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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 仪器科学与技术

主题

  • 1 篇 扫描链排序
  • 1 篇 游程编码
  • 1 篇 测试数据压缩
  • 1 篇 测试功耗

机构

  • 1 篇 北京大学

作者

  • 1 篇 宋晓笛
  • 1 篇 程旭
  • 1 篇 方昊

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=扫描链排序"
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用扫描链重构来提高EFDR编码的测试压缩率和降低测试功耗
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计算机辅助设计与图形学学报 2009年 第9期21卷 1290-1297页
作者： 方昊 宋晓笛 程旭 北京大学计算机科学与技术系 北京100871 北京大学微处理器研究开发中心 北京100871
为了解决系统芯片测试中日益增长的测试数据和测试功耗的问题,提出一种不影响芯片正常逻辑功能的扫描链重构算法——Run-Reduced-Reconfiguration(3R).该算法针对扩展频率导向游程(EFDR)编码来重排序扫描链和调整扫描单元极性,重新组织... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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