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文献类型

  • 1 篇 期刊文献
  • 1 篇 学位论文

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  • 2 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 2 篇 工学
    • 2 篇 材料科学与工程(可...
    • 2 篇 电子科学与技术(可...

主题

  • 2 篇 刻蚀垂直度
  • 2 篇 工艺参数
  • 1 篇 过程优化
  • 1 篇 icp刻蚀
  • 1 篇 电感耦合等离子体...
  • 1 篇 正交实验
  • 1 篇 mems
  • 1 篇 温度传感器

机构

  • 2 篇 合肥工业大学
  • 1 篇 中国兵器工业集团...

作者

  • 2 篇 刘方方
  • 1 篇 黄斌
  • 1 篇 管朋
  • 1 篇 许高斌
  • 1 篇 展明浩

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=刻蚀垂直度"
2 条 记 录,以下是1-10 订阅
排序:
ICP硅深刻蚀槽壁垂直度的研究
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微纳电子技术 2015年 第3期52卷 185-190页
作者: 刘方方 展明浩 许高斌 黄斌 管朋 合肥工业大学电子科学与应用物理学院安徽省MEMS工程技术研究中心 合肥230009 中国兵器工业集团北方通用电子集团有限公司 安徽蚌埠233042
电感耦合等离子体(ICP)刻蚀技术是体硅深加工的一项关键技术。介绍了ICP刻蚀技术的相关概念与方法,在对Si(100)进行大量深刻蚀实验的基础上,深入分析刻蚀∕钝化周期、极板功率、SF6/C4F8气体流量和腔室压力等主要工艺参数对刻蚀侧壁垂... 详细信息
来源: 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 博看期刊 评论
MEMS温传感器中ICP刻蚀技术研究
MEMS温度传感器中ICP刻蚀技术研究
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作者: 刘方方 合肥工业大学
学位级别:硕士
随着MEMS传感器应用越来越普及,在对其加工工艺的要求也在不断提高。作为MEMS器件加工的一项关键技术——ICP刻蚀技术,因其刻蚀过程自动化程高、刻蚀侧壁垂直度好、大面积刻蚀均匀性好及污染少等优点,目前被广泛应用于体硅MEMS工艺中... 详细信息
来源: 同方学位论文库 同方学位论文库 评论