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作者

  • 1 篇 f. o. amulaka
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  • 1 篇 j. n. maling’a

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  • 1 篇 英文
检索条件"主题词=“Ug99”"
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Yield Evaluation of a Wheat Line with Combined Resistance to Russian Wheat Aphid and Stem Rust Race “ug99” in Kenya
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American Journal of Plant Sciences 2013年 第7期4卷 1494-1499页
作者: F. O. Amulaka J. N. Maling’a R. S. Pathak M. Cakir R. M. S. Mulwa Egerton University Department of Crops Horticulture and Soils Egerton Kenya Egerton University Department of Crops Horticulture and Soils Egerton Kenya Kenya Agricultural Research Institute (KARI) Njoro Kenya. Murdoch University Perth Australia
InKenya, Russian wheat aphid (RWA) and stem rust race TTKS (“ug99”) are the most devastating pests of wheat. Severe infestations by RWA result in yield losses of up to 90% while epidemics of “ug99”can cause up to ... 详细信息
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