检索结果-南通市图书馆

矿冶 2012年第3期21卷 1-4页

作者：刘明宝印万忠韩跃新孙中强东北大学沈阳110004 东北大学冶金研究所有限公司沈阳110004

以峰背比法定性判断X射线辐射分选机分选低品位钼矿石的最佳工艺条件。试验研究表明,X射线辐射分选机在分选含有不同粒级的低品位钼矿原矿时,X射线管最佳激发电压应该选择45 kV,而测量距离在4 cm左右时,可获得最佳测量结果。

关键词：峰背比激发电势最佳测距

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峰背比法的实验探讨

分析化学 1975年第1期 13-17页

作者：杨乐山吴传智杜崇良四川省地质局中心实验室西南地质科研所

以散射背景作内标的荧光X射线光谱分析法及其物理基础的研究已有不少文献报导。但尚欠统一的理论处理,散射波长的选择亦靠反复实验取得,况且也只能解决轻基物中微量重元素的分析。作者在有效原子序数20以下的轻基物中,以分析线位置的背... 详细信息

以散射背景作内标的荧光X射线光谱分析法及其物理基础的研究已有不少文献报导。但尚欠统一的理论处理,散射波长的选择亦靠反复实验取得,况且也只能解决轻基物中微量重元素的分析。作者在有效原子序数20以下的轻基物中,以分析线位置的背景值作内标,对钾盐矿中微量铷、锶、溴等元素进行了大量的实验。实验表明,对试样的物理状态、仪器条件变化、基体效应都获得了良好的补偿。但是,随着基体有效原子序数的增大,峰背比值随原子序数的变化就不如峰值强度随原子序数的变化灵敏,方法也就失效。因此本文试图从分析线位置的背景强度与质量吸收系数之间的关系,探讨峰背比法的基体补偿,以求得对各种岩石中微量重元

关键词：质量吸收系数背景值分析线原子序数峰背比重元素基性岩火成岩相干散射弹性散射实验探讨

用ICP光源测定氧化铕中稀土杂质谱线峰背比的研究

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湖南有色金属 1985年第5期 43-44+65页

作者：段集雄秦福民湖南稀土金属材料研究所

本文运用Ar.ICP为激发源、全息光栅摄谱,考察了:阳流、阳栅比、观测高度、等离子炬径向位置,载气流量、基体浓度以及去溶等诸因素在氧化铕中测定14种稀土杂质时对谱线峰背比的影响。

关键词：峰背比稀土杂质 ICP 等离子炬谱线载气流量观测高度氧化铕铕化合物光源辐射源

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薄样峰背比法

光谱学与光谱分析 1987年第3期 77-80页

作者：何去奢中国科学院新疆物理所

本文研究了薄样对X射线的散射规律;理论计算与实验符合,证明散射背景强度,随薄样厚度变化的规律与分析线强度变化的规律相似,因而在X射线光谱分析中,可以用它们的比值,校正薄样的厚度效应。

关键词：峰背比厚度变化厚膜基体效应土样分析线土壤样品质量吸收系数薄膜样品

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基于传感器分选技术高效回收稀土铁工艺

有色金属（选矿部分） 2023年第4期 94-99页

作者：张铁柱张宇轩李宇张金山欧阳顺利内蒙古科技大学包头师范学院内蒙古包头014010 鄂尔多斯应用技术学院内蒙古鄂尔多斯017004 内蒙古科技大学材料与冶金学院内蒙古包头014010 广州航海学院广州510725

随着高品位矿床的枯竭,采矿业面临着开采低品位矿床的挑战。矿状矿石分选可以减少磨矿成本,从而防止低品位废物处理昂贵费用,同时提高下游矿物材料质量。为提高白云鄂博稀土矿物元素的综合利用效率对原生稀土矿物进行了基于传感器技术... 详细信息

随着高品位矿床的枯竭,采矿业面临着开采低品位矿床的挑战。矿状矿石分选可以减少磨矿成本,从而防止低品位废物处理昂贵费用,同时提高下游矿物材料质量。为提高白云鄂博稀土矿物元素的综合利用效率对原生稀土矿物进行了基于传感器技术分选试验研究。研究结果表明,在激发电压45 kV、激发电流40 mA、给矿频率30 Hz对、峰背比大于0.84、粒度范围35~75 mm、分离阈值0.55时,获得稀土品位为13.42%、回收率80.42%的稀土精矿产品,为下一步选冶提供了有利条件;富集稀土矿物经弱磁选获得铁品位为61.16%、回收率81.61%的铁精矿;一粗一精浮选稀土获得产率20.80%,品位69.62%、回收率70.57%的稀土精矿。从结果可以看出,X-BOS分选可以提高入选稀土矿物的品位,简化浮选流程,提高选厂的综合经济效益。该成果为提高白云鄂博稀土矿物高效利用提供了一种新的思路。

关键词： X射线分选稀土峰背比回收率

低品位钇族稀土矿X荧光预选最佳品位表征方式研究

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稀土 2016年第4期37卷 10-15页

作者：刘明宝杨超普阎赞印万忠周春生商洛学院化学工程与现代材料学院陕西商洛726000 陕西省尾矿资源综合利用重点实验室陕西商洛726000 东北大学资源与土木工程学院辽宁沈阳110004

在扎鲁特旗大型超低品位钇族稀土矿床矿物学特性研究的基础上,以散射线本底标准法为理论依据,推导出了低品位钇族稀土矿X-荧光预选中矿石品位的最佳表征方式—"峰背比法"。研究表明,矿块的峰背比值与其中Y_2O_3的含量有良好的一元线性... 详细信息

在扎鲁特旗大型超低品位钇族稀土矿床矿物学特性研究的基础上,以散射线本底标准法为理论依据,推导出了低品位钇族稀土矿X-荧光预选中矿石品位的最佳表征方式—"峰背比法"。研究表明,矿块的峰背比值与其中Y_2O_3的含量有良好的一元线性关系。在采用峰背比值作为矿块中稀土含量高低的表征方式的前提下,原矿经荧光预选后可获得Y_2O_3品位为1.52%,回收率为80.52%,Ce_2O_3品位为1.17%,回收率为82.23%的精矿,预选精矿中Y_2O_3含量完全达到原生稀土矿最低工业入选品位要求。

关键词：稀土选矿 X荧光预选光电选矿峰背比

DMD光学相位共轭系统的关键参数敏感性研究

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激光杂志 2018年第6期39卷 1-5页

作者：宋超汪待发北京航空航天大学生物与医学工程学院北京100083 北京航空航天大学生物医学工程高精尖创新中心北京100083

数字光学相位共轭（Digital optical phase conjugation,DOPC）技术可穿透或在散射介质深部形成高能量、高对比光学聚焦,为组织深层的光激发（如光遗传学）、光成像、光治疗等提供革新的技术手段。基于数字微镜装置（Digital micromirro... 详细信息

数字光学相位共轭（Digital optical phase conjugation,DOPC）技术可穿透或在散射介质深部形成高能量、高对比光学聚焦,为组织深层的光激发（如光遗传学）、光成像、光治疗等提供革新的技术手段。基于数字微镜装置（Digital micromirror device,DMD）的DOPC具有响应速度快的独特优势,有望将该技术推向活体应用。针对基于DMD的DOPC散射光学聚焦系统,研究了与DMD共轭的平面镜的位置偏差这一重要却难以准确确定的参数对系统性能（峰背比PBR）的影响,并在课题组之前所提出设计的基础上,提出了一种新的基于DMD反射特性的波前记录光路方案。结果表明,两种设计对于平面镜位置偏差有较好的容忍度,在1mm的范围内,PBR均可保持在最大值的80%以上。新设计对于位置偏差的容忍度更高,达到3mm左右,但其能达到的最高PBR效率要略低近4个百分点。相关设计及结果可为基于DMD的DOPC光学聚焦系统的设计、日常调试等提供新方法及理论指导。

关键词：光学聚焦散射介质光学相位共轭数字微镜装置峰背比

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EPM—810Q电子探针波谱仪的修理

云南大学学报（自然科学版） 1995年第S1期17卷 98-99,102页

作者：李恩福刘经权云南锡业公司研究所

本文叙述了ＥＰＭ—８１０Ｑ电子探针波谱仪的工作原理，及其修理和调整，所得到的结果，对同行维修波谱仪有一定的借鉴作用．

关键词：罗兰圆布拉格定律峰背比

从光电子谱的峰背比及背景信号变化获得成分深度分布信息

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材料科学与工程 2002年第4期20卷 478-481页

作者：季振国朱玲浙江大学硅材料国家重点实验室浙江大学发展规划部浙江杭州310027

光电子谱中的背景信号包含样品的信息 ,但过去往往被忽略。通过对背景信号简单的分析 ,可以获得成分随深度变化的信息。本文介绍了如何利用光电子谱的背景信号获得元素在深度方向的分布情况。本文所述方法可以用于纳米镶嵌结构、包裹物... 详细信息

光电子谱中的背景信号包含样品的信息 ,但过去往往被忽略。通过对背景信号简单的分析 ,可以获得成分随深度变化的信息。本文介绍了如何利用光电子谱的背景信号获得元素在深度方向的分布情况。本文所述方法可以用于纳米镶嵌结构、包裹物、表面偏析、氧化。

关键词：峰背比光电子谱背景信号深度剖析材料表面分析

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光栅在微区成份分析中的应用

分析仪器 1981年第4期 69-76页

作者：李春远中国科学院地球化学研究所

光栅分光是六十年代发展起来的一门新的分析测试技术。当时对波长范围0.1A～500A的X射线和紫外线光谱学的研究兴趣形成一个高潮,这是由于在此波长范围中,除利用电子探针或X射线荧光作元素分析外,还可进行地球外X射线源,等离子发射,经典... 详细信息

光栅分光是六十年代发展起来的一门新的分析测试技术。当时对波长范围0.1A～500A的X射线和紫外线光谱学的研究兴趣形成一个高潮,这是由于在此波长范围中,除利用电子探针或X射线荧光作元素分析外,还可进行地球外X射线源,等离子发射,经典的发射和吸收过程,以及化学和原子价态等的分析研究。而在500A—100A波长范围内,衍射光栅几乎

关键词：光栅参数峰值强度峰背比衍射光栅光栅方程