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文献类型

  • 1 篇 期刊文献

馆藏范围

  • 1 篇 电子文献
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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 核科学与技术

主题

  • 1 篇 图像序列预测
  • 1 篇 线性插值
  • 1 篇 多项式回归
  • 1 篇 全场纳米谱学成像

机构

  • 1 篇 上海理工大学
  • 1 篇 中国科学院上海高...
  • 1 篇 中国科学院大学
  • 1 篇 中国科学院上海应...

作者

  • 1 篇 张玲
  • 1 篇 陶芬
  • 1 篇 邢彦军
  • 1 篇 刘一
  • 1 篇 邓彪
  • 1 篇 高若阳

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=全场纳米谱学成像"
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基于多项式回归与线性插值的全场纳米谱学成像背景序列预测
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核技术 2024年 第3期47卷 19-28页
作者： 邢彦军 高若阳 张玲 陶芬 刘一 邓彪 上海理工大学 上海200093 中国科学院上海应用物理研究所 上海201800 中国科学院上海高等研究院上海同步辐射光源 上海201204 中国科学院大学 北京100049
全场纳米谱学成像(TXM-XANES)是将透射X射线显微镜(Transmission X-ray Microscope,TXM)与X射线近边吸收结构(X-ray Absorption Near Edge Structural,XANES)有机结合的成像方法,通过测量感兴趣元素K边前后多个能量点的TXM图像,无损获... 详细信息
来源： 维普期刊数据库 维普期刊数据库 同方期刊数据库 同方期刊数据库 评论
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