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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

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  • 1 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 光学工程
    • 1 篇 电气工程
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 盘片质量检测
  • 1 篇 光盘
  • 1 篇 抖晃测试
  • 1 篇 系统设计
  • 1 篇 fpga芯片
  • 1 篇 脉冲计数法
  • 1 篇 边沿检测技术

机构

  • 1 篇 清华大学

作者

  • 1 篇 谢登科
  • 1 篇 齐国生
  • 1 篇 张启程
  • 1 篇 徐端颐

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=抖晃测试"
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高倍速光盘抖晃测试系统设计
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引用
光电子．激光 2004年 第3期15卷 279-282页
作者： 谢登科 齐国生 徐端颐 张启程 清华大学光盘国家工程研究中心 北京100084
在脉冲计数法的基础上结合边沿检测技术,设计了一种可用于高倍速的光盘抖晃测试系统,代替传统的时间间隔分析仪(TIA)。系统最大测量误差仅504ps,最高可工作在32倍速下。基于现场可编程门阵列FPGA芯片实现,结构简单、精度高、成本低及测... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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