检索结果-南通市图书馆

微电子学与计算机 1995年第1期12卷 8-10页

作者：樊勇向东魏道政北京中科院计算所CAD室

本文提出了一种改进的加权平均算法ＩＷＡＡ，针对加权平均算法ＷＡＡ，ＩＷＡＡ引入了最小重汇聚扇出源ＭＲＦＳ的概念，用于信号概率的计算，并取得了较为理想的结果。

关键词：计算方法信号概率加权平均算法

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

一种改进的组合电路信号概率加权平均算法

电子测量与仪器学报 1995年第1期9卷 33-37页

作者：樊勇向东魏道政中科院计算所CAD室北京100080

本文提出了一种改进的加权平均算法IWAA，针对加权平均算法WAA，IWAA引入了最小重汇聚扇出源MRFS的概念，用于信号概率的计算，并取得了较为理想的结果。

关键词：信号概率可测性分析加权平衡组合电路

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

基于概率表达式的MPRM电路功耗计算方法

电子学报 2018年第12期46卷 3060-3067页

作者：卜登立井冈山大学电子与信息工程学院江西吉安343009 流域生态与地理环境监测国家测绘地理信息局重点实验室江西吉安343009

采用基于信号概率的功耗计算模型进行MPRM(Mixed Polarity Reed-Muller)电路功耗优化,信号概率计算是功耗计算的关键.提出一种基于概率表达式的MPRM电路功耗计算方法.该方法兼顾信号概率计算的时间效率和准确性,对MPRM电路中不存在空间... 详细信息

采用基于信号概率的功耗计算模型进行MPRM(Mixed Polarity Reed-Muller)电路功耗优化,信号概率计算是功耗计算的关键.提出一种基于概率表达式的MPRM电路功耗计算方法.该方法兼顾信号概率计算的时间效率和准确性,对MPRM电路中不存在空间相关性的信号通过在电路中传播信号概率的方式计算其信号概率,存在空间相关性的信号则利用概率表达式计算其信号概率,并在电路中传播概率表达式以解决空间相关性问题,在此基础之上根据基于信号概率建立的解析动态功耗和静态功耗计算模型计算电路功耗.为进一步提高时间效率,该方法采用二元矩图表示概率表达式.使用基准电路对所提出方法进行了验证,并与其他采用不同信号概率计算方法的MPRM电路功耗计算方法进行了比较.结果表明所提出方法准确有效.

关键词： MPRM电路功耗计算信号概率空间相关概率表达式二元矩图

考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

计算机辅助设计与图形学学报 2016年第3期28卷 505-512页

作者：梁华国袁德冉闫爱斌黄正峰合肥工业大学电子科学与应用物理学院合肥230009 合肥工业大学计算机与信息学院合肥230009

为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿... 详细信息

为了准确评估电路的失效概率,提出一种考虑单粒子多瞬态(SEMT)的数字电路失效概率评估方法.该方法通过解析电路门级网表提取SEMT故障位置对;使用双指数电流源模型模拟故障注入,通过SEMT脉冲复合模型将SEMT脉冲转化为复合的SET脉冲并沿数据通路向下游传播;在脉冲传播过程中,使用SEMT脉冲屏蔽模型评估逻辑屏蔽、电气屏蔽与时窗屏蔽效应,使用电路失效概率计算方法得到电路总体失效概率.实验结果表明,与同类方法相比,文中方法计算结果更为精确;与基于统计的蒙特卡罗方法相比,该方法的相对误差仅为2%,能够有效地指导集成电路容错设计.

关键词：失效概率软错误单粒子多瞬态信号概率

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

信号检测论的应用

心理科学通讯 1989年第5期12卷 44-49页

作者：杨治良华东师大心理学系

信号检测论(Signal Detection Theory,简称SDT)是信息论的一个分支,其研究对象是信号传输系统中信号的接收部分。它最早用于通讯工程中,即借助于数学的形式描述“接收者”在噪声背景中信号的接收问题。1954年密西根大学的*** 和*** 等... 详细信息

信号检测论(Signal Detection Theory,简称SDT)是信息论的一个分支,其研究对象是信号传输系统中信号的接收部分。它最早用于通讯工程中,即借助于数学的形式描述“接收者”在噪声背景中信号的接收问题。1954年密西根大学的*** 和*** 等人首先将SDT 应用于感知觉研究。目前,SDT 作为一种新的心理物理学方法正广泛地应用于心理学研究的各个领域。

关键词：操作者研究对象信号检测论心理物理学方法严重后果假信号敏感性反应倾向信号概率高水平

Reed-Muller逻辑电路的功耗估算技术

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

浙江大学学报（理学版） 2008年第5期35卷 526-529页

作者：叶锡恩干雪夏银水宁波大学电路与系统研究所浙江宁波315211

提出了一种Reed-Muller(RM)逻辑电路的功耗估算方法.将多输入AND/XOR门分解成由2输入AND/XOR门构成的树,采用信号的跳变密度和信号概率来计算内部节点信号的开关活动率,从而实现电路的功耗估算.实验结果表明:该方法得到的估算结果与电... 详细信息

提出了一种Reed-Muller(RM)逻辑电路的功耗估算方法.将多输入AND/XOR门分解成由2输入AND/XOR门构成的树,采用信号的跳变密度和信号概率来计算内部节点信号的开关活动率,从而实现电路的功耗估算.实验结果表明:该方法得到的估算结果与电路实际功耗二者之间具有良好的线性关系.

关键词： Reed—Muller逻辑功耗估算信号概率跳变密度

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

基于ROBDD的电路功耗估算方法

计算机工程 2016年第12期42卷 78-83页

作者：厉琼莹夏银水张骏立宁波大学电路与系统研究所浙江宁波315211

概率功耗估算方法和条件概率功耗估算方法估算的功耗作为优化的成本函数时,由于方法本身的局限性或忽略了电路节点特点会降低估算结果的准确度,从而影响功耗优化结果。针对上述问题,提出一种新的电路功耗估算方法。该方法采用信号概率... 详细信息

概率功耗估算方法和条件概率功耗估算方法估算的功耗作为优化的成本函数时,由于方法本身的局限性或忽略了电路节点特点会降低估算结果的准确度,从而影响功耗优化结果。针对上述问题,提出一种新的电路功耗估算方法。该方法采用信号概率和跳变密度,并根据约简的有序二叉决策图(ROBDD)表示逻辑函数的特点,对ROBDD节点特征分类,从而对电路进行功耗估算。实验结果表明,该方法能够较好地预测电路的功耗,且功耗估算的精度优于概率估算方法和条件概率估算方法。

关键词：功耗估算信号概率乘积和开关活动性动态功耗

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

CMOS数字电路功耗分析及其应用

微电子学 1998年第6期28卷 401-406页

作者：朱宁周润德羊性滋清华大学微电子学研究所

讨论了有关ＣＭＯＳ数字电路的功耗分析和低功耗逻辑综合的一些方法。研究了信号的翻转概率与信号概率之间的关系，并由此得到信号翻转次数的表达式。然后讨论了使平均功耗最优的组合逻辑电路优化中的一些方法。最后，提出了两个用于低... 详细信息

讨论了有关ＣＭＯＳ数字电路的功耗分析和低功耗逻辑综合的一些方法。研究了信号的翻转概率与信号概率之间的关系，并由此得到信号翻转次数的表达式。然后讨论了使平均功耗最优的组合逻辑电路优化中的一些方法。最后，提出了两个用于低功耗逻辑综合的基本定理。

关键词：逻辑综合信号概率 CMOS 数字电路 IC

在线全文

学校读者我要写书评

暂无评论

纳米数字电路软错误率分析关键技术研究

纳米数字电路软错误率分析关键技术研究

作者：袁德冉合肥工业大学

学位级别：硕士

半导体制造技术的持续发展,使得如今的纳米尺寸集成电路中晶体管尺寸、供电电压和关键电荷持续减小,由于集成电路已广泛应用于生产生活中,因此对由空间辐射效应引发的集成电路可靠性问题提出严峻的挑战。纳米尺度下,芯片规模指数级增长... 详细信息

半导体制造技术的持续发展,使得如今的纳米尺寸集成电路中晶体管尺寸、供电电压和关键电荷持续减小,由于集成电路已广泛应用于生产生活中,因此对由空间辐射效应引发的集成电路可靠性问题提出严峻的挑战。纳米尺度下,芯片规模指数级增长,晶体管对中子和高能粒子辐射更加敏感,芯片遭受软错误影响的机率也大幅提高,高能粒子入射可能同时影响两个或多个物理相连的节点,产生单粒子多瞬态(single event multiple transients, SEMT),由SEMT导致的电路失效也变得愈发不可忽视,软错误已成为导致集成电路失效的重要原因之一。为了有效评估辐照环境中不同电路对软错误的敏感程度,本文针对纳米工艺集成电路的软错误率分析技术进行研究,基于概率计算方法,提出一种考虑SEMT的数字电路软错误率评估方法,能够有效指导集成电路容错设计,降低集成电路设计成本。主要研究内容与创新点如下：1、详细介绍了软错误的相关概念、电路可靠性影响因素与本文研究成果。并对软错误的产生原理、传播特性以及不同的计算方法进行了详尽地分析。重点阐述了考虑SET或SEMT的数字电路软错误率评估技术,并分析了各方法的优缺点。深入学习了位于逻辑门级的集成电路中软错误的产生与传播特性。在现有的软错误率评估技术基础上,实现了一种考虑SEMT的数字电路软错误率评估方法。2、针对基于输入向量的电路软错误率评估方法存在向量空间不完备,评估速度较慢的问题,实现一种基于概率的数字电路软错误率评估模型。使用“四值逻辑”与信号概率对SEMT脉冲的产生与传播过程进行精确的建模,有效地减少了计算复杂度,提高了软错误率(soft error rate, SER)评估速度。3、面对集成电路在生产生活中的广泛应用性,集成电路的可靠性问题已变得愈加不容忽视。为了有效评估集成电路的软错误率,提出一种精确的考虑SEMT的数字电路软错误率计算方法。该方法通过解析电路门级网表提取产生SEMT故障的位置对;使用双指数电流源模型模拟粒子轰击电路的过程进行故障注入,利用提出的SEMT脉冲复合模型对SEMT脉冲进行复合以转变为复合的SET脉冲,并将该复合脉冲继续向下游传播;在脉冲的传播过程中,使用SEMT脉冲屏蔽模型对脉冲在数据通路上传播过程中受到的逻辑屏蔽、电气屏蔽与时窗屏蔽效应进行评估,当脉冲最终传播至电路输出端时使用提出的SER计算方法评估电路总体软错误率。实验结果表明,与同类方法相比,本文方法更为精确;与基于统计的蒙特卡罗方法相比,相对误差仅为2%,因而能够有效地指导集成电路容错设计。

关键词：单粒子多瞬态软错误率失效概率信号概率单粒子瞬态

同方学位论文库评论

在线全文

同方学位论文库

学校读者我要写书评

暂无评论

门级电路可靠性评估方法比较

上海电力学院学报 2014年第2期30卷 155-160页

作者：王真上海电力学院计算机科学与技术学院上海200090

针对软差错影响下的电路可靠性问题,选取了TP算法、EPP方法和PTM方法 3种门级电路可靠性评估方法,分别介绍其原理,并结合实验指出了它们的功能、适用范围以及复杂度.

关键词：电路可靠性软差错门级信号概率