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波片位相延迟的精确测量

激光杂志 1990年第4期11卷 178-180页

作者：宋连科李艺林长春曲阜师范大学激光研究所

电光调制波用于波片位相延迟的精确测量,文中给出了其测量原理,并从偏光干涉角度对其进行了详细理论分析。对可能遇到的问题作了说明,作为实际应用,文中给出了一组任意波片的测试结果,对其进行了误差分析。

关键词：波片位相延迟测量电光调制

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波片位相延迟测量的双λ/4波片法

激光技术 2007年第6期31卷 663-664,583页

作者：王兰李国华孔超贾朋曲阜师范大学激光研究所曲阜273165

在对波片延迟量的测量中常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差,为了避开光源强度起伏的影响,提高系统的测量精度,减小测量误差,用两个标准λ/4波片与待测波片组合,使其满足一定条件等效为旋光器,搭建了一套测量系统,用角度测量... 详细信息

在对波片延迟量的测量中常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差,为了避开光源强度起伏的影响,提高系统的测量精度,减小测量误差,用两个标准λ/4波片与待测波片组合,使其满足一定条件等效为旋光器,搭建了一套测量系统,用角度测量替代对光强的直接测量。实验结果表明,该系统可有效避免光源强度起伏对测量结果的影响,测量精度可达0.5°。与传统测量方法相比,该测量系统具有构造简单,不受光源起伏影响,以及测量精度高等特点,是一种便捷有效的测量方法。

关键词：激光技术偏振光波片位相延迟

大功率CO_2激光器薄膜λ/4波片的制备及薄膜位相延迟的初步研究

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光学机械 1991年第2期 47-51页

作者：初国强

作为光束均值器,λ/4波片是大功率CO_2激光加工机中的关键部件。多层膜反射镜(包括内反射和外反射),在倾斜入射时,两个偏振分量会产生不同的相移,因此可用计算机优化设计出特定位相差的膜系。本文的目的是设计10.6μm的90°相位膜,它的... 详细信息

作为光束均值器,λ/4波片是大功率CO_2激光加工机中的关键部件。多层膜反射镜(包括内反射和外反射),在倾斜入射时,两个偏振分量会产生不同的相移,因此可用计算机优化设计出特定位相差的膜系。本文的目的是设计10.6μm的90°相位膜,它的作用就象四分之一波片。与传统的波片相比,它的优点是可以适用于任何波长,具有高的位相精度和大的孔径。文中提出了两种设计方法,并报告了制备技术、实验结果及误差分析。

关键词：激光器波片薄膜位相延迟

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几种波片位相延迟测量方法的比较

光学精密工程 2007年第11期15卷 1678-1685页

作者：张志勇邓元勇王东光孙英姿玄伟佳中国科学院国家天文台北京100012

建立了用于波片位相延迟测量的高精度多功能测试系统,实现了在同一测试系统上应用不同的测试方法,使测试具有可比性。对光谱扫描法、Soleil补偿器法及两种光强法进行了比较测量,并结合测试结果对各种方法进行了系统的误差分析。分析结... 详细信息

建立了用于波片位相延迟测量的高精度多功能测试系统,实现了在同一测试系统上应用不同的测试方法,使测试具有可比性。对光谱扫描法、Soleil补偿器法及两种光强法进行了比较测量,并结合测试结果对各种方法进行了系统的误差分析。分析结果表明,对本测试系统而言,光谱扫描法适于测量λ/2波片,测量精度主要由单色仪的精度所决定,其误差延迟量有关,且测试光路与偏振器的缺陷对测量精度影响较大。光谱扫描法与Soleil补偿器法测量λ/2波片的结果在误差范围内相符,光强法测量结果产生较大差异的原因来自光路、偏振器及方法本身的缺陷。实验结果为不同条件下选择最佳测量方法提供了参考依据。

关键词：应用光学波片位相延迟误差分析

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旋光法测量波片位相延迟量

曲阜师范大学学报（自然科学版） 2007年第4期33卷 65-67页

作者：王兰宋连科王葱敏曲阜师范大学激光研究所山东省曲阜市273165

在对波片延迟量的测量中常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差.为了避开光源强度起伏的影响,提高系统的测量精度,减小测量误差,作者用两个标准λ/4波片与待测波片组合,使其满足一定条件等效为旋光器,搭建了一套测量系统,用角度... 详细信息

在对波片延迟量的测量中常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差.为了避开光源强度起伏的影响,提高系统的测量精度,减小测量误差,作者用两个标准λ/4波片与待测波片组合,使其满足一定条件等效为旋光器,搭建了一套测量系统,用角度测量替代对光强的直接测量.实验表明,该系统可有效避免光源强度起伏对测量结果的影响,测量精度可达0.5°.与传统测量方法相比,该测量系统具有构造简单,不受光源起伏影响,以及测量精度高等特点,是一种便捷有效的测量方法.

关键词：激光技术偏振光波片位相延迟

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介绍一种测量波长片位相延迟角的方法

物理实验 1988年第4期 153-155页

作者：让庆澜北京大学物理系

在偏振光实验中,以及在其他许多场合,广泛用到波长片。为了证实得到的波长片的可靠性,需要测量其位相延迟角δ。下面介绍我们所采用的一种测量方法。一、测量位相延迟角δ的绝对值的方法 (1) 实验装置如图1所示。

关键词：波长片振动方向电矢量分量检偏器线偏振光起偏器位相延迟

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波片位相延迟的精确测量

曲阜师范大学学报（自然科学版） 1991年第1期17卷 69-71页

作者：李国华宋连科李艺林长春曲阜师范大学激光研究所

作为一种精确的测量方法:电光调制补偿法。文中给出了测量原理和详细理论分析。对可能遇到的问題作了说明,作为实际应用,文中给出了一组任意波片的测试结果并对其进行了误差分析。

关键词：波片位相延迟电光调制补偿

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波晶片位相延迟的测量研究

芜湖联合大学学报 1997年第3期 13-15页

作者：陈弋兰王焕宝芜湖市第九中学 241000 芜湖职业技术学院 241001

以1/2入波晶片为例,研究偏振光垂直入射到波晶片上所产生的位相延迟与出射光光强极大和极小(消光)的关系,并对实际测量进行讨论。

关键词：波晶片位相延迟测量

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薄膜位相延迟器的研究

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