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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 机械工程
    • 1 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 1 篇 加权曲面拟合
  • 1 篇 芯片翘曲度检测
  • 1 篇 单目条纹结构光
  • 1 篇 三维重建

机构

  • 1 篇 上海交通大学

作者

  • 1 篇 蔡万源
  • 1 篇 范子健
  • 1 篇 吕娜
  • 1 篇 陶卫

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=单目条纹结构光"
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基于条纹结构光的芯片翘曲度检测系统
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电子学进展 2025年
作者: 范子健 蔡万源 吕娜 陶卫 上海交通大学电子信息与电气工程学院仪器科学与电气工程系
目前,我国在高端芯片封装和检测领域技术水平存在一定短板,尤其在芯片热循环过程中对微小翘曲度的高精度测量方面缺乏成熟的检测手段,影响了芯片性能优化与封装工艺提升。为解决这一难题,本文设计搭建了一种基于单目条纹结构光的三... 详细信息
来源: 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论