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主题

  • 1 篇 老化测试
  • 1 篇 可编程asic
  • 1 篇 大规模集成电路
  • 1 篇 嵌入式图形发生系...

机构

  • 1 篇 浙江大学

作者

  • 1 篇 冉立新

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=嵌入式图形发生系统"
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大规模集成电路高温动态老化测试嵌入式图形发生系统的可编程ASIC实现
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仪器仪表学报 2003年 第1期24卷 27-30页
作者： 冉立新 浙江大学信息与电子工程学系 杭州310027
图形发生系统是大规模集成电路高温动态老化测试的核心子系统。在此 ,采用可编程 ASIC技术成功实现了这一系统。在体系结构及性能指标方面做了很大改进的同时 ,极大地减小了系统的 PCB尺寸 ,首次实现了嵌入方式。
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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