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倒装片可修复底部填充材料的研究现状及发展
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半导体技术 2008年 第6期33卷 466-469页
作者: 于鲲 梁彤祥 郭文利 清华大学核能与新能源技术研究院 北京100084
有机基板上的倒装芯片一般采用底部填充技术以提高其封装的可靠性。有缺陷的芯片在倒装后难以进行返工替换,使得倒装芯片技术成本提高,限制了此技术的应用。提出新型可修复底部填充材料的开发成为解决这一问题的有效途径。介绍了倒装芯... 详细信息
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环氧树脂复合材料的流变特性及底部填充工艺研究
环氧树脂复合材料的流变特性及底部填充工艺研究
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作者: 罗琬 华中科技大学
学位级别:硕士
底部填充工艺可以减小因基板与芯片热膨胀系数不匹配所引起的变形,因此是提高封装稳定性的关键工艺。底部填充胶的流变特性是影响填充过程的重要因素。所以本文针对环氧树脂复合材料的流变特性及底部填充工艺,主要开展了如下工作:(1)测... 详细信息
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球形焊点三角形排列倒装芯片底部填充的能量法研究
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半导体技术 2021年 第7期46卷 558-564页
作者: 蒋伟杰 姚兴军 华东理工大学机械与动力工程学院 上海200237
对于具有球形焊点且呈正三角形排列的倒装芯片,由于其待填充的空隙结构复杂,难以通过平均毛细压来建立底部填充的解析模型。因此通过能量变化来分析底部填充过程以避免平均毛细压的计算。首先分析了底部填充过程中表面能的变化、动能的... 详细信息
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等离子清洗及点胶轨迹对底部填充胶流动性的影响
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半导体技术 2023年 第3期48卷 268-271页
作者: 翟培卓 洪根深 王印权 李守委 陈鹏 邵文韬 柏鑫鑫 中国电子科技集团公司第五十八研究所 江苏无锡214035
倒装焊封装过程中,底部填充胶的流动性决定了填充效率,进而影响生产效率及成本。通过对比接触角和底部填充胶流动时间,研究了等离子清洗及点胶轨迹对底部填充胶流动性的影响。结果表明:经微波等离子清洗后,水及底部填充胶在陶瓷基板表... 详细信息
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倒装芯片封装中底部填充技术的分析与优化
倒装芯片封装中底部填充技术的分析与优化
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作者: 金鑫 东南大学
学位级别:硕士
倒装芯片技术作为芯片封装中一种关键的互连方式广泛应用于各类高级封装中,但其结构的特殊性带来的焊点可靠性问题也一直存在。底部填充作为该互联方式中用来提高连接凸点可靠性的一种方法正在得到广泛的应用,但在工艺实施过程中,空洞... 详细信息
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底部填充式BGA封装热机械可靠性浅析
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电子工业专用设备 2016年 第8期45卷 9-14,44页
作者: 杨建生 天水华天科技股份有限公司 甘肃天水741000
探讨了在超级球阵列封装(SBGA)中,底部填充对各种热机械可靠性问题的影响;针对加工诱发的各种残余应力,研讨有底部填充和没有底部填充的非线性有限元模型;把焊料作为时间和相关温度建模,其他材料酌情按照温度和相关方向建模,分析由于热... 详细信息
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底部填充固化程序对固化后产品微气孔的影响
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电子与封装 2021年 第9期21卷 15-19页
作者: 陈志健 王剑峰 朱思雄 中科芯集成电路有限公司 江苏无锡214072
随着倒装封装中焊球间隙的不断缩小,底部填充工艺难度逐渐增加。该研究对窄节距倒装产品底部填充微孔洞进行了相关研究,通过更换底部填充胶水、优化固化曲线,最终采用三段式固化程序,成功解决了微孔洞残留问题。超声波扫描以及扫描电镜... 详细信息
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底部填充工艺的瞬时温度环境管理(英文)
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电子工业专用设备 2009年 第7期38卷 21-24,41页
作者: Steven J Adamson Dan Ashley William Hassler Jared Wilburn Asymtek 2762 Loker Avenue West Carlsbad California USA
微电子组装的大部份工艺开发都要求将元件做到更小,以便在尺寸日益缩小的便携式设备上实现更多功能。阐述了大元件的底部填充,即一侧的尺寸超过15mm,底部填充的胶量介于30~50mg。大尺寸晶元的制造工艺要求比现有生产线更大的产能,这就... 详细信息
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底部填充工艺探讨
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印制电路信息 2011年 第6期19卷 66-70页
作者: 张涛 孙忠新 江南计算技术研究所 江苏无锡214000
底部填充工艺是倒装芯片封装过程中的一个必不可少而且很关键的组成部分,底部填充工艺的成败将直接影响到封装的可靠性。本文针对底部填充工艺中需考虑的多个方面,如分配模式、胶水体积计算、硬件选择等,阐述如何改进工艺,增强底部填充... 详细信息
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底部填充对BGA封装的可靠性研究
底部填充对BGA封装的可靠性研究
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2019年船舶电子自主可控技术发展学术年会
作者: 黄玥 闫峰 孙晋先 中国船舶重工集团公司第八研究院
BGA封装器件在服役过程中,受到组件结构的热失配及焊点的高温蠕变作用,焊点内疲劳裂纹会加速萌生和扩展,使组件发生疲劳失效,可靠性降低。本文探讨了在热循环下BGA封装焊点的受力及蠕变情况,预测组件的疲劳寿命,并比较有无底部填充时组... 详细信息
来源: cnki会议 评论