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势垒硅掺杂对GaN基LED极化电场及其光电性能的影响
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发光学报 2018年 第10期39卷 1445-1450页
作者: 张正宜 王超 山西交通职业技术学院信息工程系 山西太原030031 兰州交通大学光电技术与智能控制教育部重点实验室 甘肃兰州730070
势垒硅掺杂对InGaN量子阱中的电场及LED器件的光电性能有着重要的影响。采用6×6 K·P方法计算了不同势垒硅掺杂浓度对量子阱中电场的变化,研究表明当势垒硅掺杂浓度>1e^(18)cm^(-3)时,阱垒界面处的电场强度会变大,这主要是由于硅掺杂... 详细信息
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InAsSb势垒阻挡型红外探测器暗电流特性研究
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红外与毫米波学报 2022年 第5期41卷 810-817页
作者: 陈冬琼 王海澎 秦强 邓功荣 尚发兰 谭英 孔金丞 胡赞东 太云见 袁俊 赵鹏 赵俊 杨文运 昆明物理研究所 云南昆明650223
计算了不同温度下由辐射复合和俄歇复合决定的InAsSb材料的载流子寿命,结果表明,低温下n型InAsSb材料的载流子寿命受限于辐射复合过程,而高温下InAsSb材料的载流子寿命取决于Auger 1复合过程。讨论了势垒阻挡型器件的暗电流解析模型及... 详细信息
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添加势垒(阱)对光孤子在自聚焦克尔介质中传输的操控作用
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光子学报 2018年 第9期47卷 207-214页
作者: 李淑青 乔士柱 程永喜 闫乙伟 马慧莲 太原工业学院理学系 太原030008
为了操控在非线性克尔介质中传输的光孤子,以薛定谔方程为模型,采用分步傅里叶数值模拟的方法,分别研究了在非线性自聚焦克尔介质中添加高斯势垒、高斯势阱、Scarf-Ⅱ势垒(阱)和周期势垒(阱)后,光孤子在非线性克尔介质中的传输情况.通... 详细信息
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有机-无机复合薄膜电致发光器件中势垒对光电性能的影响
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光电子.激光 2012年 第1期23卷 46-50页
作者: 曲崇 徐征 张世玉 冯贞健 田丽杰 鲁东大学物理学院 山东烟台264025 北京交通大学光电子技术研究所 北京100044
利用无机非晶SiO2与有机聚合物PPV复合制备了异质结器件,研究了不同层之间由于能级匹配而产生的势垒对整个器件的光电性能的影响。对于单层有机器件ITO/PPV/Al及双层有机无机复合器件ITO/PPV/SiO2/Al,空穴的注入取决于ITO/PPV界面的势垒... 详细信息
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双模压缩真空态和纠缠相干态的一维势垒散射
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物理学报 2010年 第1期59卷 80-86页
作者: 陈星 夏云杰 山东省激光偏光与信息技术重点实验室、曲阜师范大学物理系 曲阜273165
分析了双模压缩真空态和纠缠相干态的一维势垒散射问题,结果表明,两种散射态的纠缠度都随势垒的透射系数呈类抛物线关系,且抛物线谷底对应半反半透势垒.前者的纠缠度还随入射压缩因子呈类抛物线关系,后者随入射纠缠呈线性关系.两种散射... 详细信息
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电子在半导体多势垒结构中隧穿现象的研究与进展
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固体电子学研究与进展 2005年 第4期25卷 450-455页
作者: 王洪梅 刘丕均 张亚非 薄膜与微细技术教育部重点实验室
文中以探索多势垒结构的电子隧穿物理及其器件结构与性能为出发点,论述了多势垒结构隧穿现象的研究与进展。概述了一维半导体异质结构隧穿现象的解析解和数值计算。重点介绍了电子通过半导体双势垒结构产生隧穿现象的研究进展,即电子通... 详细信息
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分数系统中势垒对啁啾高斯光束的影响
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光学学报 2022年 第13期42卷 128-134页
作者: 房立芝 宋丽军 陈胜杰 山西大学物理电子工程学院 山西太原030006
基于包含势垒的变系数分数薛定谔方程,采用数值模拟和解析相结合的方法研究了啁啾参量和势垒函数对高斯光束传输动力学的影响。结果表明:线性啁啾会削弱分裂后其中一束子光束的强度,而二次啁啾会改变光束的呼吸幅度和宽度,使得光束不再... 详细信息
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双模压缩真空态的一维势垒散射
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光电子.激光 2009年 第10期20卷 1410-1413页
作者: 陈星 曲阜师范大学物理系山东省激光偏光与信息技术重点实验室 山东曲阜273165
提出了计算两体连续变量纠缠态散射的一种方法。证明了一维势垒与分束器等价,并计算了双模压缩真空态的一维势垒散射。计算发现,双模压缩真空态经过一维势垒散射后,将失去纠缠,但可以有非零保真度,并且保真度随压缩因子的增大而减小。
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摩擦磨损的接触界面势垒理论研究
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摩擦学学报 2007年 第1期27卷 54-59页
作者: 许中明 黄平 华南理工大学机械工程学院 广东广州510640
根据系统和能量的观点,从摩擦界面的微观相互作用出发,提出摩擦磨损的接触界面势垒理论,研究接触界面势垒和标准接触界面势垒的计算方法,并推导出摩擦力、摩擦系数以及粘着磨损量的计算公式.研究表明,界面的摩擦磨损性能取决于接触界面... 详细信息
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弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒的探测
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物理学报 1995年 第1期44卷 133-136页
作者: 白春礼 郭仪 中国科学院化学研究所 北京100080
用弹道电子发射显微镜对Au/n-Si(100)界面势垒测试,直接得出定点的势垒特性和纳米尺度的界面图象.通过所测的I_(c)-V曲线,可得所测点的肖特基势垒高度及电荷传输特性.界面图象可以显示界面极小范围内势垒的特性.
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