检索结果-南通市图书馆

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

基于二维测试数据压缩的BIST方案

计算机辅助设计与图形学学报 2009年第4期21卷 481-486,492页

作者：周彬叶以正李兆麟哈尔滨工业大学微电子中心哈尔滨150001 清华大学信息技术研究院北京100084

为了减少测试向量的存储需求,提出一种基于扭环计数器作为测试向量产生器的横向和竖向测试数据压缩的BIST方案.先利用经典的输入精简技术对测试集进行横向压缩,再对横向压缩之后的测试集进行竖向压缩.竖向压缩时利用一种有效的基于测试... 详细信息

为了减少测试向量的存储需求,提出一种基于扭环计数器作为测试向量产生器的横向和竖向测试数据压缩的BIST方案.先利用经典的输入精简技术对测试集进行横向压缩,再对横向压缩之后的测试集进行竖向压缩.竖向压缩时利用一种有效的基于测试集嵌入技术的种子选择算法,将确定性的测试集压缩成很小的种子集.基于ISCAS89标准电路的实验结果表明,采用文中方案所实现的测试电路与已有方案相比:存储位数平均减少了44%,测试向量的长度平均减少了79%,硬件开销平均减少了41%.

关键词：内建自测试测试数据压缩输入精简扭环计数器

基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

电子与信息学报 2015年第6期37卷 1513-1519页

作者：邝继顺刘杰镗张亮湖南大学信息科学与工程学院长沙410082

为了减少测试数据和测试时间,该文提出一种基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法。采用两个相互镜像对称的参考切片与扫描切片做相容性比较,提高了相容概率。若扫描切片与参考切片相容,只需要很少的几位编码就可以表示这个... 详细信息

为了减少测试数据和测试时间,该文提出一种基于镜像对称参考切片的多扫描链测试数据压缩方法。采用两个相互镜像对称的参考切片与扫描切片做相容性比较,提高了相容概率。若扫描切片与参考切片相容,只需要很少的几位编码就可以表示这个扫描切片,并且可以并行载入多扫描链;若不相容,参考切片被该扫描切片替换。提出一种最长相容策略,用来处理扫描切片与参考切片同时满足多种相容关系时的选取问题。根据Huffman编码原理确定不同相容情况的编码码字,可以进一步提高测试数据的压缩率。实验结果表明所提方法的平均测试数据压缩率达到了69.13%。

关键词：测试数据压缩多扫描链相容性参考切片扫描切片

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

一种低功耗双重测试数据压缩方案

电子学报 2017年第6期45卷 1382-1388页

作者：陈田易鑫王伟刘军梁华国任福继合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009 合肥工业大学情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室安徽合肥230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽合肥230009 德岛大学日本德岛770-8506

随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试... 详细信息

随着集成电路制造工艺的发展,VLSI(Very Large Scale Integrated)电路测试面临着测试数据量大和测试功耗过高的问题.对此,本文提出一种基于多级压缩的低功耗测试数据压缩方案.该方案先利用输入精简技术对原测试集进行预处理,以减少测试集中的确定位数量,之后再进行第一级压缩,即对测试向量按多扫描划分为子向量并进行相容压缩,压缩后的测试向量可用更短的码字表示;接着再对测试数据进行低功耗填充,先进行捕获功耗填充,使其达到安全阈值以内,然后再对剩余的无关位进行移位功耗填充;最后对填充后的测试数据进行第二级压缩,即改进游程编码压缩.对ISCAS89基准电路的实验结果表明,本文方案能取得比golomb码、FDR码、EFDR码、9C码、BM码等更高的压缩率,同时还能协同优化测试时的捕获功耗和移位功耗.

关键词：测试向量相容低功耗测试测试数据压缩双重压缩

嵌入广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

计算机辅助设计与图形学学报 2017年第8期29卷 1542-1548页

作者：詹文法吴琼程一飞吴海峰安庆师范大学计算机与信息学院安庆246133

针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案.首先构建有向图,将完全测试集映射到有向图中;其次查找有向图中最长路径,将完全... 详细信息

针对芯片测试过程中自动测试设备需要传输大量测试数据到被测芯片,浪费了大量的测试数据传输时间的问题,提出一种广义折叠技术的集成电路测试数据压缩方案.首先构建有向图,将完全测试集映射到有向图中;其次查找有向图中最长路径,将完全测试集分割成若干个广义折叠集;最后存储广义折叠集的种子和广义折叠距离.另外,提出了广义折叠集的解压结构.理论上可以将整个测试集的存储转化成若干个广义折叠种子和广义折叠距离的存储.对部分ISCAS89标准电路中规模较大的时序电路进行实验的结果表明,在同样实验环境下,该方案在压缩效果方面优于Golomb码、FDR码、EFDR码和折叠集等成熟的压缩方法.

关键词：内建自测试折叠集测试数据压缩外建自测试编码

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

混合定变长码的测试数据压缩方案

计算机学报 2008年第10期31卷 1826-1834页

作者：詹文法梁华国时峰黄正峰合肥工业大学计算机与信息学院

文章提出了一种混合定变长码的测试数据压缩方案,该方案可以有效压缩芯片测试数据量.此压缩方案将代码字拆分为固定长度的首部和可变长度的尾部两部分.首部固定使解压过程简单,硬件开销小;尾部可变使编码灵活.同时采用了将尾部最高位隐... 详细信息

文章提出了一种混合定变长码的测试数据压缩方案,该方案可以有效压缩芯片测试数据量.此压缩方案将代码字拆分为固定长度的首部和可变长度的尾部两部分.首部固定使解压过程简单,硬件开销小;尾部可变使编码灵活.同时采用了将尾部最高位隐藏的方法来进一步提高压缩率,还使用了特殊的计数器来进一步简单化解压电路.对ISCAS89部分标准电路的实验结果显示,文中提出的方案在压缩效率和解压结构方面都明显优于同类压缩方法,如Golomb码、FDR码、VIHC码、v9C码等.

关键词：测试数据压缩编码内建自测试定长码变长码

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

二维测试数据压缩的优化

计算机研究与发展 2009年第4期46卷 637-643页

作者：周彬吴新春叶以正哈尔滨工业大学微电子中心哈尔滨150001

为了减少内建自测试方案中的测试数据,基于输入精简技术(横向压缩)和TRC测试集嵌入技术(竖向压缩)的二维测试数据压缩的BIST方案,采用改进的输入精简算法和基于相容性判断的TRC种子选择算法,同时对横向和纵向压缩进行优化,包括在相同的... 详细信息

为了减少内建自测试方案中的测试数据,基于输入精简技术(横向压缩)和TRC测试集嵌入技术(竖向压缩)的二维测试数据压缩的BIST方案,采用改进的输入精简算法和基于相容性判断的TRC种子选择算法,同时对横向和纵向压缩进行优化,包括在相同的相容百分数(PC)的条件下,确定位百分数(PSB)对竖向压缩的影响和在相同的PSB条件下竖向压缩算法中的PC对竖向压缩的影响两个方面.针对ISCAS89实验电路的实验结果表明,每一个PSB值都有一个最优的PC值范围[PClow-limit,PChigh-limit]使存储位数最小,并且PSB与最优的PClow-limit和PChigh-limit之间满足近似的线性关系.相对于现有的测试数据压缩方案,采用该优化的二维测试数据压缩方案实现的测试电路,不仅存储位数可减少20%～75%,而且可以达到ATPG工具所能达到的故障覆盖率.另外,测试控制逻辑电路简单,可重用性好.最后,由于在测试向量生成器和被测电路之间没有引入逻辑门,因此,不会对电路的性能产生影响.

关键词：内建自测试测试集嵌入测试数据压缩扭环计数器输入精简

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

基于PTIDR编码的测试数据压缩算法

计算机辅助设计与图形学学报 2008年第2期20卷 161-166页

作者：李国亮冯建华崔小乐北京大学信息科学技术学院北京100871 北京大学深圳研究生院信息工程学院深圳518055

为减少测试数据存储量,提出一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码,并构建了基于该编码的压缩/解压缩方案.PTIDR编码能够取得比FDR,EFDR,Alternating FDR等编码更高的压缩率,其解码器也较简单、易实现,且能有效地降低硬件开销.与Se... 详细信息

为减少测试数据存储量,提出一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码,并构建了基于该编码的压缩/解压缩方案.PTIDR编码能够取得比FDR,EFDR,Alternating FDR等编码更高的压缩率,其解码器也较简单、易实现,且能有效地降低硬件开销.与Selective Huff man,CDCR编码相比,PTIDR编码能够得到较高的压缩率面积开销比.特别地,在差分测试集中0的概率满足p≥0.7610时,PTIDR编码能取得比FDR编码更高的压缩率,从而降低芯片测试成本.

关键词：测试数据压缩哈夫曼编码 FDR编码 PTIDR编码

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

应用混合游程编码的SOC测试数据压缩方法

电子学报 2005年第11期33卷 1973-1977页

作者：方建平郝跃刘红侠李康西安电子科技大学微电子学院宽禁带半导体材料与器件重点实验室陕西西安710071

本文提出了一种有效的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:混合游程编码,它具有压缩率高和相应解码电路硬件开销小的突出特点.另外,由于编码算法的压缩率和测试数据中不确定位的填充策略有很大的关系,所以为了进一步提高测试压缩... 详细信息

本文提出了一种有效的基于游程编码的测试数据压缩/解压缩的算法:混合游程编码,它具有压缩率高和相应解码电路硬件开销小的突出特点.另外,由于编码算法的压缩率和测试数据中不确定位的填充策略有很大的关系,所以为了进一步提高测试压缩编码效率,本文还提出一种不确定位的迭代排序填充算法.理论分析和对部分IS-CAS 89 benchmark电路的实验结果证明了混合游程编码和迭代排序填充算法的有效性.

关键词：测试数据压缩不确定位填充 system-on-a chip(SOC)测试混合游程编码

一种混合定变长虚拟块游程编码的测试数据压缩方案

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

电子学报 2009年第8期37卷 1837-1841页

作者：詹文法梁华国时峰黄正峰合肥工业大学计算机与信息学院安徽合肥230009 安庆师范学院教育科学与技术系安徽安庆246011 合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽合肥230009

文章提出了一种混合定变长虚拟块游程编码的测试数据压缩方案,该方案将测试向量级联后分块,首先在块内找一位或最大一位表示,再对块内不能一位表示的剩下位进行游程编码,这样减少了游程编码的数据量,从而突破了传统游程编码方法受原始... 详细信息

文章提出了一种混合定变长虚拟块游程编码的测试数据压缩方案,该方案将测试向量级联后分块,首先在块内找一位或最大一位表示,再对块内不能一位表示的剩下位进行游程编码,这样减少了游程编码的数据量,从而突破了传统游程编码方法受原始测试数据量的限制.对ISCAS 89部分标准电路的实验结果显示,本文提出的方案在压缩效率明显优于类似的压缩方法,如Golomb码、FDR码、VIHC码、v9C码等.

关键词：测试数据压缩编码定长码变长码