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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 1 篇 测试成本
  • 1 篇 扫描使能
  • 1 篇 全速测试
  • 1 篇 转换故障

机构

  • 1 篇 上海大学

作者

  • 1 篇 蔡万林
  • 1 篇 黄徐辉
  • 1 篇 翁寒一
  • 1 篇 张金艺

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=扫描使能"
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基于可控多扫描使能信号的片上系统TR-TC联合测试成本模型
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引用
上海交通大学学报 2011年 第7期45卷 1026-1030页
作者： 张金艺 黄徐辉 蔡万林 翁寒一 上海大学特种光纤与光接入网省部共建教育部重点实验室 上海200072 上海大学微电子研究与开发中心 上海200072 上海大学教育部新型显示与系统应用重点实验室 上海200072
基于片上系统的扫描链结构,针对全速测试研究了多扫描使能(SE)信号的可测性设计,并建立了新颖的测试资源-覆盖率(TR-TC)联合测试成本线性规划数学模型.研究结果表明,该模型不仅可以高效控制全速测试的测试资源消耗以及可测性设计复杂度... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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