检索结果-南通市图书馆

激光与光电子学进展 2024年

作者：王艳罗健陶金彭宏陈思毅西南石油大学电气信息学院

针对印制电路板（Printed circuit board,PCB）表面缺陷尺寸小，缺陷形状不一，难以检测的问题，提出一种YOLOv8-PCB缺陷检测模型。通过引入WIoUv3损失函数，减小对低质量锚框的惩罚，加快算法收敛速度；其次融合浅层尺度与小目标检测... 详细信息

针对印制电路板（Printed circuit board,PCB）表面缺陷尺寸小，缺陷形状不一，难以检测的问题，提出一种YOLOv8-PCB缺陷检测模型。通过引入WIoUv3损失函数，减小对低质量锚框的惩罚，加快算法收敛速度；其次融合浅层尺度与小目标检测头捕获更多的微小缺陷特征；然后在主干网络中采用ADown下采样，在减少特征图的尺寸的过程中防止上下文信息丢失过多；在特征金字塔中结合动态上采样，进一步提高特征图的分辨率，增强模型对PCB缺陷细节的感知能力。实验结果表明，改进后的模型平均精度均值达到98.37%，召回率达到96.39%，相较于基准模型，平均精度均值提升了3.62%，召回率提升了5.49%，缓解了漏检问题，提升了模型的检测效果。

关键词：缺陷检测 YOLOv8 损失函数浅层尺度采样算子

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