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主题

  • 1 篇 分子束外延(mbe)
  • 1 篇 折射率
  • 1 篇 偏振光椭圆率测量...
  • 1 篇 znmgo薄膜

机构

  • 1 篇 北京交通大学
  • 1 篇 new material res...
  • 1 篇 bio venture cent...
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作者

  • 1 篇 尾形健一
  • 1 篇 佐佐诚彦
  • 1 篇 井上正崇
  • 1 篇 王琳
  • 1 篇 简水生
  • 1 篇 李一凡
  • 1 篇 龚桃荣
  • 1 篇 小池一步
  • 1 篇 延凤平
  • 1 篇 郑凯
  • 1 篇 矢野满明

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检索条件"主题词=偏振光椭圆率测量仪"
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分子束外延法在Sapphire衬底上生长的Zn_(1-x)Mg_xO薄膜折射率及厚度的测试
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物理学报 2007年 第7期56卷 4127-4131页
作者： 延凤平 郑凯 王琳 李一凡 龚桃荣 简水生 尾形健一 小池一步 佐佐诚彦 井上正崇 矢野满明 北京交通大学光波技术研究所 北京100044 Bio Venture Center Osaka Institute of Technology New Material Research Center Osaka Institute of Technology New Material Research Center Osaka Institute of TechnologyBio Venture CenterOsaka Institute of Technology
利用偏振光椭圆率测量仪对分子束外延(MBE)法在Sapphire衬底上生长的Zn1-xMgxO薄膜的薄膜折射率和厚度进行了测试.结合ICP法测得的薄膜中的Mg组成量,经数值拟合,导出表征薄膜厚度与薄膜生长条件、薄膜折射率与薄膜中的Mg组成量之间关系... 详细信息
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