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数字IO电路板的嵌入式测试性设计方案

计算机测量与控制 2014年第7期22卷 2027-2030页

作者：杜影吴朝华李洋徐鹏程北京航天测控技术有限公司北京100041

近年来,随着DSP、FPGA等大规模集成电路的发展,电子系统的性能也在大大提高,但同时给电子系统带来了新的测试和故障诊断问题;为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;文中从嵌入式测试的... 详细信息

近年来,随着DSP、FPGA等大规模集成电路的发展,电子系统的性能也在大大提高,但同时给电子系统带来了新的测试和故障诊断问题;为了解决电路板快速诊断维修问题,嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向;文中从嵌入式测试的基本概念出发,介绍了嵌入式边界扫描、非侵入式测试等先进的板级嵌入式测试技术,并阐述了模拟嵌入式测试性设计的难点和基础电路原则,同时给出了基于FPGA的嵌入式测试控制器设计方案;然后,面向数字IO电路板,针对其关键功能电路展开嵌入式测试性设计,简要说明了测试程序的开发与下载;根据测试验证结果,嵌入式测试性设计可以增强测试自动化、提高测试效率,从而能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。

关键词：嵌入式测试可测性边界扫描 BIST

SoC热载流子退化的嵌入式测试技术研究及IP开发

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SoC热载流子退化的嵌入式测试技术研究及IP开发

作者：赵俊晖西安电子科技大学

学位级别：硕士

随着MOS集成电路技术进入超深亚微米时代,热载流子效应变得更加严重,使得热载流子效应对于MOS器件和电路可靠性的影响越来越大,对热载流子效应的研究变得越来越重要。鉴于此,本文做了以下相关研究工作: 首先,本文概括的介绍了集成... 详细信息

随着MOS集成电路技术进入超深亚微米时代,热载流子效应变得更加严重,使得热载流子效应对于MOS器件和电路可靠性的影响越来越大,对热载流子效应的研究变得越来越重要。鉴于此,本文做了以下相关研究工作: 首先,本文概括的介绍了集成电路热载流子可靠性研究的国内外研究动态,分析了MOSFET热载流子退化的失效机理,研究了抗热载流子退化效应的可靠性设计方法,并通过BERT的模拟验证了其有效性。从而为CMOS集成电路的可靠性设计提供了很好的参考依据;其次,本文在深入研究和了解相关的热载流子效应机理和测试方法的基础上,提出了一种热载流子退化的嵌入式实时预测方法,并在0.13微米CMOS混合信号工艺下完成了预测电路和版图设计。当VLSI热载流子退化引起的瞬态性能退化超过预设的界限时,本预测电路会发出一个报警信号。它只占用很小的芯片面积,同时它几乎不与被测电路共用信号（除上电复位信号和电源信号外）,从而几乎不会给被测系统带来干扰;最后,提出一种用于本热载流子退化测试电路的基于JTAG总线的测试访问接口,即应用JTAG总线作为外界访问嵌入式测试系统测试结果的接口。本JTAG接口能在电路正常工作时获取报警输出信号,其与外界仅需满足IEEE 1149.1标准的五条控制线相连,极大的节省了VLSI预测系统与外界的I/O资源。总而言之,本论文所提出的热载流子退化测试技术克服了以往可靠性模拟,可靠性评估耗时而不精确的缺点,同时突破了离线测试无法测试被测电路实际的制造工艺和环境因素等对电路退化的影响和限制,从而具有非常好的科研和应用价值。

关键词：可靠性热载流子退化嵌入式测试

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半导体激光器退化机理与嵌入式测试技术研究

半导体激光器退化机理与嵌入式测试技术研究

作者：王贵山国防科学技术大学

学位级别：硕士

半导体激光器广泛应用于国防和经济的诸多领域,是目前应用最广泛的激光器种类之一。由于半导体激光器的精密程度和集成化程度高,当退化发生时很难直接观测到损伤部位。因此,如何在不影响半导体激光器正常工作下对退化进行表征和测试,是... 详细信息

半导体激光器广泛应用于国防和经济的诸多领域,是目前应用最广泛的激光器种类之一。由于半导体激光器的精密程度和集成化程度高,当退化发生时很难直接观测到损伤部位。因此,如何在不影响半导体激光器正常工作下对退化进行表征和测试,是半导体激光器退化机理研究与嵌入式测试亟待解决的问题。论文针对半导体激光器退化机理与嵌入式测试的问题,通过退化模型的理论和仿真分析,对半导体激光器的退化特性、表征参数选择和嵌入式测试开展研究,最后通过特性参数实验对仿真模型和嵌入式测试的可行性和有效性进行验证。论文的主要研究内容包括:1.半导体激光器退化机理分析与建模为分析半导体激光器退化的变化过程和影响因素,从物理结构层面对有源区退化和腔面退化这两种典型的退化方式进行深入剖析,建立描述退化程度的理论和电路等效模型。为研究半导体激光器的退化特性,提出以半导体激光器本征模型为基础,将退化特性模型和热特性模型相结合的方法。2.半导体激光器退化表征参数选择与测试针对半导体激光器退化部位不可直接观测的问题,利用PSpice对建立的退化模型进行仿真,分析半导体激光器发生退化后特性参数的变化。在对比各个特性参数的表征性和灵敏性的基础上,优化选择阈值电流和斜率效率作为退化的表征参数,并对其测试方法展开研究。3.半导体激光器退化监测的嵌入式测试设计针对半导体激光器退化表征参数离线测试和传统监测协议的不足,提出增加监测调制电流计算退化表征参数的嵌入式测试方法,对基于ARM单片机的嵌入式测试硬件与软件进行详细设计,从而实现对退化监测的嵌入式测试。4.半导体激光器模型验证与修正以同轴型双异质结半导体激光器为对象,在设计的嵌入式测试方法基础上,增加计算机控制分析模块和数据传输模块构成特性参数测试平台。通过对半导体激光器特性参数的测试,对模型关键参数进行辨识并对模型和方法进行修正。实验结果说明本文利用仿真模型研究半导体激光器退化机理以及指导进行嵌入式测试的可行性和有效性。

关键词：半导体激光器退化机理电路模型表征参数嵌入式测试

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数模混合电路嵌入式测试技术研究

数模混合电路嵌入式测试技术研究

作者：王荔哈尔滨工业大学

学位级别：硕士

随着数模混合信号电路的发展，其在国防军事装备等领域的应用愈发广泛，由于应用场合对可靠性要求较高，需要对数模混合电路进行实时监测。但混合电路结构多样、信号复杂，尚无法提出与数字电路边界扫描测试类似的成熟测试方法。目前的... 详细信息

随着数模混合信号电路的发展，其在国防军事装备等领域的应用愈发广泛，由于应用场合对可靠性要求较高，需要对数模混合电路进行实时监测。但混合电路结构多样、信号复杂，尚无法提出与数字电路边界扫描测试类似的成熟测试方法。目前的测试方法多存在实现繁琐、测试资源占用多、可测性设计复杂等问题，并且无法适应实时性、便携性要求较高环境下的测试要求，因此需要深入研究数模混合电路嵌入式测试理论和方法，实现数模混合电路故障的快速定位。本文对模拟电路和典型数模混合电路测试技术进行研究。在嵌入式测试方法和模块化测试思想的基础上，提出数模混合电路的嵌入式测试方案，并构建了数模混合电路嵌入式测试验证平台，主要研究内容如下：首先，研究基于混沌模型的测试激励生成方法，提出使用D-M混沌模型作为测试激励实现模拟电路测试的方法，解决时间序列测试模拟电路遍历程度不足的问题。在此基础上研究混沌激励下的故障特征提取方法，并对D-M混沌模型的硬件实现方法进行设计，实现模拟电路的故障快速定位。其次，为降低模数转换器可测性设计的复杂度，克服内建自测试柱状图方法资源面积占用大的缺点，设计模数转换器嵌入式测试算法。针对模数转换器的故障模式，实现模数转换器的嵌入式测试，通过仿真验证方法的有效性。然后，针对集成锁相环模块故障诊断使用传统探头测试方法较难实现的问题，设计锁相环模块的嵌入式测试方法。根据锁相环功能及原理，提出锁相环故障集合，并针对故障集合建立了锁相环内低通滤波器和压控振荡器的故障字典，为锁相环模块故障诊断提供理论基础。最后，建立数模混合电路嵌入式测试系统，利用嵌入式控制器实现本文的测试方法，通过实验验证本文的嵌入式测试方法和技术，结果表明这些方法能够实现对被测电路的故障诊断。

关键词：数模混合电路嵌入式测试混沌测试激励

基于CodeTest工具的DCS系统嵌入式测试设计与实现

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电子技术应用 2006年第4期32卷 8-10页

作者：赵忠明李天辉信息产业部电子六所北京100083 和利时自动化股份有限公司北京100096

介绍了CodeTest嵌入式测试工具及其在大型DCS系统嵌入式测试中一种独特测试方案的设计和实现。

关键词：插桩覆盖率内存泄漏嵌入式测试

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VLSI热载流子退化的嵌入式测试技术研究

VLSI热载流子退化的嵌入式测试技术研究

作者：陈洁西安电子科技大学

学位级别：硕士

随着VLSI技术的发展,MOS集成电路进入超深亚微米时代,热载流子效应变得更加严重,使得热载流子效应对于MOS器件和电路可靠性的影响越来越大,对热载流子效应的研究变得越来越重要。为此,本文做了以下相关研究工作:首先,本文概括的介绍了... 详细信息

随着VLSI技术的发展,MOS集成电路进入超深亚微米时代,热载流子效应变得更加严重,使得热载流子效应对于MOS器件和电路可靠性的影响越来越大,对热载流子效应的研究变得越来越重要。为此,本文做了以下相关研究工作:首先,本文概括的介绍了集成电路热载流子可靠性研究的国内外研究动态,分析了MOSFET热载流子退化的失效机理,研究了抗热载流子退化效应的可靠性设计方法,并通过BERT的模拟验证了其有效性。从而为CMOS集成电路的可靠性设计提供了很好的参考依据;其次,本文在深入研究和了解相关的热载流子效应机理和测试方法的基础上,介绍了一种热载流子退化的嵌入式实时预测方法,并在0.35微米CMOS混合信号工艺下完成了预测电路的模拟仿真验证和版图设计并投片。当VLSI热载流子退化引起的瞬态性能退化超过预设的界限时,本预测电路会发出一个报警信号。它只占用很小的芯片面积,同时它几乎不与被测电路共用信号(除上电复位信号和电源信号外),从而几乎不会给被测系统带来干扰。

关键词：可靠性热载流子嵌入式测试

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嵌入式测试可降低SoC成本

电子产品世界 2001年第21期 76-80页

作者：李

基于专用芯片的电路模块嵌入式测试信息获取技术

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电子世界 2016年第3期 151-157页

作者：李智刘明军邹芳宁中国电子科技集团公司第四十一研究所

本文提出一种基于专用芯片的数字、模拟和射频微波电路嵌入式测试信息获取方法,作为装备故障预测与健康管理(PHM)最为基础的数据采集的一种手段,解决装备中测试性设计不足或各种BIT电路消耗资源较多、连接复杂、信息获取困难等难题。文... 详细信息

本文提出一种基于专用芯片的数字、模拟和射频微波电路嵌入式测试信息获取方法,作为装备故障预测与健康管理(PHM)最为基础的数据采集的一种手段,解决装备中测试性设计不足或各种BIT电路消耗资源较多、连接复杂、信息获取困难等难题。文中介绍了数字、模拟、射频微波电路嵌入式测试专用芯片的设计思路及利用其进行嵌入式测试硬件与软件设计方法,最后对嵌入式测试设计进行了验证。

关键词：嵌入式测试 PHM BIT 信息获取边界扫描测试性设计

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半导体激光器退化表征与嵌入式测试

国外电子测量技术 2019年第3期38卷 97-102页

作者：杨鹏胡业荣国防科技大学装备综合保障技术重点实验室长沙410073

半导体激光器(LD)广泛应用于国防和经济的诸多领域,其精密化和集成化程度高,给嵌入式在线监测带来一定挑战。对LD有源区退化和腔面退化,在LD经典等效电路模型基础上,构建了可模拟退化过程的等效电路模型;经过仿真和对比分析,得出阈值电... 详细信息

半导体激光器(LD)广泛应用于国防和经济的诸多领域,其精密化和集成化程度高,给嵌入式在线监测带来一定挑战。对LD有源区退化和腔面退化,在LD经典等效电路模型基础上,构建了可模拟退化过程的等效电路模型;经过仿真和对比分析,得出阈值电流和斜率效率可分别表征这两种退化的结论;针对这两个表征参数在线监测难问题,提出在LD现有监测参数基础上,补充监测调制电流,以及利用调制电流和其他已监测参数在线计算阈值电流和斜率效率的方法,并给出了调制电流的嵌入式测试方案,最后通过实物实验验证了仿真模型的准确性和嵌入式测试方法的有效性。

关键词：半导体激光器嵌入式测试表征参数阈值电流斜率效率