检索结果-南通市图书馆

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

浅谈软件测试用例管理方法

中国信息界 2024年第3期 241-243页

作者：张静航空工业第一飞机设计研究院

引言在软件的整个生命周期中,软件测试是一个重要环节,软件测试用例是软件测试的基础,也是测试工作的指导,所以做好软件测试用例管理尤为重要。本文从软件测试用例管理、用例设计、用例执行、用例任务管理、用例维护和人员以及权限管... 详细信息

引言在软件的整个生命周期中,软件测试是一个重要环节,软件测试用例是软件测试的基础,也是测试工作的指导,所以做好软件测试用例管理尤为重要。本文从软件测试用例管理、用例设计、用例执行、用例任务管理、用例维护和人员以及权限管理等方面进行详细阐述,提升测试用例设计、使用、共享、追溯以及管理的效率,缩短测试周期,降低测试成本。

关键词：软件测试测试用例设计权限管理用例测试周期测试成本生命周期共享

Agilent 93000 SOC系列采用的液冷技术对测试及测试成本的好处

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

中国集成电路 2003年第9期 83-87+12页

半导体芯片在运行过程中散发热量。芯片的工作温度影响着其内部电路性能,更重要的是,其影响着芯片的可靠性。对半导体测试,这是一个重要问题,因为如果测试系统电子器件的温度不能稳定在目标水平,那么产出将下降,可重复性将会劣化。如果... 详细信息

半导体芯片在运行过程中散发热量。芯片的工作温度影响着其内部电路性能,更重要的是,其影响着芯片的可靠性。对半导体测试,这是一个重要问题,因为如果测试系统电子器件的温度不能稳定在目标水平,那么产出将下降,可重复性将会劣化。如果目标温度不能保持在相对较低的水平,那么系统可靠性将明显降低。自动测试系统(ATE)采用基于空气或液体介质的冷却技术。液冷系统比风冷系统的温度稳定性要高。液冷系统的热传导效率较高,因此可以降低 ATE 的工作温度。这可以提高系统可靠性,降低测试系统运行成本,改善吞吐量,保护测试系统投资。本文阐述了温度对半导体芯片的影响,分析了液冷技术在ATE 系统中较风冷技术的各项优势。

关键词：液冷技术安捷伦半导体芯片风冷系统液冷系统测试成本自动测试系统 Agilent 93000 SOC

在线全文

同方期刊数据库

学校读者我要写书评

暂无评论

有效消减测试成本的并行技术分析

计算机与数字工程 2010年第9期38卷 13-15,27页

作者：王敏张虹闫鹏中国航天科工集团第二研究院二○一所北京100854 北京大学微电子学研究院SOC测试中心北京100084

文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法。文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合... 详细信息

文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法。文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合格率以及其它多种限制因素,若设备中可用的独立资源有限,就会降低测试的并行度,从而导致部分测试顺序执行,并行测试的成本优势将迅速消失。

关键词：测试成本低成本ATE 并行测试

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

ATE测试成本优化

电子工程师 2006年第11期32卷 14-16页

作者：王琛南京工业大学信息科学与工程学院江苏省南京市210009

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略... 详细信息

多点测试是降低片上系统测试成本的有效手段,目前支持多点测试的ATE(自动测试设备)越来越多。多点测试通过并行测试多个芯片降低了测试成本,但是如何选择多点测试使得测试成本最低,需要综合考虑多方面因素,包括ATE成本、芯片的测试策略等。文中从ATE出发,建立芯片的测试成本模型,通过该模型获得了最佳测试方案。

关键词：片上系统可测性设计自动测试设备测试成本

主流混合信号测试平台帮助中国测试公司提高生产测试能力降低测试成本

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

中国集成电路 2003年第46期12卷 86-88页

作者： Russ Schlager CredenceSystem 公司

推动中国组装/测试市场飞速发展的一个主要原因是全球范围内对量产的廉价的消费品的强烈需求。这些产品的例子包括蜂窝电话、DVD 播放器、笔记本电脑、PDA、无线和数据通讯设备、PC 中的图形芯片组、音频和 DSP 处理器。

关键词：混合信号测试平台中国电子测试设备测试成本数字测试软件开发

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

降低SOC芯片测试成本的有效方法

降低SOC芯片测试成本的有效方法

以低廉的测试成本和灵活的测试结构测试混合信号器件

第五届中国测试学术会议

作者：吉国凡王惠北京华大泰思特半导体检测技术有限公司

通过测试成本模型分析,芯片的测试时间是影响测试成本的重要因素之一,并行测试是降低测试成本的最有效的方法,但是在实际应用中若从测试机硬件结构和软件编程入手,也可以减少测试时间,降低测试成本。

关键词：测试成本测试时间并行测试程序优化

来源： cnki会议评论

在线全文

cnki会议

学校读者我要写书评

暂无评论

中国集成电路 2003年第49期12卷 67-71页

作者：陈绪科利登系统公司

对日益复杂的消费产品不断增长的需求,引发了应用于消费类电子、汽车、工业和通讯领域的混合信号集成电路的需求急剧上升。时至今日,半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号 IC... 详细信息

对日益复杂的消费产品不断增长的需求,引发了应用于消费类电子、汽车、工业和通讯领域的混合信号集成电路的需求急剧上升。时至今日,半导体制造商们把高速的数字逻辑电路和先进的模拟电路集成在一起制造出功能越来越强大的混合信号 IC。器件的复杂度在不断上升,但是其售价不可能随之飙升,半导体公司都发现他们面临着这样一个难题,即如何在降低测试成本的同时保证复杂的 IC 产品的质量。半导体公司发现他们需要改进测试构架、更先进的测试仪器、增强的测试开发环境以取得更高的测试产量并保证在测试上的投资有高的回报。为了应付这些挑战,顶尖的测试系统结合了高性能的架构和先进的测试仪器以取得高端测试仪的产量,而所花的成本只是传统 ATE 系统的一小部分。在 ATE 上开发应用程序时,新一代的混合信号测试仪不仅能降低测试成本而且可以灵活地适应将来不同应用场合下的需要,这将有力地保护你在测试设备、硬件资源、数字混合器件上的工程投资。本文将要讨论混合信号器件测试的主要趋势,及其对测试成本的影响,和一些新的测试结构,这些新的结构在满足当前测试需求的同时还将有能力灵活地适应未来正在形成的测试需求。

关键词：测试成本混合信号器集成电路测试结构

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

如何降低PCB光板测试成本

印制电路信息 2009年第S1期17卷 352-354页

作者：武勇深圳大族明信电子有限公司

随着PCB日益向薄、小、高密度方向发展,PCB生产过程中对品质的要求变得越来越高。测试作为筛检出不良板,提高品质的重要手段,其在PCB制程中的重要性已逾发重要,测试成本所占比重日益增加。如何降低测试成本,提高测试效率,提升PCB的竞争... 详细信息

随着PCB日益向薄、小、高密度方向发展,PCB生产过程中对品质的要求变得越来越高。测试作为筛检出不良板,提高品质的重要手段,其在PCB制程中的重要性已逾发重要,测试成本所占比重日益增加。如何降低测试成本,提高测试效率,提升PCB的竞争力,已成为众多PCB生产商的重要课题。

关键词：光板测试测试成本测试设备

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

关于测试成本不确定软件模型的风险分析研究

计算机与数字工程 2010年第12期38卷 14-18页

作者：杨本见吴海涛上海师范大学信息与机电工程学院上海200234

在软件开发过程中,管理者往往面临着何时停止测试与何时发布这样的难题,因为它直接影响着软件软件的可靠性和项目成本。文章通过对软件测试成本和发布的风险进行分析、研究,提出基本不确定性的风险分析模型和风险函数。经过实验分析,基... 详细信息

在软件开发过程中,管理者往往面临着何时停止测试与何时发布这样的难题,因为它直接影响着软件软件的可靠性和项目成本。文章通过对软件测试成本和发布的风险进行分析、研究,提出基本不确定性的风险分析模型和风险函数。经过实验分析,基于该风险分析模型和风险函数可以获取一个更合理的软件发布时间,从而降低了测试成本和软件发布风险。

关键词：测试成本软件模型风险分析模型分析研究 Model Software 软件发布风险函数软件开发过程软件的可靠性直接影响项目成本实验分析不确定性管理者文章时间