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日期分布

学科分类号

  • 1 篇 工学
    • 1 篇 仪器科学与技术
    • 1 篇 控制科学与工程
    • 1 篇 计算机科学与技术...

主题

  • 1 篇 复杂形貌
  • 1 篇 深孔
  • 1 篇 亚像素
  • 1 篇 光切测量

机构

  • 1 篇 清华大学
  • 1 篇 北京理工大学

作者

  • 1 篇 徐春广
  • 1 篇 郑军
  • 1 篇 施克仁
  • 1 篇 张伟

语言

  • 1 篇 中文
检索条件"主题词=光切测量"
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环形光切测量法的亚像素技术
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机械工程学报 2005年 第11期41卷 228-233页
作者： 郑军 张伟 施克仁 徐春广 清华大学先进成形制造重点实验室 北京100084 北京理工大学机械与车辆工程学院 北京100081
针对深孔内膛的检测,对环形光切的测量方法进行了介绍,对其测量原理进行了分析。为了提高断面形廓的检测精度并消除CCD的量化误差、饱和误差、激光的不均匀误差和“散斑”噪声等误差和噪声对检测结果的影响,提出了一种亚像素检测技术,... 详细信息
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