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    • 1 篇 美术学
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    • 3 篇 管理科学与工程(可...
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    • 1 篇 应用经济学

主题

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  • 6 篇 三维测量
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机构

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  • 3 篇 哈尔滨工业大学
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  • 2 篇 中国科学院大学
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作者

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语言

  • 122 篇 中文
检索条件"主题词=条纹分析"
122 条 记 录,以下是1-10 订阅
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希尔伯特变换条纹分析法及其在非球面镜测量上的应用
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光学学报 2005年 第6期25卷 781-785页
作者: 吕捷 王鸣 宦海 张斌 南京师范大学物理科学与技术学院 南昌大学机电工程学院 南昌330029
提出了利用离散的希尔伯特变换法解调干涉条纹相位的方法,叙述了希尔伯特变换法解调相位的原理,并从单一的干涉图样中提取出条纹信号的正弦和余弦部分,正弦与余弦比值的反正切即为干涉相位;然后利用泽尼克多项式拟合,实现波前重建;最后... 详细信息
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并行相移数字全息条纹分析插值算法的设计
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激光与光电子学进展 2020年 第16期57卷 99-107页
作者: 鄂雪飞 冷俊敏 北京信息科技大学信息与通信工程学院 北京100101 北京信息科技大学光电测试技术及仪器教育部重点实验室 北京100101
为减小并行相移数字全息重建过程中的插值误差、提高再现图像的质量,提出了一种基于全息图像条纹特性和像素分布的并行相移数字全息条纹分析插值算法。该算法首先根据相移特性从并行相移数字全息图中提取各同相全息图像,将各图像分为3×... 详细信息
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畸变测量中应用窗口傅里叶变换载频条纹分析
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光电工程 2010年 第1期37卷 13-18页
作者: 杨初平 翁嘉文 刘建斌 华南农业大学物理系 广州510642
为了测量光学成像系统的径向畸变,提出了基于伸缩窗口傅里叶变换空间载频条纹相位分析的测量新方法。畸变分布测量转化为调制相位测量。首先,将纵向朗奇基准光栅作为模板,通过成像系统成为变形光栅即畸变像。接着采用伸缩窗口傅里叶变... 详细信息
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基于条纹间距调节的条纹分析
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科学技术与工程 2015年 第12期35卷 193-196页
作者: 张伟 朱福龙 张鸿海 陈炎明 湖北汽车工业学院机械工程学院 十堰442002 华中科技大学机械科学与工程学院 武汉430074 湖北省计量测试技术研究院 武汉430223
基于莫尔条纹的测量中,较好的条纹图、包裹相位图质量,能够提高测量的有效性和测量精度。合理的条纹分布密度,能够有效降低条纹图与包裹相位图中的噪声影响,消除条纹分布过密产生的相位混频。合适的莫尔条纹密度可以通过调节条纹间距来... 详细信息
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基于条纹分析技术的镜头畸变校正实验设计
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实验室研究与探索 2022年 第7期41卷 128-132页
作者: 吴杰鸿 翁嘉文 曾应新 华南农业大学电子工程学院(人工智能学院) 广州510642
针对光学条纹分析技术在镜头畸变检测校正中的拓展应用教学,设计一套镜头畸变校正实验检测与分析系统。方案在Matlab环境下实现对实验数值仿真及处理,并对镜头畸变模型及参数、畸变条纹基频、畸变中心等参量展开定量讨论分析。系统采用... 详细信息
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希尔波特变换条纹分析法及其在非球面镜测量上的应用
希尔波特变换条纹分析法及其在非球面镜测量上的应用
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作者: 吕捷 南京师范大学
学位级别:硕士
近代光学干涉检测是一项复杂的精密测试技术,它需要结合并运用光学、电子、机械、计算机等多个领域的知识和技术,这种检测方法最终归结为对一系列静态或动态连续的实时干涉条纹图进行分析和计算。 条纹图像数字化处理技术基本上分为... 详细信息
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基于小波脊的条纹分析技术及应用研究
基于小波脊的条纹分析技术及应用研究
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作者: 曾惠萍 暨南大学
学位级别:硕士
振幅、位相以及位相中蕴涵的频率是光学条纹信号的主要特征,其特征大小及变化规律被广泛应用于许多科学研究和工程应用领域的位移、形变和密度的精密测量,以及雷达、生物、医学等信号的检测与诊断。本文先从小波脊提取光学条纹信号的... 详细信息
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条纹分析中一种简单的Zernike多项式拟合方法
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光学学报 1985年 第4期 368-373页
作者: 刘月爱 中国科学院光电技术研究所
本文介绍了一种实现干涉条纹Zernike多项式拟合的简单算法。该算法虽然仍是基于Gram-Schmidt正交化方法,但用该算法求解Zernike系数时并不需要经过正交化过程,而是用谱Zernike多项式的协方差矩阵的线性变换来直接求解。因而它很适合于... 详细信息
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光学计量的干涉条纹分析
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国外科技新书评介 2015年 第5期 23-24页
作者: 郭抒 中国科学院理化技术研究所
本书论述了光学计量学中经典和现代干涉测量法的理论原理和实际应用。本书的新颖之处是频率转换函数(FIF)的应用,以及干涉条纹分析中随机过程的理论;这些数学工具能更好地描述各种相位解调算法,并获得较理想的光谱响应、失谐不灵... 详细信息
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光纤点衍射干涉仪调整方法与条纹分析
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光机电信息 2003年 第3期20卷 28-30页
作者: 曹晓君 张学军 李艳红 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 吉林长春130022
随着对高精度光学元件的需求不断增加 ,对光学检测精度的要求也随之提高 ,合理可行的检测方法对光学加工的发展至关重要。本文在已建立好的点衍射干涉仪的基础上 ,对仪器的调整进行分析 ,提出合理的调整方案 ,得出被检波面面形的干涉图... 详细信息
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