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长春光机所研制出高性能微米线日盲紫外探测器

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红外 2015年第8期36卷 F0004-F0004页

据《中国科学报》报道，近日，由中国科学院长春光学精密机械与物理研究所赵东旭研究员带领的团队采用氧化锌／氧化镓核／壳微米线，研制出了一种具有雪崩增益的高灵敏度日盲紫外探测器。

关键词：紫外探测器中国科学院长春光学精密机械与物理研究所长春光机所日盲米线性能高灵敏度氧化镓

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中科院研制出高牲能微米线日盲紫外探测器

军民两用技术与产品 2015年第17期 36-36页

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所的研究人员采用氧化锌／氧化镓核／壳微米线，研制出了具有雪崩增益的高灵敏度微米线日盲紫外探测器。日盲光谱区是指波长在200nm～280nm波段的紫外辐射。该光谱范围具有极低的背景噪音，因此，... 详细信息

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所的研究人员采用氧化锌／氧化镓核／壳微米线，研制出了具有雪崩增益的高灵敏度微米线日盲紫外探测器。日盲光谱区是指波长在200nm～280nm波段的紫外辐射。该光谱范围具有极低的背景噪音，因此，与红外探测技术相比，紫外探测具有虚警率低、无需低温冷却、不扫描、告警器体积小和重量轻等优点。

关键词：紫外探测器中国科学院长春光学精密机械与物理研究所日盲米线中科院红外探测技术光谱范围研究人员

AlGaN光阴极光谱响应对日盲特性影响分析研究（英文）

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红外技术 2019年第12期41卷 1156-1160页

作者：程宏昌石峰闫磊任彬拜晓锋微光夜视技术重点实验室陕西西安710065 昆明物理研究所云南昆明650223

AlGaN是一种宽带半导体材料,随着材料中Al含量的不同,其禁带宽度有所不同,可以实现从3.4~6.2 e V。基于外光电效应原理,用AlGaN制成的光阴极因Al含量的不同,其长波阈值也有所不同。本文对5条AlGaN光阴极光谱曲线,采用数值计算的方法,从... 详细信息

AlGaN是一种宽带半导体材料,随着材料中Al含量的不同,其禁带宽度有所不同,可以实现从3.4~6.2 e V。基于外光电效应原理,用AlGaN制成的光阴极因Al含量的不同,其长波阈值也有所不同。本文对5条AlGaN光阴极光谱曲线,采用数值计算的方法,从背景噪声、有效信号、光谱信噪比等方面进行对比分析,并通过以上参数对日盲紫外探测器特性进行评价。经研究发现,可以通过光谱响应曲线对探测器日盲特性进行评价。光谱信噪比越好,则日盲探测器性能越好。这为用户提供了一种评价探测器日盲特性的方法。

关键词： AlGaN光阴极光谱响应日盲

偏置电压对日盲型AlGaN探测器性能的影响

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激光与红外 2010年第3期40卷 260-263页

作者：林言成肖功海舒嵘中国科学院上海技术物理研究所上海200083

偏置电压对AlGaN器件有两方面的影响,一方面偏置电压会对内部两级放大器各MOS管的工作状态产生影响,在应用中应合理地设置使各管工作在恰当状态;另一方面偏置电路上叠加的纹波也是一种噪声源,会耦合到探测器的输出。本文首先是理论推导... 详细信息

偏置电压对AlGaN器件有两方面的影响,一方面偏置电压会对内部两级放大器各MOS管的工作状态产生影响,在应用中应合理地设置使各管工作在恰当状态;另一方面偏置电路上叠加的纹波也是一种噪声源,会耦合到探测器的输出。本文首先是理论推导影响输出的各种因素,再利用spice模型仿真单元运放偏置电压Vbias、参考电压Vref、正电源Vdd、地Vss对读出噪声的贡献,最后结合实际图像,直观地表现偏置电压对图像的影响。从而对探测器读出电路设计者和日盲型AlGaN探测器的应用者提供合理的设计和配置原则。

关键词： GaN/AlGaN 偏置电压日盲 spice仿真

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高精度光谱辐射计测量超低光谱透过率

光学精密工程 2007年第10期15卷 1534-1539页

作者：薛庆生王淑荣宋克非李福田中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室

设计并研制了一种基于光栅双单色仪的高精度全自动单光束光谱辐射计。该仪器主要由高稳定氙灯、带有快门的单光阑屏、石英透镜、中性减光片、紫外光栅双单色仪、光电探测器及电控系统组成,测量光谱范围为200～400 nm,可以实现10^-6～10... 详细信息

设计并研制了一种基于光栅双单色仪的高精度全自动单光束光谱辐射计。该仪器主要由高稳定氙灯、带有快门的单光阑屏、石英透镜、中性减光片、紫外光栅双单色仪、光电探测器及电控系统组成,测量光谱范围为200～400 nm,可以实现10^-6～10^-8量级光谱透过率高精度测量,测量过程由自行编制的计算机软件进行自动控制,能实现全自动单光束测量。给出了该仪器的测量原理、测量方法及数据处理方法。利用该仪器测量了紫外滤光片样品的光谱透过率,分析了测量不确定度。实验结果表明,该仪器测量精度高、速度快、测量合成标准不确定度〈3.16×10^-3,完全满足测量精度要求,可应用于对精度要求高的紫外滤光片光谱透过率的测量。

关键词：光谱辐射计双单色仪透射率测量滤光片日盲

Cs量与Cs_2Te光阴极紫外-可见光抑制比关系研究

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红外与激光工程 2014年第3期43卷 940-943页

作者：刘晖张连东冯刘程宏昌高翔苗壮微光夜视技术重点实验室陕西西安710065 北方夜视科技集团股份有限公司云南昆明650223

紫外-可见光抑制比是决定全天时紫外探测成像系统信噪比的一个重要参数。为了研究激活时Cs量对Cs2Te紫外光阴极紫外-可见光抑制比（S280 nm/S320 nm）的影响，利用三组不同Cs量的多次激活实验，通过分别对比紫外-可见光抑制比结果和200~... 详细信息

紫外-可见光抑制比是决定全天时紫外探测成像系统信噪比的一个重要参数。为了研究激活时Cs量对Cs2Te紫外光阴极紫外-可见光抑制比（S280 nm/S320 nm）的影响，利用三组不同Cs量的多次激活实验，通过分别对比紫外-可见光抑制比结果和200~400 nm的光谱响应曲线，得到不同Cs量激活的Cs2Te光阴极其紫外-可见光抑制比在4.0~7.6之间变化。随着Cs量的增大，紫外光阴极的积分灵敏度相应增长，主要体现在260~320 nm ，但峰值256 nm处的辐射灵敏度增长不明显。重点分析了激活时Cs量对大于320 nm波长范围光谱响应的影响。

关键词：紫外-可见光抑制比紫外光阴极日盲

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紫外成像系统

光电工程 2015年第7期42卷 1-6页

作者：马立新黄大海上海理工大学光电信息与计算机工程学院上海200093

电晕放电对电力系统的危害巨大,因此有必要对电晕进行检测。电晕放电产生的紫外线波长为200-400 nm,为了实现电晕放电位置的准确定位,利用240-280 nm这一日盲波段设计了一种日盲紫外成像系统。借助高分辨力镜头、中心波长为254 nm的窄... 详细信息

电晕放电对电力系统的危害巨大,因此有必要对电晕进行检测。电晕放电产生的紫外线波长为200-400 nm,为了实现电晕放电位置的准确定位,利用240-280 nm这一日盲波段设计了一种日盲紫外成像系统。借助高分辨力镜头、中心波长为254 nm的窄带日盲滤光片和外部采集盒,系统实现了图像采集、图像融合和图像输出的功能。在温度25℃的晴天,对10 m外的高压设备进行成像实验,获得了比较清晰的背景图像、紫外图像和融合图像。同时,在实验室里利用针尖放电模型模拟电晕放电试验,融合采集到的电晕和可见光图像。实验结果验证了系统原理的正确性。

关键词：电晕放电成像系统日盲融合

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用于枪击探测的紫外光传感器技术指标分析

应用光学 2015年第3期36卷 442-447页

作者：刘振吉楚盛杨永辉刘金袁小兵中国工程物理研究院计算机应用研究所四川绵阳621900 中山大学物理科学与工程技术学院广东广州510275

利用一款标准的日盲型紫外探测传感器对枪击火焰进行了探测实验,结合紫外光传输特性,对实验数据进行分析,提出了探测枪击火焰紫外光谱的传感器技术指标。不考虑入射角度和响应时间的影响,1km处要检测到步枪击发,传感器响应电流达到能明... 详细信息

利用一款标准的日盲型紫外探测传感器对枪击火焰进行了探测实验,结合紫外光传输特性,对实验数据进行分析,提出了探测枪击火焰紫外光谱的传感器技术指标。不考虑入射角度和响应时间的影响,1km处要检测到步枪击发,传感器响应电流达到能明显检出的100nA,则传感器的响应率和响应面积乘积至少达到0.002AW-1 m2。根据一种枪击探测装置原型方案,对紫外探测传感器的透光性、日盲特性、对紫外光的响应率、入射角和短路电流等技术指标进行了分析。采用分子束外延法制备了一种MgZnO紫外探测传感器,对其紫外光谱透光率、响应率和响应时间进行了测量,进一步优化性能后有望满足枪击探测要求。

关键词：紫外探测火力探测光响应率 MgZnO 日盲

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电晕紫外成像检测技术及其应用

量子电子学报 2014年第5期31卷 622-627页

作者：张玉波黎大健赵坚广西电网公司电力科学研究院广西南宁530023

利用输电线路和变电站设备电晕可以进行缺陷定位、分析判断绝缘的真实状况。描述了基于日盲滤光片和MCP探测器研制的电晕紫外成像仪,并与可见光摄像机进行同视场检测,实现了电晕的高灵敏检测和定位。为验证紫外成像检测的性能,利用高压... 详细信息

利用输电线路和变电站设备电晕可以进行缺陷定位、分析判断绝缘的真实状况。描述了基于日盲滤光片和MCP探测器研制的电晕紫外成像仪,并与可见光摄像机进行同视场检测,实现了电晕的高灵敏检测和定位。为验证紫外成像检测的性能,利用高压尖端放电设备进行了不同放电强度的实验以及电晕放电的现场检测,结果表明:研制的电晕紫外成像仪能够用于高压电晕的检测和故障定位。

关键词：图像处理日盲紫外成像电晕故障检测