检索结果-南通市图书馆

爆炸与冲击 2015年第5期35卷 758-762页

作者：王燕马铁华徐鹏范锦彪中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室山西太原030051 中北大学计算机与控制工程学院山西太原030051

针对侵彻多层硬目标过程中实测加速度信号的振荡叠加,以及可能引起的层数误判问题,采用时频分析法研究弹体主轴方向加速度信号的Choi-Williams能量分布特征,提出了以侵彻过程加速度信号的能量分布为依据的层数识别方法。侵彻8层等间距... 详细信息

针对侵彻多层硬目标过程中实测加速度信号的振荡叠加,以及可能引起的层数误判问题,采用时频分析法研究弹体主轴方向加速度信号的Choi-Williams能量分布特征,提出了以侵彻过程加速度信号的能量分布为依据的层数识别方法。侵彻8层等间距混凝土靶板的实测数据处理结果表明,该方法可快速准确实现层数识别,解决了低通滤波方法无法获取准确层数信息的问题,为实时控制起爆位置提供依据。

关键词：爆炸力学层数识别 Choi-Williams分布多层硬目标侵彻加速度

来源：

维普期刊数据库

同方期刊数据库评论

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

多层侵彻引信层数识别研究

引用

电子器件 2019年第3期42卷 761-766页

作者：韩晓斐王燕焦聪中北大学电子测试技术重点实验室太原030051 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室太原030051

为了实现侵彻武器对炸点的精准控制,达到最佳的毁伤效果,多层侵彻引信层数的精确识别至关重要。传统的计层技术基于侵彻过载的轴向加速度阈值来识别层数,这种方法非常容易产生误判,从而导致侵彻弹的毁伤效果大打折扣。因此,提出一种新... 详细信息

为了实现侵彻武器对炸点的精准控制,达到最佳的毁伤效果,多层侵彻引信层数的精确识别至关重要。传统的计层技术基于侵彻过载的轴向加速度阈值来识别层数,这种方法非常容易产生误判,从而导致侵彻弹的毁伤效果大打折扣。因此,提出一种新型识别方法,采用短时傅里叶变换来对多层侵彻信号进行处理,通过对其频率成分的分析以及梯度的提取,然后获得其频率变换随时间的的曲线,根据其频率成分来获取层数信息,最后通过实测信号进行分析比较验证,进而验证了该方法的可行性。

关键词：侵彻引信层数识别信号获取时频分析

来源：

维普期刊数据库

同方期刊数据库评论

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

多层侵彻引信过载信号获取及层数识别技术研究

多层侵彻引信过载信号获取及层数识别技术研究

引用

作者：焦聪中北大学

学位级别：硕士

现代化的战争中,侵彻武器的作用越来越大,而硬目标灵巧引信的研究是其关键技术之一,其主要发挥的作用就是实现对炸点的精准控制从而达到最佳毁伤效果。引信的发展从传统的定时引信发展到现在的计层、计深、介质识别等多功能智能引信,其... 详细信息

现代化的战争中,侵彻武器的作用越来越大,而硬目标灵巧引信的研究是其关键技术之一,其主要发挥的作用就是实现对炸点的精准控制从而达到最佳毁伤效果。引信的发展从传统的定时引信发展到现在的计层、计深、介质识别等多功能智能引信,其向着高精度高智能化的方向在发展。由于侵彻弹在对目标体进行毁伤的过程中需要经受高冲击的恶劣环境的持续作用,而且弹体可用的空间又小,炸点控制复杂。因此,硬目标灵巧引信的技术研究对我国国防事业的发展具有重大意义,本文主要针对计层引信展开相关研究。计层引信技术是一种普遍且较为准确的一种引信炸点控制方法,传统的计层技术是基于阈值判别来进行层数的判断,这种方法的缺陷在于,对于一些复杂的或者干扰比较强的情况下容易产生误判,这样就导致整个侵彻弹的毁伤效果大打折扣,为此本文就对计层信号的识别展开深入研究。首先在对计层识别方法验证之前,我们需要对多层侵彻信号进行获取,为此本文设计了一套多层侵彻测试电路来对其信号进行获取。与侵彻单层靶相比,多层侵彻信号更为复杂,其加速度的获取以及测试装置的生存都是难点,加速度传感器的选择需要考虑零漂问题以及存活问题,零漂严重将会导致计层识别6变得不准,为此选择零漂较小的压阻传感器。多层侵彻电路的缓冲材料问题需要考虑到缓冲材料的持续性,单纯的泡沫铝在一次冲击过程其缓冲作用就基本不在了,为此采用泡沫铝和薄壁铝管的混合缓冲材料,解决了多层侵彻过程中电路的存活性问题。其次在计层识别的方法上提出一种新型识别方法,采用短时傅里叶变换来对多层侵彻信号进行处理,通过对其频率成分的分析,以及梯度的提取,最后获得其频率变换随时间的的曲线,根据其频率成分来获取层数信息,通过和小波变换处理的比较,得出了此种方法的优越性,最后通过实测信号进行分析,进而验证了该方法的可行性。

关键词：层数识别信号获取时频分析小波分析侵彻引信

来源：

同方学位论文库评论

在线全文

同方学位论文库

学校读者我要写书评

暂无评论

二维过渡金属硫族化物的制备、层数识别与光学性质研究

二维过渡金属硫族化物的制备、层数识别与光学性质研究

引用

作者：李新书东北师范大学

学位级别：硕士

自从2004年石墨烯被成功制备以来,人们对二维纳米材料体系的研究兴趣逐步升温,截止至今,已经有超过2000多种二维材料被相继报道。其中,类石墨烯结构的过渡金属硫族化物(TMDs)作为典型二维材料有着独特的电子能带结构,并且其能带结构对... 详细信息

自从2004年石墨烯被成功制备以来,人们对二维纳米材料体系的研究兴趣逐步升温,截止至今,已经有超过2000多种二维材料被相继报道。其中,类石墨烯结构的过渡金属硫族化物(TMDs)作为典型二维材料有着独特的电子能带结构,并且其能带结构对自身层数有着较强的依赖性。常见的TMDs(例如:MoS,WS,WSe,MoSe等)随着层数减少到单层,能带结构会从间接带隙转变为直接带隙结构。这就使得二维TMDs材料的光学、电学等性质随之发生显著的改变。所以,如何准确、快速并且无损地识别TMDs材料的层数是其在基础研究和实际应用时的关键一步。为此,本论文以机械剥离法和化学气相沉积法(CVD)制备了不同层数的MoS、WS和WSe纳米薄膜;在此基础上,建立了少层样品层数与其光学衬度、拉曼光谱以及光致发光谱的定量对应关系。同时,利用不同电负性材料对单层MoS的光学性质进行调控,充分理解TMDs体系中的多激子束缚态(many-body bound state)机制。主要内容如下:(1)通过机械剥离和CVD制备不同厚度的MoS、WS、WSe片层纳米膜,用光学显微镜、扫描电子显微镜(SEM)、原子力显微镜(AFM)、拉曼光谱以及光致发光谱对样品的形貌和光学性质进行了表征。并且,对比研究了生长温度以及硫粉的量的变化对CVD制备的MoS片层样品的影响。(2)利用AFM技术对制备的样品进行厚度表征,确定其具体层数。在此基础上,探究了样品层数改变时光学显微镜图像的衬度值、拉曼光谱中A与E 振动模式的频率差值以及光致发光谱中间接跃迁与直接跃迁发光的峰位差值(记为λ)的变化,指出它们二维TMDs材料层数识别中的潜在应用以及不足之处。(3)随着少层样品的层数改变,光致发光谱中λ也会随之发生大幅度变化。所以,我们提出用λ快速准确地识别常见TMDs材料少层的层数。为此,我们对WS和WSe的能带结构进行了密度泛函理论(DFT)计算,证明W的d轨道和S(或Se)的p轨道的电子状态密度在布里渊区高对称点的分布差异是造成直接跃迁发光比间接跃迁发光层数依赖性更强的主要原因。(4)为了探究多激子束缚态对单层TMDs的光学性质的影响,我们采用电负性不同的物质对单层MoS进行表面修饰。载流子的转移效应改变了MoS的电子浓度,这实现了对单层MoS的有效的掺杂及其中性激子(exciton)和负电三子(trion)的转化,从而调控了它的光学性质。并且,我们借助“三能级模型”(Three-level model)和“质量作用模型”(Mass action model)计算了不同物质掺杂时单层MoS中电子浓度的改变。

关键词：二维材料过渡金属硫族化物制备层数识别光学性质

来源：

同方学位论文库评论

在线全文

同方学位论文库

学校读者我要写书评

暂无评论

超薄材料光谱椭偏测量研究

超薄材料光谱椭偏测量研究

引用

作者：祝思敏华中科技大学

学位级别：硕士

伴随技术创新,光电器件逐渐微型化,也促使薄膜厚度越来越薄。以前可能被忽略不计的几个纳米厚度的超薄材料成为研究的焦点。这些超薄材料具有与块体材料不同的光电性质,且光学常数会随着厚度发生改变。无论是在基础科学研究还是光电子... 详细信息

伴随技术创新,光电器件逐渐微型化,也促使薄膜厚度越来越薄。以前可能被忽略不计的几个纳米厚度的超薄材料成为研究的焦点。这些超薄材料具有与块体材料不同的光电性质,且光学常数会随着厚度发生改变。无论是在基础科学研究还是光电子器件的设计优化中,都需要准确获取超薄材料的厚度和光学性质。光谱椭偏测量在超薄材料的几何结构参数和光学常数测量中广泛应用。本文在传统椭偏测量数据分析方法的基础上,研究了如何实现超薄材料基于椭偏参数的层数快速识别,提出了基于解析求解的快速获取超薄材料光学常数的计算方法。具体内容如下:(1)研究了基于模型拟合的超薄材料椭偏测量基本理论方法。本文阐述了椭偏测量的基本原理、膜系的光学特性建模、粗糙界面处理方法、基于拟合的待测参数提取方法。通过上述光谱椭偏理论方法测量提取了石墨烯光学常数。(2)针对超薄层状材料的层数快速识别问题,通过建模仿真,以透明基底上的石墨烯为例,实现椭偏测量快速识别二维材料层数,且对比度明显,优于光学识别方法。通过椭偏测量实验,验证了方法的可行性,达到了快速识别二维材料层数的目的。(3)针对超薄材料光学常数椭偏测量数据分析,提出了在无先验知识条件下快速直接的光学常数正向解析计算方法。通过仿真对该方法的适用范围进行了研究,并将其应用到石墨烯、二硫化钼和二硒化钨等二维材料上,获得了这些二维材料的光学常数,证明了该方法的有效性。本文提出的理论方法和实验测量结果将为提高椭偏测量超薄材料的能力提供指导思路,为超薄材料研究及应用铺平道路。

关键词：椭偏测量超薄材料二维材料层数识别光学常数

来源：

同方学位论文库评论

在线全文

同方学位论文库

学校读者我要写书评

暂无评论

欢迎您,

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

在线全文

在线全文

在线全文

在线全文

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

欢迎您,

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

在线全文

在线全文

在线全文

在线全文

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：