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Towards full repair of defects in reduced graphene oxide films by two-step graphitization

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Nano Research 2013年第3期6卷 216-233页

作者： Ruben Rozada Juan I, Paredes Silvia Villar-Rodil Amelia Marlinez-Alonso Juan M. D. Tascon Instituto Nacional del Carbon INCAR-CSIC Apartado 73 33080 Oviedo Spain

The complete restoration of a perfect carbon lattice has been a central issue in the research on graphene derived from graphite oxide since this preparation route was first proposed several years ago, but such a goal has so far remained elusive. Here, we demonstrate that the highly defective structure of reduced graphene oxide sheets assembled into free-standing, paper-like films can be fully repaired by means of high temperature annealing (graphitization). Characterization of the films by X-ray photoelectron and Raman spectroscopy, X-ray diffraction and scanning tunneling microscopy indicated that the main stages in the transformation of the films were (i) complete removal of oxygen functional groups and generation of atomic vacancies (up to 1,500 °C), and (ii) vacancy annihilation and coalescence of adjacent overlapping sheets to yield continuous polycrystalline layers (1,800–2,700 °C) similar to those of highly oriented graphites. The prevailing type of defect in the polycrystalline layers were the grain boundaries separating neighboring domains, which were typically a few hundred nanometers in lateral size, exhibited long-range graphitic order and were virtually free of even atomic-sized defects. The electrical conductivity of the annealed films was as high as 577,000 S·m−1, which is by far the largest value reported to date for any material derived from graphene oxide, and strategies for further improvement without the need to resort to higher annealing temperatures are suggested. Overall, this work opens the prospect of truly achieving a complete restoration of the carbon lattice in graphene oxide materials.

关键词：氧化石墨薄膜结构缺陷类型修复 X-射线衍射扫描隧道显微镜光电子能谱仪高温退火

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表面分析仪器基本原理

国外科学仪器 1985年第5期 41-49页

作者：王当憨中国科学院化学研究所

一、前言表面科学中的所谓'表面',是指固体表面的1—10个原子厚的薄层(10～100(?))。这一薄层除受到自身本体原子的作用外,还受到外界环境的影响,结果使得表面最外层原子的结构、成分、形貌和性质与本体原子的有所不同。因此,对其进行研... 详细信息

一、前言表面科学中的所谓'表面',是指固体表面的1—10个原子厚的薄层(10～100(?))。这一薄层除受到自身本体原子的作用外,还受到外界环境的影响,结果使得表面最外层原子的结构、成分、形貌和性质与本体原子的有所不同。因此,对其进行研究,可得到有关表面吸附、表面扩散、表面摩擦、表面活化、表面钝化及催化作用等方面的信息。

关键词：光电子能谱仪离子能谱光子玻色子电子结合能表面分析方法入射电子表面分析仪器 XPS 表面相固体表面

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紫外、深紫外非线性光学晶体的最新研究进展

功能材料信息 2005年第3期2卷 3-11页

作者：陈创天林哲帅王志中中国科学院理化技术研究所北京100080

深紫外相干光源对于光刻技术、光电子能谱仪、激光精密机械加工等均具有十分重要的意义。本文系统地阐述了可产生深紫外谐波光输出的非线性光学晶体的发现、基本线性、非线性光学性质,以及用它产生深紫外谐波光的方法。最后简介了深紫... 详细信息

深紫外相干光源对于光刻技术、光电子能谱仪、激光精密机械加工等均具有十分重要的意义。本文系统地阐述了可产生深紫外谐波光输出的非线性光学晶体的发现、基本线性、非线性光学性质,以及用它产生深紫外谐波光的方法。最后简介了深紫外谐波光的几个实例。

关键词：非线性光学晶体深紫外研究进展非线性光学性质光电子能谱仪精密机械加工光刻技术相干光源光输出谐波激光

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化学腐蚀对锑化铟表面的影响

红外与毫米波学报 1984年第2期9卷 111-116页

作者：于福聚张月琴中国科学院上海技术物理研究所

测量与分析表明,锑化铟晶片的表面状况与化学腐蚀密切相关,起因于腐蚀液对表面的择优腐蚀及氧化。讨论了制备高性能器件的合理腐蚀步骤。

关键词：晶片俄歇电子带电粒子化学腐蚀光电子能谱仪锑化物锑化铟腐蚀液

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界面分析技术的发展及其在钢铁材料研究中的应用

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材料开发与应用 1981年第5期 1-12页

作者：井上泰吴誉兰

一、前言钢铁材料由于含有各种不同的夹杂物,因而是不均匀的,这种夹杂物改变了钢铁材料的各种性能。随着对各种杂质研究技术的发展,材料也就得到了发展。例如:利用内耗的观察方法,明确了动态铁的机理,这种方法有助于对非时效钢板的研究... 详细信息

一、前言钢铁材料由于含有各种不同的夹杂物,因而是不均匀的,这种夹杂物改变了钢铁材料的各种性能。随着对各种杂质研究技术的发展,材料也就得到了发展。例如:利用内耗的观察方法,明确了动态铁的机理,这种方法有助于对非时效钢板的研究。利用x射线极象图法,明确了结晶方位和织构的问题,对电磁钢板和深冲用钢板的发展起了重要作用。对块状夹杂物,利用电子显微镜和显微分析器就可以仔细观察到。这些都是无疑

关键词：界面分析偏析杂质元素 Cr 铸件缺陷光电子能谱仪钢铁材料离子探针分析俄歇电子能谱分析

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应用XPS研究碘化铯光阴极的热稳定性

光电子技术 1993年第3期13卷 54-59页

作者：谈凯声潘智勇刘风琴中国科学院电子学研究所中国科学院高能物理研究所

本文应用XPS(X射线光电子能谱仪)研究了真空烘烤对碘化铯光阴极化学状态的影响。实验结果表明在高真空环境中,碘化铯光阴极在低于180℃的烘烤条件下即以缓慢的速率升华,但是,它的化学状态是稳定的。而在高于180℃的烘烤条件下,它的化学... 详细信息

本文应用XPS(X射线光电子能谱仪)研究了真空烘烤对碘化铯光阴极化学状态的影响。实验结果表明在高真空环境中,碘化铯光阴极在低于180℃的烘烤条件下即以缓慢的速率升华,但是,它的化学状态是稳定的。而在高于180℃的烘烤条件下,它的化学状态将发生变化。

关键词：光电子能谱仪碘化铯光阴极热稳定

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矿用高稳定性瓦斯检测元件的研究——抗积碳载体催化元件

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中国矿业大学学报 1984年第3期 4-14页

作者：王汝琳姚承三指导教师

本文利用XPS光电子能谱分析和电子显微镜观察分析,研究了载体催化元件输出活性波动的各种可能原因,确定了其主要原因是催化剂表面积碳。通过理论分析和试验,提出了抗积碳性能良好的流动态钾复合催化剂,总结出性能最佳的催化剂配方和制... 详细信息

本文利用XPS光电子能谱分析和电子显微镜观察分析,研究了载体催化元件输出活性波动的各种可能原因,确定了其主要原因是催化剂表面积碳。通过理论分析和试验,提出了抗积碳性能良好的流动态钾复合催化剂,总结出性能最佳的催化剂配方和制造工艺。从而大幅度提高了元件的稳定性,延长了使用寿命。

关键词：抗积碳催化剂载体催化元件表面积光电子能谱仪活性变化晶面面(晶体) 晶种主要原因 XPS 检测元件电子元件瓦斯矿用

四类选区XPS(SAXPS):分类方法的研究及与其它技术的比较

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现代科学仪器 1985年第6期 8-15+7页

作者： I.W.DRUMMOND T.A.COOPER F.J.STREET 刘汉林

本文描述了四类使 XPS 可选择面积小于1mm2的基本方法。在这四类中每一类还往往包含几种方法。对每一种都做了简单的介绍,并给出了某些方面的信息理论。某些方法直接适用于微区分析,而另外一些则需依靠样品的移动。文中对 SAXPS 的优缺... 详细信息

本文描述了四类使 XPS 可选择面积小于1mm2的基本方法。在这四类中每一类还往往包含几种方法。对每一种都做了简单的介绍,并给出了某些方面的信息理论。某些方法直接适用于微区分析,而另外一些则需依靠样品的移动。文中对 SAXPS 的优缺点与其它微分析一扫描俄歇微分析和离子微束二次离子质谱做了比较,以表的形式列出来。

关键词：光电子能谱仪射线束 SAXPS 显微镜实验设备射线源能量分析器射线辐照束流传输系统选区晶体光子数立体角透镜象差离子束粒子束

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光学仪器 2005年第6期 7-7页