调度方法,综合考虑时间和功耗因素,在所有核并行测试时间最短的前提下,选取总体测试代价最小的I/O端口位置和IP核调度顺序.实验结果表明... 详细信息

基于NoC重用的测试方法由于受到channel等资源的限制,测试调度问题变的非常复杂.为此提出了一种测试调度方法,综合考虑时间和功耗因素,在所有核并行测试时间最短的前提下,选取总体测试代价最小的I/O端口位置和IP核调度顺序.实验结果表明,本方案有效地降低了NoC的总体测试时间和功耗,提高了并行测试效率.

关键词：片上系统片上网络测试调度测试时间测试功耗