咨询与建议
  • 全部检索
  • 电子图书
  • 电子期刊
  • 纸本馆藏
  • 南通市公共图书馆
高级检索

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 材料科学与工程（可...

主题

  • 1 篇 定位技术
  • 1 篇 测膜厚
  • 1 篇 原子力显微镜
  • 1 篇 纳米加工

机构

  • 1 篇 哈尔滨工业大学
  • 1 篇 辽宁工程技术大学

作者

  • 1 篇 洪晓东
  • 1 篇 杨永康
  • 1 篇 王铀

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=测膜厚"
共 1 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
详细 简洁
排序：
原子力显微镜在高分子薄膜领域的应用
收藏
分享
引用
高分子材料科学与工程 2013年 第6期29卷 178-182页
作者： 洪晓东 王铀 杨永康 辽宁工程技术大学材料科学与工程学院 辽宁阜新123000 哈尔滨工业大学材料物理与化学系 黑龙江哈尔滨150001
介绍了原子力显微镜(AFM)在高分子薄膜领域中的最新应用技术。在定位观察薄膜时,可采用碳纳米管定位法以及针尖打孔定位法对所观察的样品进行定位,该方法可实现对样品进行离位处理之后再次精确定位。在测量高分子薄膜厚度时,可采用针尖... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页 <<  < 1 >  >>
回到顶部
执行限定条件