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文献类型

  • 2 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 2 篇 电子文献
  • 0 种 纸本馆藏

日期分布

学科分类号

  • 2 篇 工学
    • 2 篇 电子科学与技术（可...

主题

  • 2 篇 内建可测性设计
  • 1 篇 串并转换
  • 1 篇 晶元测试
  • 1 篇 电源管理单元
  • 1 篇 封装测试
  • 1 篇 引脚复用技术
  • 1 篇 dc—dc变换器

机构

  • 1 篇 西安邮电学院
  • 1 篇 西安电子科技大学

作者

  • 1 篇 来新泉
  • 1 篇 谢庆胜
  • 1 篇 李演明
  • 1 篇 叶强
  • 1 篇 张斌
  • 1 篇 袁冰
  • 1 篇 杨健
  • 1 篇 王红义
  • 1 篇 徐东明

语言

  • 2 篇 中文
检索条件"主题词=内建可测性设计"
共 2 条 记 录，以下是1-10 订阅
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用于晶元及封装测试的DC-DC内建可测性设计
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固体电子学研究与进展 2008年 第4期28卷 581-585,606页
作者： 袁冰 来新泉 李演明 叶强 王红义 西安电子科技大学微电子学院 西安710071 西安电子科技大学电路CAD所 西安710071
针对单片DC-DC变换器进行了内建可测性设计。通过控制外围引脚使芯片进入一种特殊的测试状态,利用引脚复用技术,实现对基准电压、振荡频率、导通电阻等多种特性指标的测量。该方法无须外围专用控制结构配合,对于晶元以及封装后的芯片测... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
用于电源管理单元的内建可测性设计
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引用
科技信息 2010年 第1X期 68-69页
作者： 杨健 徐东明 张斌 谢庆胜 西安邮电学院通信工程系 陕西西安710061
电源管理单元内部集成多个LDO和Buck调整器,需要检测和控制众多的参数。本文以串并转换思想和引脚复用技术为基础,提出一种通用的内建可测性设计方法,不需要增加引脚数目,外围控制电路简单,内部测试电路规模小,可移植。芯片采用SMIC公司... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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