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第二十届全国光散射学术会议（CNCLS20）

作者：王炳军尹军华孙晓娟黎大兵何开岩万玲玉冯哲川广西大学物理科学与工程技术学院中国科学院长春光学精密机械与物理研究所发光学及应用国家重点实验室

一系列的超宽禁带半导体氮化铝薄膜采用了MOCVD生长,这些薄膜有着不同位错密度[1]。我们选择其中典型的两片（000,001）进行深入的深紫外（266nm）和可见光（532nm）拉曼光谱及椭圆偏振光谱的研究。细致的分析增进了对氮化铝薄膜的特性... 详细信息

一系列的超宽禁带半导体氮化铝薄膜采用了MOCVD生长,这些薄膜有着不同位错密度[1]。我们选择其中典型的两片（000,001）进行深入的深紫外（266nm）和可见光（532nm）拉曼光谱及椭圆偏振光谱的研究。细致的分析增进了对氮化铝薄膜的特性掌控。

关键词： AlN 拉曼光谱椭圆偏振光谱

来源： cnki会议评论

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cnki会议

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实验技术促进椭偏光谱研究与应用

国际学术动态 1998年第4期 31-31,38页

作者：陈良尧复旦大学物理系

第2届国际椭圆偏振光谱会议于1997年5月12日至15日在美国南卡罗来纳州查尔斯敦市召开,有20多个国家的200多位代表参加会议。国际凝聚态物理领域的学术会议大致可分为三类:一类像美国的三月会议,参加的人很多,内容和方向也较为分散;第二... 详细信息

第2届国际椭圆偏振光谱会议于1997年5月12日至15日在美国南卡罗来纳州查尔斯敦市召开,有20多个国家的200多位代表参加会议。国际凝聚态物理领域的学术会议大致可分为三类:一类像美国的三月会议,参加的人很多,内容和方向也较为分散;第二类是针对某些专门的研究领域,如半导体和表面物理会议等;第三类涉及不同的学科和研究领域,却被共同的科学方法联系在一起,如喇曼和椭偏光谱会议等。

关键词：椭圆偏振光谱椭偏光谱实验技术

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元素半导体

电子科技文摘 2000年第3期 6-7页

0003568ITO 作填料的涂层光谱特性研究[刊]/於定华//功能材料.—1999,30(6).—660～662(C)0003569乙烯对 CVD 法制备硅薄膜性能的影响[刊]/张溪文//功能材料.—1999,30(6).—649～650(C)0003570修正 Tersoff 势在熔态硅分子动力学模拟... 详细信息

0003568ITO 作填料的涂层光谱特性研究[刊]/於定华//功能材料.—1999,30(6).—660～662(C)0003569乙烯对 CVD 法制备硅薄膜性能的影响[刊]/张溪文//功能材料.—1999,30(6).—649～650(C)0003570修正 Tersoff 势在熔态硅分子动力学模拟中的应用[刊]/周正有//功能材料与器件学报.—1999,5(4).—273～280(C)

关键词：功能材料分子动力学模拟元素半导体特性研究纳米硅薄膜材料涂层乙烯椭圆偏振光谱制备填料

博士学位是这样得来的——2002年“启明星”、上海技术物理所黄志明访问记

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世界科学 2005年第4期 24-25页

作者：江世亮上海中博创业投资有限公司

今年3月8日我从中科院网站上看到一则消息,称由中科院上海技物所黄志明博士主持的启明星项目'高红外吸收室温型铁电薄膜红外探测器结构研究'通过专家验收.专家组的评议认为,黄志明主持的这一研究成果具有创新性,该项目的进一步研究将有... 详细信息

今年3月8日我从中科院网站上看到一则消息,称由中科院上海技物所黄志明博士主持的启明星项目'高红外吸收室温型铁电薄膜红外探测器结构研究'通过专家验收.专家组的评议认为,黄志明主持的这一研究成果具有创新性,该项目的进一步研究将有利于我国的室温红外探测器的发展,具有广阔的应用前景.

关键词：黄志明上海技术物理研究所椭圆偏振光谱启明星

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光谱学与光谱技术

中国光学 1999年第3期13卷 12-13页

O433.5 99031483用反射椭圆偏振光谱获得波长调制反射谱=Wavelengthmodulated reflection spectra obtained byreflective ellipsometric spectroscopy[刊,中]/张淑芝,连洁,张燕峰(山东大学光电系.山东,济南(250100))//物理.—1998,27(11).-690-694分析了波长调制反射谱的实质是静态介电函数对能量的一级微商谱,将MOCVD方法生长的GaInP以及掺Si两个样品,用椭偏光谱法测量得到可见光区的介电函数谱,并求其一级微商谱。

关键词：反射谱波长调制介电函数椭圆偏振光谱椭偏光谱法山东大学微商可见光光谱技术发射光谱

偶氮染料掺杂高分子PM MA薄膜的光学参数

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光学学报 2000年第4期20卷 565-569页

作者：王光斌李晶侯立松干福熹中国科学院上海光学精密机械研究所上海201800

在单晶硅片上 ,利用旋涂法 ,制备了偶氮染料掺杂高分子 (PMMA)薄膜 ,利用可变入射角、波长扫描的全自动椭圆偏振光谱仪 ,研究了薄膜的复折射率、吸收系数和厚度 ,分析了影响薄膜电子光谱的因素。研究结果表明 ,该薄膜在 4 0 0～ 6 0 0 n... 详细信息

在单晶硅片上 ,利用旋涂法 ,制备了偶氮染料掺杂高分子 (PMMA)薄膜 ,利用可变入射角、波长扫描的全自动椭圆偏振光谱仪 ,研究了薄膜的复折射率、吸收系数和厚度 ,分析了影响薄膜电子光谱的因素。研究结果表明 ,该薄膜在 4 0 0～ 6 0 0 nm波长范围内 ,存在强而宽的吸收 ,并且发现分子的聚集状态对该染料的吸收光谱有较大的影响。

关键词：偶氮染料薄膜椭圆偏振光谱光学常数

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椭偏光谱及在离子注入硅损伤研究中的应用

半导体技术 2000年第5期25卷 33-37页

作者：阳生红莫党中山大学物理系广州510275

介绍了椭圆偏振光谱（SE）的原理，给出了椭偏仪在离子注入半导体的辐照损伤研究中的应用和局限。研究表明，结合其它分析手段并建立精细的椭偏模型。椭圆偏振光谱能定量测量各层结构的厚度、成分、气孔率和光学常数。

关键词：椭圆偏振光谱离子注入半导体硅损伤

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现代椭偏光谱学的回顾与展望

光谱实验室 1999年第1期16卷 19-23页

作者：陈篮莫党中国人民解放军广州通信学院基础教研室中山大学物理系

本文回顾了独具特色的椭偏光谱学近一个世纪的历史发展，综述了椭偏光谱学的应用现状，指出了其前沿研究领域，并对这一古老而又年轻的光谱学分支作了展望。

关键词：材料光学特性椭圆偏振光谱

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材料光学性能测试与设备

中国光学 2000年第2期14卷 91-91页

TB96 2000021359非晶态高聚物的椭圆偏振光谱的光学折射率的测定=Spectroscopic ellipsometry characteristics andoptical refractive indexes of amorphous polymers[刊,中]/方鲲,许家瑞,麦堪成,王晓(中山大学材料科学研究所.聚合物基复合材料及功能材料开发研究室.广东,广州(510275)),李秋俊,刘毅,莫党(中山大学物理系.广东,广州(510275))//光谱实验室.-1999,16(1).

关键词：椭圆偏振光谱聚合物基复合材料非晶态高聚物光学折射率中山大学功能材料开发研究科学研究所光谱实验室性能测试