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基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案

计算机研究与发展 2010年第S1期47卷 181-184页

作者：徐三子梁华国顾婉玉刘杰合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009 合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009 阜阳师范学院物理与电子科学学院安徽阜阳236041

随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无... 详细信息

随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成4种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,方案进一步提高了压缩率.

关键词：测试数据压缩幂次无关位

一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法

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计算机科学 2018年第2期45卷 249-253页

作者：谈恩民范玉祥桂林电子科技大学电子工程与自动化学院广西桂林541004

集成电路在测试过程中的测试功耗通常会远远高于集成电路正常工作时的功耗,而过高的测试功耗可能会造成电路损坏或是芯片烧毁。为了降低测试功耗,提出了一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法。首先,对测试集中的测... 详细信息

集成电路在测试过程中的测试功耗通常会远远高于集成电路正常工作时的功耗,而过高的测试功耗可能会造成电路损坏或是芯片烧毁。为了降低测试功耗,提出了一种基于海明排序进行无关位填充的低功耗测试向量优化方法。首先,对测试集中的测试向量按照无关位含量由多到少进行排序;然后,将测试向量按照海明距离由小到大进行排序;最后,对排序后的测试集进行无关位的合理填充,使得测试向量之间的相关性增大,从而降低测试功耗。以ISCAS’85国际标准电路作为测试对象进行,结果表明,相比于使用优化前的测试集,运用优化后的测试集明显降低了测试功耗。

关键词：测试向量海明距离无关位低功耗设计

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基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案

基于无关位动态赋值的幂次划分测试压缩方案

第六届中国测试学术会议

作者：徐三子梁华国顾婉玉刘杰合肥工业大学计算机与信息学院合肥工业大学电子科学与应用物理学院阜阳师范学院物理与电子科学学院

随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成四种类型,对分块... 详细信息

随着集成电路制造工艺的不断发展,单芯片的集成度越来越高,通过集成各种IP核,系统芯片的功能更加强大,但同时也带来了测试数据量的快速增加.本文提出了一种幂次划分测试数据压缩方法,它将测试数据按照2的幂次长度划分成四种类型,对分块中无关位进行填充后,再依据一种码表对每个分块进行编码.与传统的编码压缩方法相比,本方案进一步提高了压缩率.

关键词：测试数据压缩幂次无关位

来源： cnki会议评论

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无关位在增加测试向量分组长度上的应用

计算机工程 2011年第2期37卷 266-268,271页

作者：杨静邝继顺尤志强湖南大学软件学院长沙410082 湖南大学计算机与通信学院长沙410082

针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷,提出一种充分利用测试向量中的无关位增加测试向量分组长度的方法。由含无关位的测试向量产生出相应电路内部节点的响应向量,通过分析测试向量与响应向量之间的关系,给出一些启发式... 详细信息

针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷,提出一种充分利用测试向量中的无关位增加测试向量分组长度的方法。由含无关位的测试向量产生出相应电路内部节点的响应向量,通过分析测试向量与响应向量之间的关系,给出一些启发式规则并构建相应的有向图,用深度优先搜索方法查找出P×M个有向图的最长公共路径。实验结果表明,最大测试分组中的向量数平均增加了2.2个。

关键词：无关位未知位内建自测试可测性设计

无关位在被测电路自己施加测试矢量方法中的研究与应用

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无关位在被测电路自己施加测试矢量方法中的研究与应用

作者：周皓湖南大学

学位级别：硕士

近年来,集成电路技术日新月异。人们要求电路既要有强大的功能,又要有较高的可靠性。由于电路密度快速增加,而外部管脚数目因受几何尺寸限制增加缓慢,在芯片外部很难对其进行控制和观测。于是,人们引入了可测试性设计方法来解决这个问... 详细信息

近年来,集成电路技术日新月异。人们要求电路既要有强大的功能,又要有较高的可靠性。由于电路密度快速增加,而外部管脚数目因受几何尺寸限制增加缓慢,在芯片外部很难对其进行控制和观测。于是,人们引入了可测试性设计方法来解决这个问题。内建自测试是一个被广泛使用的可测试性设计方法。最近,一种由被测电路自己施加测试矢量的内建自测试方法被提出。该方法使用Mintest确定性测试集,对被测电路施加第一个测试矢量以后,将被测电路中一些内部节点的响应值用捕获寄存器捕获,把这些响应值反馈到被测电路的输入端作为下一个测试矢量。本文对Mintest测试集中的无关位进行了研究,提出了一种无关位赋值方法用来提高被测电路自己施加测试矢量方法的故障效率。参照电路内部节点的响应,对下一个要输入的测试矢量中的无关位进行合理赋值,可以延缓备选反馈节点数目的减少速度。这样每一组反馈生成的属于Mintest测试集的矢量个数就会更多。在此基础上,本文提出了一种基于被测电路自己施加测试矢量方法一般反馈方式动态变换无关位的方法。大部分电路的一般反馈方式需要进行多组反馈才能达到期望的故障效率。每组反馈都能生成Mintest测试集中的部分矢量和一些额外的测试矢量,由于这些额外测试矢量可以检测到一些新故障,剩余的确定性测试矢量需要检测的故障数就少了。故障集减小,就可以在Mintest测试集剩余测试矢量中变换出更多的无关位。利用前一组反馈测试在剩余测试矢量中变换出更多的无关位,可以提高一般反馈测试最终的故障效率。使用含有无关位的Mintest测试集在benchmark 85基准电路上的模拟实验结果表明:利用无关位的方法与原方法相比,分组完全反馈方式需要的反馈组数有所降低;一般反馈方式在不增加开销的前提下,提高了平均故障效率。

关键词：可测试性设计内建自测试自反馈无关位

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应用对称编码的测试数据压缩解压方法

计算机研究与发展 2011年第12期48卷 2391-2399页

作者：梁华国蒋翠云罗强合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009 合肥工业大学数学学院合肥230009 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009

随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这样给集成电路测试带来了巨大的挑战,测试数据压缩技术能够有效降低对昂贵的ATE性能要求.提出一种对称编码... 详细信息

随着超大规模集成电路制造技术的快速发展,单个芯片上已能够集成的晶体管数目越来越多.由于各种知识产权芯核集成到一个芯片上,这样给集成电路测试带来了巨大的挑战,测试数据压缩技术能够有效降低对昂贵的ATE性能要求.提出一种对称编码方法,能有效地提高测试数据压缩率,降低测试成本.传统的编码技术采用对0游程或1游程进行编码,但由于ATPG工具生成的测试集中存在大量的无关位(X位),因此以前编码方法未能有效利用测试集的特征.该方法采用对称计算游程的方法,它同时对提出的4类对称性游程编码,且能减短对应码字长度,有效提高压缩率.实验结果和理论分析表明该方案能较以往方法能取得很好的压缩效果,且能适应多样编码对象,硬件结构简单易行.

关键词：测试数据压缩 SoC测试游程无关位 SVC编码

一种基于IFDR改进的测试激励数据压缩方法

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湖南大学学报（自然科学版） 2016年第2期43卷 130-134页

作者：尤志强罗奇钧湖南大学信息科学与工程学院湖南长沙410082

通过改进IFDR码,提出一种基于游程相等编码的改进FDR(ERFDR)方法.首先,该方法不仅能同时对原测试集的0游程和1游程进行编码,而且,当相邻游程相等时还可以用较短的码字来代替,从而进一步提高了压缩率.其次,还提出针对该压缩方法的测试集... 详细信息

通过改进IFDR码,提出一种基于游程相等编码的改进FDR(ERFDR)方法.首先,该方法不仅能同时对原测试集的0游程和1游程进行编码,而且,当相邻游程相等时还可以用较短的码字来代替,从而进一步提高了压缩率.其次,还提出针对该压缩方法的测试集无关位填充算法,增强提出方法的压缩效果.实验结果表明,与FDR,EFDR,IFDR和ERLC相比较,本文提出的方法获得了更高的压缩率,降低了测试费用.

关键词：全扫描测试测试数据压缩无关位 FDR编码

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一种基于FDR的高测试质量测试压缩方法

湖南大学学报（自然科学版） 2015年第2期42卷 109-113页

作者：尤志强胡娜湖南大学信息科学与工程学院湖南长沙410082

FDR编码方法有效地降低了测试数据量,但其测试集中的无关位全部填充为0,平均每个测试向量检测的故障数目较少,测试质量较低.为了提高测试质量,并进一步提高测试数据压缩率,本文基于FDR方法提出了一种利用上一个测试向量的响应填充该测... 详细信息

FDR编码方法有效地降低了测试数据量,但其测试集中的无关位全部填充为0,平均每个测试向量检测的故障数目较少,测试质量较低.为了提高测试质量,并进一步提高测试数据压缩率,本文基于FDR方法提出了一种利用上一个测试向量的响应填充该测试向量中无关位的测试压缩方法.该填充方法提高了测试向量中无关位填充的随机性,从而提高了测试集的测试质量.提出方法的压缩效率与测试向量的顺序有关,基于最近邻居算法对测试集进行排序,降低了测试响应与下一个测试向量之间不相同的位数,对测试响应和测试向量差分处理后再进行FDR编码,从而降低了测试数据量.ISCAS’89电路中几个大电路的实验结果表明,与FDR相比该方法的测试质量平均提高了5.9%,测试数据压缩率平均提高了2.5%,而只需要增加一个异或门的硬件开销.

关键词：测试质量测试数据压缩无关位 FDR编码

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一种双游程交替编码的测试数据压缩方法

计算机科学 2014年第11期41卷 22-24,55页

作者：程一飞詹文法安庆师范学院计算机与信息学院安庆246001 安庆师范学院科技处安庆246001

SoC测试面临的挑战之一是测试数据量过大,而测试数据压缩是应对这一挑战行之有效的方法。因此,提出了一种新的双游程交替的测试数据压缩方法,该方法对测试集中0游程和1游程交替编码,并且后一游程类型可以根据前一游程类型转变得到。这... 详细信息

SoC测试面临的挑战之一是测试数据量过大,而测试数据压缩是应对这一挑战行之有效的方法。因此,提出了一种新的双游程交替的测试数据压缩方法,该方法对测试集中0游程和1游程交替编码,并且后一游程类型可以根据前一游程类型转变得到。这样在代码字中不需要表示游程类型,减少了游程所需代码字的长度。实验结果表明,该方法能够取得比同类方法更高的压缩率,而且解压结构简单,因此能够达到降低测试成本的目标。

关键词：测试数据压缩双游程无关位