检索结果-南通市图书馆

电子学报 2021年第9期49卷 1708-1715页

作者：吕阳钱斌胡蓉张梓琪昆明理工大学信息工程与自动化学院云南昆明650500 昆明理工大学云南省人工智能重点实验室云南昆明650500

本文提出一种增强人工蜂群算法(Enhanced Artificial Bee Colony,EABC),用于最小化半导体最终测试调度问题(Semiconductor Final Testing Scheduling Problem,SFTSP)的最大完工时间.该算法采用混合启发式方法初始化种群,并利用前插式解... 详细信息

本文提出一种增强人工蜂群算法(Enhanced Artificial Bee Colony,EABC),用于最小化半导体最终测试调度问题(Semiconductor Final Testing Scheduling Problem,SFTSP)的最大完工时间.该算法采用混合启发式方法初始化种群,并利用前插式解码策略来提高初始解的质量.在算法搜索阶段设计多种基于问题性质的探索策略和基于贝叶斯网络的概率模型对问题解空间进行深度与宽度的协同搜索.此外,提出基于重启策略的种群更新机制以加强算法跳出局部最优的能力.实验部分构造多种对比算法来验证EABC中各关键环节的有效性.通过基于实例的数值仿真以及与NFOA(Novel Fruit fly Optimization Algorithm)、KMEA(Knowledge-based Multi-agent Evolutionary Algorithm)和CCIWO(Cooperative Co-evolutionary Invasive Weed Optimization)的算法比较验证了EABC的有效性和鲁棒性.

关键词：半导体最终测试人工蜂群算法启发式规则贝叶斯网络多策略融合概率模型排序模型

来源：

维普期刊数据库

同方期刊数据库评论

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

改进的微粒群算法在半导体最终测试批处理调度模型中的应用

改进的微粒群算法在半导体最终测试批处理调度模型中的应用

引用

作者：李宇飞西南交通大学

学位级别：硕士

随着信息产业的快速发展,我国已把半导体制造产业做为政府重点推动发展的战略性产业。半导体是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,我们常说的集成电路、芯片、晶体管、CPU等都属于半导体。通常,半导体产品生产线由上百个加工... 详细信息

随着信息产业的快速发展,我国已把半导体制造产业做为政府重点推动发展的战略性产业。半导体是指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,我们常说的集成电路、芯片、晶体管、CPU等都属于半导体。通常,半导体产品生产线由上百个加工步骤组成,并具有不同于其他制造业的批处理加工、多重入加工等特点。其中,对于半导体生产线中批处理机的调度问题研究是目前研究的热点和难点之一。在半导体制造步骤中,清洁,扩散,氧化,腐蚀,离子注入,电子束写作(晶圆制造阶段),烘烤(晶圆探测)和老化作业(测试)等步骤都是批处理作业。本文研究了交叉微粒群算法在半导体最终测试阶段批处理机调度问题中的应用。本文首先对批处理机调度问题的特点和目前研究所用的主要研究方法进行了总结。接着本文介绍了基本微粒群算法的起源与基本原理,并通过对基本微粒群算法的改进,提出一种改进的交叉微粒群算法;最终将改进后的微粒群算法用于半导体最终测试中的单批处理机问题和并行多批处理机问题。研究得出交叉粒子群算法在求解批处理机调度问题上的可行性与高效性。

关键词：半导体最终测试生产调度批处理机微粒群算法

来源：

同方学位论文库评论

在线全文

同方学位论文库

学校读者我要写书评

暂无评论

半导体芯片最终测试多阶段可重入调度优化仿真研究

半导体芯片最终测试多阶段可重入调度优化仿真研究

引用

作者：杨国朋西南交通大学

学位级别：硕士

半导体生产线技术工艺复杂,设备数量及类型繁多,并行与串行加工共存,且具有明显的可重入特性,即工件在加工工艺的不同阶段多次重复访问同一加工设备或者设备组。半导体生产线最终测试阶段,作为半导体生产线中重要的一部分,具有上述所有... 详细信息

半导体生产线技术工艺复杂,设备数量及类型繁多,并行与串行加工共存,且具有明显的可重入特性,即工件在加工工艺的不同阶段多次重复访问同一加工设备或者设备组。半导体生产线最终测试阶段,作为半导体生产线中重要的一部分,具有上述所有特点。如何对整条或部分半导体生产线进行建模与优化,已成为学术界和工业界亟需解决的问题。传统的运筹学方法和启发式方法难以求解这类复杂的调度问题,而随着计算机仿真技术的发展,仿真建模逐步成为解决复杂问题的强大工具。本文正是借助ExtendSim仿真平台,对半导体芯片最终测试多阶段可重入(Final Testing with Multistage Re-entry, FTMR)调度问题进行建模与优化。本文针对半导体芯片最终测试阶段可重入调度问题目前的相关研究理论和方法进行总结归纳,并在已有研究的基础上提出半导体芯片FTMR物理模型和数学模型,给出用于解决此类问题的缓冲区-时间(Buffer-Time, B-T)派工规则;依据物理模型和数学模型搭建了ExtendSim仿真模型,并对半导体芯片测试中常用的投料策略和派工规则进行分析比较,并利用软件内置遗传算法(Genetic Algorithm, GA)对仿真结果进行优化;接着介绍了嵌套分区算法(Nested Partition Algorithm, NPA或NP算法)的基本原理,并结合半导体芯片FTMR的特征和ExtendSim仿真软件的特点,构建了ExtendSim软件的嵌套分区算法模块;论文最后比较了遗传算法和嵌套分区算法在求解FTMR时的可行性与有效性。

关键词：半导体最终测试多阶段可重入调度 ExtendSim仿真嵌套分区算法

来源：

同方学位论文库评论

在线全文

同方学位论文库

学校读者我要写书评

暂无评论

精益生产在芯片测试产线中的应用

引用

中国集成电路 2024年第9期33卷 71-75页

作者：蔡晓峰余凯邓敏夏民强宏茂微电子(上海)有限公司

精益生产是许多企业所希望达到的生产模式。本文主要探讨了精益生产的定义,核心原则以及精益生产在芯片测试产线中的应用意义。文章通过对一般芯片测试生产流程的介绍以及分析芯片测试生产过程中存在的问题和改善方向,详细讲述了实施精... 详细信息

精益生产是许多企业所希望达到的生产模式。本文主要探讨了精益生产的定义,核心原则以及精益生产在芯片测试产线中的应用意义。文章通过对一般芯片测试生产流程的介绍以及分析芯片测试生产过程中存在的问题和改善方向,详细讲述了实施精益生产的运用案例,旨在达到实现了生产效率的显著提升、测试周期的缩短和测试成本的降低,同时提高了产品质量和客户满意度。此外,文章强调了持续改进意识的重要性,并提出了精益生产未来持续深入改进的方向。最后,文章总结精益生产给企业带来的显著成效,并展望继续通过引入更为先进的流程管理方法和工具,持续深化精益生产理念的应用,确保企业持续发展并保持领先地位。

关键词：半导体最终测试精益生产价值流持续改进自动化技术

来源：

维普期刊数据库

同方期刊数据库评论

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

欢迎您,

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

在线全文

在线全文

在线全文

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：

通借通还

欢迎您,

建议与咨询 留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

时间限定

文献类型

馆藏选择

核心期刊

语言

文献类型

帮助

文字说明：

检索规则说明：

检索范例：

分类表

所选分类

限定检索结果

文献类型

馆藏范围

日期分布

学科分类号

主题

机构

作者

语言

在线全文

在线全文

在线全文

在线全文

请选择保存的检索档案： 新增检索档案 确定 取消

请选择收藏分类： 新增自定义分类 确定 取消

通借通还

建议与咨询留下您的常用邮箱和电话号码，以便我们向您反馈解决方案和替代方法

请选择保存的检索档案：

请选择收藏分类：