咨询与建议
  • 全部检索
  • 电子图书
  • 电子期刊
  • 纸本馆藏
  • 南通市公共图书馆
高级检索

限定检索结果

文献类型

  • 3 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 3 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 3 篇 工学
    • 2 篇 电子科学与技术（可...
    • 1 篇 计算机科学与技术...

主题

  • 3 篇 单跳变序列
  • 2 篇 双向量测试
  • 2 篇 时延故障
  • 2 篇 内建自测试
  • 1 篇 自测试
  • 1 篇 测试序列生成
  • 1 篇 时延故障测试
  • 1 篇 通路时延故障
  • 1 篇 阵列乘法器
  • 1 篇 可测性设计

机构

  • 3 篇 电子科技大学

作者

  • 3 篇 杨德才
  • 3 篇 陈光
  • 3 篇 谢永乐

语言

  • 3 篇 中文
检索条件"主题词=单跳变序列"
共 3 条 记 录，以下是1-10 订阅
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到"检索档案"
详细 简洁
排序：
累加器实现的时延故障单跳变测试序列生成
收藏
分享
引用
电子科技大学学报 2008年 第2期37卷 238-240,243页
作者： 杨德才 陈光 谢永乐 电子科技大学自动化工程学院 成都610054
时延故障的内建自测试通常需要施加测试向量对,包括多跳变向量与单跳变向量。理论与实践表明,单跳变向量比多跳变向量具有更高的强健时延故障覆盖。该文提出了一种采用累加器的单跳变向量生成方案,与以往的方法相比,具有更低的硬件成本... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
基于累加器的时延故障单跳变测试序列生成
收藏
分享
引用
电子测量与仪器学报 2007年 第6期21卷 1-4页
作者： 杨德才 谢永乐 陈光 电子科技大学自动化工程学院
对时延故障测试提出了一种采用累加器实现测试序列生成的方案。该方案通过对累加器作可测性设计,并复用其硬件电路,所生成的测试序列具有单个位跳变特性。已有的理论和实验结果都表明这种单跳变测试序列在时延故障测试中具有比多跳变序... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
阵列乘法器通路时延故障的内建自测试
收藏
分享
引用
电子与信息学报 2009年 第1期31卷 238-241页
作者： 杨德才 陈光 谢永乐 电子科技大学自动化工程学院 成都610054
阵列乘法器因高度集成和高速运行,容易受到时延故障的困扰。该文对阵列乘法器的通路时延故障提出了一种用累加器实现的以单跳变序列作为测试序列的内建自测试方案。已有的理论和实践表明采用单跳变测试序列比多跳变序列具有更高的测试... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
全选 清除本页 清除全部 题录导出 标记到“检索档案”
共1页 <<  < 1 >  >>
回到顶部
执行限定条件