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双极型晶体管损坏与强电磁脉冲注入位置的关系
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强激光与粒子束 2006年 第4期18卷 689-692页
作者: 周怀安 杜正伟 龚克 清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室 北京100084
利用时域有限差分法,对双极型晶体管(BJT)在强电磁脉冲作用下的瞬态响应进行了2维数值模拟,研究了电磁脉冲从不同极板注入时BJT的响应情况,根据温度分布的集中程度分析了发生烧毁的难易程度。模拟得出:发射极注入最容易导致烧毁,集电极... 详细信息
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双极型晶体管在强电磁脉冲作用下的瞬态响应
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强激光与粒子束 2005年 第12期17卷 1861-1864页
作者: 周怀安 杜正伟 龚克 清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室 北京100084
利用时域有限差分法,对双极型晶体管在强电磁脉冲作用下的瞬态响应进行了2维数值模拟,分析了器件烧毁过程中电场、电流密度、温度等参数的分布及变化情况,分别观察了低电压和高电压脉冲作用下烧毁过程中热点的形成过程,并得到了器件烧... 详细信息
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硅锗基区异质结双极型晶体管的研究进展
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电子学报 1993年 第8期21卷 67-73,54页
作者: 阮刚 复旦大学微电子学研究所 上海200433
本文综述了SiGe-HBT工艺及性能研究的最新进展,提出了若干重要的研究课题.
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外电路在电磁脉冲对双极型晶体管作用过程中的影响
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强激光与粒子束 2007年 第7期19卷 1197-1202页
作者: 陈曦 杜正伟 龚克 清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室 北京100084
借助自主开发的2维半导体器件-电路联合仿真器,研究了电磁脉冲从发射极注入双极型晶体管时,外电路的影响,分析了共基极接法晶体管的电流分配系数,然后在此基础上研究了3种典外电路元件的影响。结果表明:当脉冲从发射极注入时,基极外... 详细信息
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基极注入HPM导致的双极型晶体管失效分析
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西安电子科技大学学报 2014年 第1期41卷 92-97页
作者: 范菊平 游海龙 贾新章 西安电子科技大学微电子学院 陕西西安710071 西安电子科技大学宽禁带半导体材料与器件教育部重点实验室 陕西西安710071
为了研究高功率微波对双极型晶体管的作用,在双极型晶体管基极直接注入高功率微波效应实验现象的基础上,建立了高功率微波作用于双极型器件的物理过程与模,并通过器件仿真,分析确定了高功率微波引起器件失效的主要原因是:高功率微波... 详细信息
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基极注入强电磁脉冲对双极型晶体管的作用
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强激光与粒子束 2007年 第3期19卷 449-452页
作者: 陈曦 杜正伟 龚克 清华大学电子工程系微波与数字通信技术国家重点实验室 北京100084
空间电磁脉冲注入硅双极型晶体管后可能会导致晶体管烧毁。借助2维数值仿真和理论分析研究了基极注入短电磁脉冲对双极型晶体管的作用,得出结论:晶体管的热斑位于基极边缘,由于该点既是电场峰所在,又是电流最密集之处,热量产生集中,因... 详细信息
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双极型晶体管GP模参数自动提取系统
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华中理工大学学报 1999年 第6期27卷 13-15页
作者: 高俊雄 于军 周文利 郑远开 华中理工大学电子科学与技术系
在叙述晶体管参数提取原理的基础上,着重介绍了自制晶体管GP模参数自动提取系统的工作原理.该系统通过计算机控制实现数据自动采集、采用模参数总体优化提取方法提取晶体管GP模参数.运用该系统对MJE13005晶体... 详细信息
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双极型晶体管电流增益温度特性的研究
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微电子学 2014年 第2期44卷 233-236页
作者: 赵利 张小玲 陈成菊 谢雪松 齐浩淳 吕长志 肖文杰 北京工业大学 北京100124 海军701工厂 北京100015
修正了电流增益表达式。对样品3DK105B在不同温度点下进行测试分析。考虑样品理想因子n随温度的变化、VBE随温度的变化,以及禁带宽度随温度变化对电流增益的影响,对电流增益表达式进行了修正,使修正后的结果更加接近实际测试结果。
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双极型晶体管EM大信号模参数提取方法探讨
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实验室研究与探索 2014年 第8期33卷 62-65页
作者: 刘海涛 甘平 黄扬帆 温志渝 重庆大学国家电工电子实验教学示范中心 重庆400030
集成电路设计过程中离不开计算机模拟,模拟的精确度不仅与器件模本身有关,还与给定的器件模参数值是否正确密切有关,所以准确地提取器件的模参数显得至关重要。双极型晶体管是集成电路中重要组成单元,为提高学生对集成电路设计中... 详细信息
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双极型晶体管结温在线测量方法的研究及应用
双极型晶体管结温在线测量方法的研究及应用
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作者: 丁嫣 北京工业大学
学位级别:硕士
双极型晶体管(BJT)以其良好的增益放大、功率控制、高速开关等特性,被广泛地应用于航空航天工程、医疗器械等领域的放大电路、开关控制等模块中。通常来讲,温度每上升10℃,双极型晶体管的寿命下降一半,结温是制约器件使用可靠性的关键因... 详细信息
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