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熔压温度对光纤面板抗弯强度的影响

硅酸盐通报 2024年第2期43卷 695-701页

作者：孙勇赵劲凯黄永刚王威王彩丽孔壮宋普光孟凡禹中国建筑材料科学研究总院绿色建筑材料国家重点实验室北京100024

光纤面板在微光夜视、空间探测、核诊断、医学诊疗等领域有着广泛的应用,在使用过程中对强度有一定要求,目前缺少相关研究,本文研究了熔压温度对光纤面板x、y、z三个方向抗弯强度的影响,采用三点弯曲法测试光纤面板的抗弯强度。结果表明... 详细信息

光纤面板在微光夜视、空间探测、核诊断、医学诊疗等领域有着广泛的应用,在使用过程中对强度有一定要求,目前缺少相关研究,本文研究了熔压温度对光纤面板x、y、z三个方向抗弯强度的影响,采用三点弯曲法测试光纤面板的抗弯强度。结果表明:熔压温度为660℃时,二次复丝之间熔合不充分,存在间隙,光纤面板抗弯强度较低,x、y、z方向抗弯强度分别为107、93、114 MPa;熔压温度为670℃时,二次复丝之间间隙消除,但依然存在界面,抗弯强度有所提升,x、y、z方向抗弯强度分别为110、109、125 MPa;熔压温度为680℃时,二次复丝充分熔合,此时光纤面板抗弯强度在x、z方向满足复合材料混合定律,分别为123、127 MPa,y方向芯玻璃作为增强相对皮玻璃起到增强作用,抗弯强度为113 MPa。本文研究对提高光纤面板强度以满足装管和使用需求具有重要意义。

关键词：光纤面板熔压温度抗弯强度混合定律二次复丝界面

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光纤面板及光锥传像特性研究（英文）

红外技术 2014年第8期36卷 617-623页

作者：李晓峰李莉邓华斌张彦云微光夜视技术重点实验室陕西西安710068 北方夜视科技集团有限公司云南昆明650114

测量了光纤面板、光锥、耦合光纤面板以及耦合光锥的光谱透过率和调制传递函数。光谱透过率测量结果表明,光纤面板的光谱透过率与光纤面板的厚度以及入射光的波长有关。光纤面板的厚度越厚,透过率越低。对相同厚度的光纤面板而言,漫射... 详细信息

测量了光纤面板、光锥、耦合光纤面板以及耦合光锥的光谱透过率和调制传递函数。光谱透过率测量结果表明,光纤面板的光谱透过率与光纤面板的厚度以及入射光的波长有关。光纤面板的厚度越厚,透过率越低。对相同厚度的光纤面板而言,漫射光的透过率低于准直光的透过率。原因是漫射光在光纤面板中的传输远距离大于准直光在光纤面板中的传输距离,因此吸收更多。光纤面板除玻璃产生吸收外,玻璃中的稀土元素也会产生杂质吸收。调制传递函数的测量结果表明,光纤面板的调制传递函数不仅与光纤的丝径有关,还与光纤面板的厚度有关,光纤面板的厚度越厚,调制传递函数越低。原因是少部分光线在光纤中传输时会发生串光。光锥与光纤面板相比,光谱透过率和调制传递函数均较低。当光锥与光纤面板耦合后,特别是在漫射光入射条件下,光谱透过率更低。对550 nm的波长而言,透过率仅为11.7%。光锥与光纤面板耦合后,不仅光谱透过率有损失,而且调制传递函数也降低,30l p/mm处的调制传递函数仅为47%。

关键词：光纤面板光锥光谱透过率调制传递函数像增强器

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光纤面板透过率分布检测方法

光学技术 2005年第4期31卷 494-496,499页

作者：邓锦辉高岳北京理工大学信息科学技术学院光电工程系北京100081

通过建立光纤面板图像中的透过率与灰度的对应关系,运用数字图像采集、处理技术和面阵CCD成像技术,设计了用于测量光纤面板透过率分布的实验系统。通过实验给出了该系统的测量结果,并验证了该检测方法的可行性。

关键词：光纤面板 CCD相机数字图像处理透过率图像采集卡

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光纤面板的三环效应和消杂光

红外技术 2017年第8期39卷 751-756页

作者：田金生罗新华何相平云南光学仪器厂云南昆明650114 广州宏晟光电科技公司广东广州510925

在纤维光学中,输入-输出光之间不存在几何光学的共轭关系。当输入为会聚光时,输出光为3个空心圆台,其剖面为3个圆环。这个输入-输出现象被称为三环效应。本文介绍了三环效应的计算公式和它对信号光、杂光的贡献。根据杂光分析提出了端... 详细信息

在纤维光学中,输入-输出光之间不存在几何光学的共轭关系。当输入为会聚光时,输出光为3个空心圆台,其剖面为3个圆环。这个输入-输出现象被称为三环效应。本文介绍了三环效应的计算公式和它对信号光、杂光的贡献。根据杂光分析提出了端面纤皮透过率为零的消杂光新方法。

关键词：光纤面板输入-输出现象三环效应消杂光

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光纤面板传输机理研究(Ⅱ)

中国科学（A辑） 1991年第3期22卷 305-310页

作者：文华沈伟生陶纯堪华东工学院光学系南京210014

本文在文献[1]研究的基础上,建立了光纤面板的结构模型。利用光学信息理论,研究了光纤面板的传输机理。通过分析、计算光纤面板传输的光学信息量,给出了光纤面板传递最大信息量时的最佳结构参数和扩散参量。

关键词：元光纤光纤面板传输结构参数

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传像光纤、光纤面板及光锥制造新方法探索

光子学报 2009年第11期38卷 2913-2916页

作者：孔德鹏王丽莉中国科学院西安光学精密机械研究所瞬态光学与光子技术国家重点实验室西安710119

利用高折射率光纤填充微结构预制棒孔洞的方法,制造直径70mm、长度200mm的大尺寸传像光纤预制棒,像素数为547.为提高传像元件的像素数,将预制棒先拉伸成直径约为30mm的二次预制棒,通过切削、并熔后拉伸,得到像素数为3829的传像微结构光... 详细信息

利用高折射率光纤填充微结构预制棒孔洞的方法,制造直径70mm、长度200mm的大尺寸传像光纤预制棒,像素数为547.为提高传像元件的像素数,将预制棒先拉伸成直径约为30mm的二次预制棒,通过切削、并熔后拉伸,得到像素数为3829的传像微结构光纤及其面板和光锥,其理论数值孔径为0.55.经初步测试发现,其传像效果良好.此方法利用微结构光纤技术制造传像光纤、面板和光锥,简单易行,成本低,能有效提高像素数,有望成为规模化制造高分辨率、高质量传像元件的新方法.

关键词：微结构传像光纤光纤面板光锥规模化制造

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光纤面板传输机理研究(Ⅰ)

中国科学（A辑） 1990年第7期21卷 777-784页

作者：陶纯堪沈伟生华东工学院光学系南京210014

光纤面板中元光纤是传递光信息的信道,元光纤特性对信息量传输有很大影响.本文建立了扩散型元光纤的物理模型——“三层结构光纤”,引入“过渡层模”的概念,推导出导模与过渡层模传输的本征方程,定义了元光纤传输效率与串光的表达式,并... 详细信息

光纤面板中元光纤是传递光信息的信道,元光纤特性对信息量传输有很大影响.本文建立了扩散型元光纤的物理模型——“三层结构光纤”,引入“过渡层模”的概念,推导出导模与过渡层模传输的本征方程,定义了元光纤传输效率与串光的表达式,并就几个低次模式计算了各种扩散情形、结构设计参数下的传输效率.结果表明:扩散过渡层的存在是影响光纤有效传输、造成串光的重要因素.

关键词：光纤面板光纤光信息传输

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光纤面板传像暗影的自动检测

光纤面板传像暗影的自动检测

作者：吴云大庆石油学院

学位级别：硕士

光纤面板具有很高的集光能力和分辨率,是光电成像器件不可缺少的元件之一。由于光纤面板存在的各种缺陷对其传像质量有很大的影响,因此,针对这些缺陷开发相应的检测系统是很有必要的。目前,光纤面板传像质量已成为一重要的研究方向,已... 详细信息

光纤面板具有很高的集光能力和分辨率,是光电成像器件不可缺少的元件之一。由于光纤面板存在的各种缺陷对其传像质量有很大的影响,因此,针对这些缺陷开发相应的检测系统是很有必要的。目前,光纤面板传像质量已成为一重要的研究方向,已经有研究人员对光纤面板的几种缺陷进行了研究,并开发了相应的检测系统。但暗影缺陷的研究仍为空白,目前国内对光纤面板暗影的检测方法仍然是使用大型投影仪进行检测。因此,本文通过对暗影缺陷进行研究,在VC++6.0开发环境中设计并实现了光纤面板暗影缺陷检测系统,并通过改进算法,最终实现光纤面板暗影检测的优化。本文首先提出了采用图像边缘检测的方法进行暗影检测,通过大量实验,确定暗影边缘检测的最优算子Canny算子,并确定其最佳参数。然后,针对Canny算子的检测结果,分析其缺陷,提出了对Canny算子的改进方法:将小波去噪方法嵌入到Canny算子中替代原Canny算子的高斯滤波部分,改进了Canny算子的去噪效果,并实现了同时去除加性噪声和乘性噪声;提出了利用改进的OTSU算法实现Canny算子阈值的自适应确定。实验结果表明,本文提出的Canny算子的改进方法是有效可行的。最后,针对改进后Canny算子的检测结果,提出了采用数学形态学等方法对其进行进一步优化,最终得到了光纤面板暗影边缘检测的最优结果,此部分的优化处理使暗影边缘检测结果达到闭合单像素级别,为后续暗影标识方面的研究工作打下了基础。本文设计的光纤面板暗影检测系统能够实现暗影的自动检测及优化,检测精度较高,适应性较强,具有一定的应用价值。另外,本文也为光纤面板传像质量的进一步研究提供了一定的理论依据。

关键词：光纤面板暗影小波去噪自适应阈值数学形态学

光纤面板透光图像的自动采集及缺陷的自动定位

同方学位论文库评论

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同方学位论文库

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光纤面板透光图像的自动采集及缺陷的自动定位

作者：杨红梅东北石油大学

学位级别：硕士

光纤面板是近些年提出的一个新兴的光子元件。由于其具有很高的分辨率和集光能力等特点,已成为光电成像器件及系统不可缺少的重要组成部分。然而由于在光纤面板的制造过程中各种不可控因素的影响,使得光纤面板存在各种缺陷,因此对这些... 详细信息

光纤面板是近些年提出的一个新兴的光子元件。由于其具有很高的分辨率和集光能力等特点,已成为光电成像器件及系统不可缺少的重要组成部分。然而由于在光纤面板的制造过程中各种不可控因素的影响,使得光纤面板存在各种缺陷,因此对这些缺陷的检测就将具有很高的现实意义。随着光纤面板应用的越来越广泛,对其性能也提出了越来越高的要求,因此,对其存在的各种缺陷进行定量、快速和高精度检测就显得十分必要和紧迫,本课题就是在此方面而开展的部分研究工作。首先通过研究光纤面板存在的各种缺陷的特点,在国标对各种缺陷的检测方法的基础上提出了采用透光图像边缘检测的方法进行缺陷检测。通过大量实验确定缺陷边缘检测的最优算子采用改进后的Canny算子。然后针对图像采集系统的各部件确定了透光图像的最终自动采集方法及流程,并完成了系统的组装、调试。实验表明,所用到的采集系统各部件的性能指标在图片采集处理中能够满足测试要求,该采集系统是切实可行的。最后,提出了利用数学形态学等方法对采集的图像进行进一步优化处理,得到了光纤面板透光图像的最优边缘检测结果,并初步实现了缺陷的自动定位。本文设计的光纤面板透光图像自动采集及缺陷自动定位系统能够实现透光图像的自动采集、缺陷的自动定位,有较高的检测精度和较强的适应能力,具有一定的应用价值,也为光纤面板传像质量的提高提供了科学的理论依据。

关键词：光纤面板缺陷 Canny算子图像采集系统边缘优化