咨询与建议

限定检索结果

文献类型

  • 1 篇 学位论文

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 计算机科学与技术...

主题

  • 1 篇 寄存器
  • 1 篇 架构敏感因子
  • 1 篇 软错误
  • 1 篇 加固技术
  • 1 篇 可靠性

机构

  • 1 篇 上海交通大学

作者

  • 1 篇 张金铃

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=架构敏感因子"
1 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
寄存器中软错误屏蔽效应分析和部分加固技术研究
寄存器中软错误屏蔽效应分析和部分加固技术研究
收藏 引用
作者: 张金铃 上海交通大学
学位级别:硕士
随着集成电路制造工艺的改进,集成电路的特征尺寸越来越小、单位面积上集成的器件越来越多、阈值电压下降,软错误对集成电路的可靠性影响越来越大。寄存器是处理器中的关键部件,比较容易受到软错误影响,对整个寄存器文件进行加固设计会... 详细信息
来源: 同方学位论文库 同方学位论文库 评论